【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及存算一体,特别涉及一种面向存算一体芯片的高效编程和校验方法。
技术介绍
1、现有的深层次神经网络权重数量多,计算量巨大,同时还需要长时间访问外部存储来完成矩阵乘法和加法,传统计算架构的存储墙和功耗墙限制了功耗的优化。
2、存算一体架构能够实现集计算和存储一体,以极低的功耗完成大量的矩阵乘累加,这已经成为最优前景的架构之一。然而现阶段存算一体器件普遍存在编程难度大,编程速度慢的缺点。比如,专利cn111208865a公开了一种光电计算单元、存算一体芯片及光电计算方法,存算一体芯片可以通过光输入的方式进行编程,其特点在于从最大值向小的方向编程,前期编程速度快,但是后期编程速度慢,编程到0值难度较大。另外已有文献报道(wanw,kubendran r,schaefer c,et al.a compute-in-memory chip based on resistiverandom-access memory[j].nature,2022,608(7923):504-512.)使用到增量脉冲写入验证技术,可以灵活调整
...【技术保护点】
1.一种面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤2初始化校验成功后,进入下一步骤;否则返回上一步骤。
3.如权利要求2所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤3中,当某行出现连续(m*n-2)个0值权重时,认为该行进入无效数值区,跳过该行编程进行下一行编程,直到编程整个FLASH阵列,其中m为卷积核大小,n为卷积核的个数。
4.如权利要求3所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤4
...【技术特征摘要】
1.一种面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,包括如下步骤:
2.如权利要求1所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤2初始化校验成功后,进入下一步骤;否则返回上一步骤。
3.如权利要求2所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤3中,当某行出现连续(m*n-2)个0值权重时,认为该行进入无效数值区,跳过该行编程进行下一行编程,直到编程整个flash阵列,其中m为卷积核大小,n为卷积核的个数。
4.如权利要求3所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤4中仅校验一次,若校验值满足目标区间则编程成功,若校验值不满足则进入从编程与校验。
5.如权利要求4所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述权重值是正数时,校验值大于等于权重值即停止校验,当权重值为负数时,校验值小于等于权重值即停止校验即停止检验。
6.如权利要求1所述的面向存算一体芯片的高效编程和校验方法,其特征在于,所述步骤1全阵列初始化为flash阵列的全局擦除操作,初始值通过偏置转换...
【专利技术属性】
技术研发人员:田青,魏敬和,刘国柱,鞠虎,高营,韩玉洁,周颖,
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第五十八研究所,
类型:发明
国别省市:
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