光谱芯片的成像方法技术

技术编号:40561290 阅读:21 留言:0更新日期:2024-03-05 19:24
本发明专利技术提供一种种光谱芯片的成像方法,其中所述成像方法包括如下步骤:(a)获取结构像素的测量值bi和普通像素的测量值ci;(b)获取像素点的转换系数,其中所述转换系数根据像素点的计算值计算所得;以及(d)基于转换系数分别优化结构像素和普通像素的测量值,再利用优化后的测量值恢复图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光谱信息,尤其涉及一种光谱芯片的成像方法


技术介绍

1、随着科技与经济的发展,成像模组的应用越来越广,例如摄影摄像、图像识别、机器视觉等方面。目前用以成像模组的传感器主要为cmos芯片、ccd芯片等,可以用以获取rgb图像,传统的成像模组存在固有的缺陷,一方面现有成像模组覆盖可见光波段,容易受到外界可见光的影响,一方面成像模组因为只有r、g、b三个通道,所以缺乏光谱细节的信息,也就是说成像模组可能不能真实反映入射光线的信息,容易在成像时出现偏差。

2、光谱是物质的指纹,光谱信息包含入射光在各个波长上的能量信息,相比现有成像模组,包含信息更多且更加准确。因此,基于光谱芯片的光谱模组逐渐出现在人们视野,如何有效、高效利用光谱芯片,用以获取更准确的信息,成为需要解决的问题。

3、随着计算机技术的发展,最近几年出现了一种新的光谱仪类型:计算重建型光谱仪,其通过计算来近似甚至重构入射光的光谱。计算重构型光谱仪可以相对较佳地解决因小型化而导致检测性能下降的问题。通过光谱芯片对指纹拍照既要有比较清晰的图像,又想获取光谱信息。清晰图本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光谱芯片的成像方法,所述光谱芯片包括调制区和非调制区,对应于调制区的结构像素和对应于非调制区的普通像素构成所述光谱芯片的像素点,其特征在于,所述成像方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的成像方法,其中在所述成像方法的步骤(b)进一步包括:

3.根据权利要求2所述的成像方法,其中所述成像方法的步骤(b)进一步包括步骤:

4.根据权利要求3所述的成像方法,其中在所述成像方法的步骤(b.1)中,离散化的入射光谱分别和透射谱曲线、物理像素响应作点积,获取光谱芯片每个像素点的计算值。

5.根据权利要求4所述的成像方法,其中在所述成像方法...

【技术特征摘要】

1.一种光谱芯片的成像方法,所述光谱芯片包括调制区和非调制区,对应于调制区的结构像素和对应于非调制区的普通像素构成所述光谱芯片的像素点,其特征在于,所述成像方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的成像方法,其中在所述成像方法的步骤(b)进一步包括:

3.根据权利要求2所述的成像方法,其中所述成像方法的步骤(b)进一步包括步骤:

4.根据权利要求3所述的成像方法,其中在所述成像方法的步骤(b.1)中,离散化的入射光谱分别和透射谱曲线、物理像素响应作点积,获取光谱芯片每个像素点的计算值。

5.根据权利要求4所述的成像方法,其中在所述成像方法的步骤(b.1)中,通过计算获取像素点的计算值,对计算出来的入射光谱f(λ)、透射谱曲线ai以及普通像素响应ri进行离散、均匀采样n个采样点;再计算对应结构单元和物理像素的计算值。

6.根据权利要求1所述的成像方法,其中所...

【专利技术属性】
技术研发人员:方勇黄志雷王宇
申请(专利权)人:北京与光科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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