下载压接器件的可靠性测试方法、装置、设备以及存储介质的技术资料

文档序号:40560233

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本发明公开了一种压接器件的可靠性测试方法、装置、设备以及存储介质,所述方法包括:获取待测试压接器件的电压、电流以及开关频率的时变数据;获取每个芯片子模组所承受的电‑热‑力分布情况;确定薄弱芯片子模组的电‑热‑力分布情况;建立单芯片子模组对应...
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