分区域光谱芯片的光强信息提取方法技术

技术编号:40551312 阅读:28 留言:0更新日期:2024-03-05 19:10
本发明专利技术提供一种分区域光谱芯片的光强信息提取方法,其中所述光强提取方法包括如下步骤:确定待识别物的纹理方向;根据纹理方向确定相关的普通像素集;基于选择的普通像素集的测量值优化对应的结构像素的测量值,以得到所述结构像素的优化测量值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱信息,尤其涉及一种分区域光谱芯片的光强信息提取方法


技术介绍

1、随着科技与经济的发展,成像模组的应用越来越广,例如摄影摄像、图像识别、机器视觉等方面。目前用以成像模组的传感器主要为cmos芯片、ccd芯片等,可以用以获取rgb图像,传统的成像模组存在固有的缺陷,一方面现有成像模组覆盖可见光波段,容易受到外界可见光的影响,一方面成像模组因为只有r、g、b三个通道,所以缺乏光谱细节的信息,也就是说成像模组可能不能真实反映入射光线的信息,容易在成像时出现偏差。

2、光谱是物质的指纹,光谱信息包含入射光在各个波长上的能量信息,相比现有成像模组,包含信息更多且更加准确。因此,基于光谱芯片的光谱模组逐渐出现在人们视野,如何有效、高效利用光谱芯片,用以获取更准确的信息,成为需要解决的问题。

3、随着计算机技术的发展,最近几年出现了一种新的光谱仪类型:计算重建型光谱仪,其通过计算来近似甚至重构入射光的光谱。计算重构型光谱仪可以相对较佳地解决因小型化而导致检测性能下降的问题。通过光谱芯片对指纹拍照既要有比较清晰的图像,又想获取光本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种分区域光谱芯片的光强信息提取方法,其特征在于,其中所述光强提取方法包括:

2.根据权利要求1所述的光强信息提取方法,其中在所述步骤S1中,采取梯度算法计算光谱芯片的局部亮度梯度,垂直于梯度方向的方向为纹理方向。

3.根据权利要求1所述的光强信息提取方法,其中在所述步骤S1中,通过所述光谱芯片对识别物进行成像,获取纹理图像,基于纹理图像识别出所述纹理方向。

4.根据权利要求2或3所述的光强信息提取方法,其中所述光强信息提取方法中步骤S2进一步包括:

5.根据权利要求4所述的光强信息提取方法,其中所述光强信息提取方法中步骤S2进一步包括...

【技术特征摘要】

1.一种分区域光谱芯片的光强信息提取方法,其特征在于,其中所述光强提取方法包括:

2.根据权利要求1所述的光强信息提取方法,其中在所述步骤s1中,采取梯度算法计算光谱芯片的局部亮度梯度,垂直于梯度方向的方向为纹理方向。

3.根据权利要求1所述的光强信息提取方法,其中在所述步骤s1中,通过所述光谱芯片对识别物进行成像,获取纹理图像,基于纹理图像识别出所述纹理方向。

4.根据权利要求2或3所述的光强信息提取方法,其中所述光强信息提取方法中步骤s2进一步包括:

5.根据权利要求4所述的光强信息提取方法,其中所述光强信息提取方法中步骤s2进一步包括:

6.根据权利要求4所述的光强信息提取方法,其中光强信息提取方法中步骤s3进一步包括:

7.根据权利要求6所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:方勇张鸿黄志雷王宇
申请(专利权)人:北京与光科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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