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本发明提供一种种光谱芯片的成像方法，其中所述成像方法包括如下步骤：(a)获取结构像素的测量值bi和普通像素的测量值ci；(b)获取像素点的转换系数，其中所述转换系数根据像素点的计算值计算所得；以及(d)基于转换系数分别优化结构像素和普通像素...
该专利属于北京与光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京与光科技有限公司授权不得商用。

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