【技术实现步骤摘要】
以下描述涉及具有存储器内计算缺陷检测的存储器和方法。
技术介绍
1、矢量矩阵乘法运算，也称为乘法累加(mac)运算，在各个领域中有许多应用，并且mac运算的效率直接关系到此类应用的性能。例如，可以执行mac运算用于多层神经网络的机器学习和验证。要由mac运算处理的输入信号可以是输入向量、图像或从中导出的数据、字节流、或其他数据集的形式。例如，可以将输入信号乘以给定网络层的神经网络节点的权重，并且可以从累加的mac运算的结果中获得输出向量。可以提供输出向量作为用于给定网络层之后的层的输入向量。由于mac运算通常针对多个层重复，因此整体神经网络处理性能(例如，在训练或产生推理中)主要由mac运算的性能决定。mac运算可以通过存储器内计算来实现。
技术实现思路
1、提供本
技术实现思路
以用简化形式介绍对下面在具体实施方式中进一步描述的构思的选择。本
技术实现思路
不意在标识所请求保护的主题的关键特征或基本特征，也不意在帮助确定所请求保护的主题的范围。
2、在一个一般方面，一种存储设备，包括：存储器，包括存储体，其中，每个存储体包括相应的多个位单元；存储器内计算(imc)运算器，被配置为在第一数据和第二数据之间执行imc运算，其中所述第一数据在存储器的位单元中，所述第二数据被接收作为存储设备的输入，其中，存储体共享imc运算器，并且其中，存储设备被配置为：生成存储在存储器中的第一测试模式并生成应用于imc运算器的第二测试模式，并基于此来确定存储器或imc运算器中是否发生了缺陷，并基于
3、存储器设备可以进一步被配置为将第一测试模式存储在存储器的位单元中，并将第二测试模式应用于imc运算器，并且其中，imc运算器可以进一步被配置为从存储器接收第一测试模式，并且在第一测试模式和第二测试模式之间执行测试运算。
4、存储设备还可以被配置为从imc运算器获得测试运算的结果，并且基于此来针对每个存储体确定是否可能发生了测试运算的结果的运算错误。
5、存储设备还可以被配置为响应于确定未发生运算错误，确定存储器中未发生缺陷且imc运算器中未发生缺陷。
6、存储设备还可以被配置为与确定发生了运算错误相关联地，基于每个存储体中发生相同类型的错误，确定imc运算器中发生了缺陷。
7、存储设备还可以被配置为基于imc运算器中发生了缺陷的确定，对与imc运算器相对应的列进行修复。
8、存储设备还可以被配置为基于imc运算器中发生了缺陷的确定，从进一步执行imc运算中排除包括imc运算器的列。
9、存储设备还可以被配置为基于确定发生了运算错误，基于每个存储体中未发生相同类型的错误而确定存储器中发生了缺陷。
10、存储设备还可以被配置为基于存储器中发生了缺陷的确定，检测有缺陷的位单元，并且确定与该有缺陷的位单元相对应的修复方法。
11、每个存储体可以分别包括一个或多个冗余位单元，并且存储设备可以被配置为将与有缺陷的位单元相对应的行分配给包括冗余位单元的行。
12、每个存储体可以分别包括一个或多个冗余位单元，并且存储设备可以被配置为将与有缺陷的位单元相对应的行分配给包括冗余位单元的行。
13、存储器还可以包括冗余存储体，并且存储设备可以被配置为将与有缺陷的位单元相对应的存储体分配给冗余存储体。
14、存储器还可以包括冗余列，并且存储设备可以被配置为将与有缺陷的位单元相对应的列分配给冗余列。
15、在一个一般方面，一种操作存储设备的方法，该存储设备包括运算器和包括存储体的存储器，该方法包括：接收测试运算的结果；基于该结果，针对每个存储体来确定是否可能发生了运算错误；响应于确定可能发生了运算错误，针对每个存储体来确定运算错误类型；以及基于在存储体中包括的位单元中是否可能发生了相同的运算错误类型，确定存储体或运算器中是否存在缺陷。
16、运算器可以被配置为直接对每个存储体执行计算操作。
17、当确定存储体中包括的位单元中发生了相同的运算错误类型时，确定运算器中可能发生了缺陷。
18、该方法还可以包括基于运算器中发生了缺陷的确定，修复与运算器相对应的列。
19、该方法还可以包括基于运算器中发生了缺陷的确定，从运算中排除与运算器相对应的列。
20、是否存在缺陷的确定可以包括：基于每个存储体中未发生相同的运算错误类型，确定存储器中存在缺陷。
21、该方法还可以包括：基于存储器中存在缺陷的确定，检测有缺陷的位单元，并将与该有缺陷的位单元相对应的组件分配给存储设备的冗余组件。
22、在一个一般方面，提供了一种操作存储设备的方法，该存储设备包括存储体、运算器和冗余位单元，存储体包括位单元，并且该方法包括：接收初步测试运算结果；针对每个存储体，确定是否发生了初步测试运算结果的运算错误，并基于此来检测存储体之一的有缺陷的位单元；将检测到的有缺陷的位单元分配给冗余位单元；接收使用冗余位单元执行的二次测试运算的结果；以及基于二次测试运算的结果，确定存储器或运算器中是否发生了缺陷。
23、是否发生了缺陷的确定可以包括：基于二次测试操作的结果的运算错误，确定运算器中可能发生了缺陷。
24、该方法还可以包括基于运算器中发生了缺陷的确定，修复与运算器相对应的列。
25、该方法还可以包括基于运算器中发生了缺陷的确定，从运算中排除与运算器相对应的列。
26、一种存储指令的非暂态计算机可读存储介质，当指令由处理器执行时使处理器执行所述方法中的任何一种。
27、其他特征和方面将通过以下详细描述、附图和权利要求变得清楚明白。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种存储设备，包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述存储设备还被配置为将所述第一测试模式存储在所述存储器的所述位单元中，并将所述第二测试模式应用于所述IMC运算器，并且
3.根据权利要求2所述的存储设备，其中，所述存储设备还被配置为从所述IMC运算器获得所述测试运算的结果，并基于此针对每个存储体确定是否发生了所述测试运算的所述结果的运算错误。
4.根据权利要求3所述的存储设备，其中，所述存储设备还被配置为响应于确定未发生运算错误，确定所述存储器中未发生缺陷，并且所述IMC运算器中未发生缺陷。
5.根据权利要求3所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为，与确定发生了运算错误相关联地，基于每个存储体中发生相同类型的错误，确定所述IMC运算器中发生了缺陷。
6.根据权利要求5所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为基于所述IMC运算器中发生了缺陷的确定，对与所述IMC运算器相对应的列进行修复。
7.根据权利要求5所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为基于所述IMC运算器中发生了缺陷的确定，
8.根据权利要求3所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为基于确定发生了运算错误，基于每个存储体中未发生相同类型的错误而确定所述存储器中发生了缺陷。
9.根据权利要求8所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为：
10.根据权利要求9所述的存储设备，其中，
11.根据权利要求10所述的存储设备，还被配置为在所述分配之前将预定权重存储在所述冗余位单元中。
12.根据权利要求9所述的存储设备，其中，
13.根据权利要求9所述的存储设备，其中，
14.一种操作存储设备的方法，所述存储设备包括运算器和包含存储体的存储器，所述方法包括：
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述运算器被配置为直接对每个存储体执行计算操作。
16.根据权利要求14所述的方法，其中，当确定所述存储体中包括的所述位单元中发生了相同的运算错误类型时，确定所述运算器中发生了缺陷。
17.根据权利要求16所述的方法，还包括：
18.根据权利要求16所述的方法，还包括：
19.根据权利要求14所述的方法，其中，确定是否存在缺陷包括：
20.根据权利要求19所述的方法，还包括：
21.一种操作存储设备的方法，所述存储设备包括包含存储体的存储器、运算器和冗余位单元，所述存储体包括位单元，所述方法包括：
22.根据权利要求21所述的方法，其中，是否发生了缺陷的确定包括：
23.根据权利要求22所述的方法，还包括：
24.根据权利要求22所述的方法，还包括：
25.一种存储指令的非暂时性计算机可读存储介质，当所述指令由处理器执行时，使所述处理器执行权利要求14所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种存储设备，包括：
2.根据权利要求1所述的存储设备，其中，所述存储设备还被配置为将所述第一测试模式存储在所述存储器的所述位单元中，并将所述第二测试模式应用于所述imc运算器，并且
3.根据权利要求2所述的存储设备，其中，所述存储设备还被配置为从所述imc运算器获得所述测试运算的结果，并基于此针对每个存储体确定是否发生了所述测试运算的所述结果的运算错误。
4.根据权利要求3所述的存储设备，其中，所述存储设备还被配置为响应于确定未发生运算错误，确定所述存储器中未发生缺陷，并且所述imc运算器中未发生缺陷。
5.根据权利要求3所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为，与确定发生了运算错误相关联地，基于每个存储体中发生相同类型的错误，确定所述imc运算器中发生了缺陷。
6.根据权利要求5所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为基于所述imc运算器中发生了缺陷的确定，对与所述imc运算器相对应的列进行修复。
7.根据权利要求5所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为基于所述imc运算器中发生了缺陷的确定，从进一步执行所述imc运算中排除包括所述imc运算器的列。
8.根据权利要求3所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为基于确定发生了运算错误，基于每个存储体中未发生相同类型的错误而确定所述存储器中发生了缺陷。
9.根据权利要求8所述的存储设备，其中所述存储设备还被配置为：
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【专利技术属性】
技术研发人员：明成敃，尹石柱，李宰赫，郑丞哲，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：
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