System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法技术方案_技高网

一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法技术方案

技术编号:40536003 阅读:9 留言:0更新日期:2024-03-01 13:57
本发明专利技术公开了本发明专利技术提供了一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,包括步骤:S1.以国家标准样品作为测试样品,采用测试系统在不同时间t1,t2,…,tn对测试样品做n次独立试验,得到n个测试结果y1,y2,…,yn以及n对测试数据(t1,y1),(t2,y2),…,(tn,yn),n为正整数且n≥3;S2.以n对测试数据(t1,y1),(t2,y2),…,(tn,yn)为样本拟合一元线性回归方程y=a+b×t,设有一元正态线性回归模型y=a+b×t+ε,求得a,b的估计值;S3.假设检验y=a+b×t的直线斜率b是否等于0,若b=0,则样品稳定,反之,则样品不稳定。本发明专利技术能随时评价一段时间内测试系统的持续稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术具体涉及一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法


技术介绍

1、测试数据准确是衡量一个检测实验室技术水平的重要指标,测试数据的准确性包括正确性和一致性。emc测试系统中普遍存在检测结果的一致性问题,同一测试系统的重复性/复现性效果均存在一定的差异,需要用适当的方法对测试系统进行核查并评价,使检测结果的测试准确度在可控范围之内。

2、对于一套理想的emc测试系统,应该在每次对同一个性能稳定的样品(如国家标准样品)进行测试时,其测试结果应该是一致的,而且随着时间的推移,测试结果也不会发生偏离,始终保持良好的稳定状态。

3、目前常用的评价emc测试系统稳定性的方法有设备校准、能力验证等。

4、通常的设备校准、能力验证等外部质量管理方式往往一年进行一次,无法保证两次校准或者两次能力验证之间很长一段时间内(通常是一年)测试系统的稳定性或测试结果的一致性。

5、这类评价方法往往只能在时间点上评价测试系统是否处于稳定状态的现状,不能随时评价一段时间内测试系统的持续稳定性而保障测试系统在某一整个时间段上持续地稳定。并且在结果评价上往往较主观,如人为规定一个合格范围,没有科学的数据统计依据。该类评价方法往往成本较高。


技术实现思路

1、本专利技术提供了一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,使用一种国家标准样品作为测试样品,使用一元线性回归分析方法对电磁兼容测试系统的测试结果进行数据统计分析,以评价测试系统的稳定性。

2、本专利技术提供了一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,包括步骤:

3、s1.以国家标准样品作为测试样品,采用测试系统在不同时间t1,t2,…,tn对测试样品做独立试验,得到n个测试结果y1,y2,…,yn以及n对测试数据(t1,y1),(t2,y2),…,(tn,yn),n为正整数且n≥3;

4、s2.以n对测试数据(t1,y1),(t2,y2),…,(tn,yn)为样本拟合一元线性回归方程y=a+b×t,其中y为测试结果的因变量,a为直线截距,b为直线斜率,t为时间的因变量,

5、设有一元正态线性回归模型

6、y=a+b×t+ε,ε~n(0,σ2),ε为随机因素或称误差项,n(0,σ2)为正态分布  (1)

7、对样本(t1,y1),(t2,y2),…,(tn,yn),由式(1)得:

8、y1=a+b×t1+ε1,

9、y2=a+b×t2+ε2,

10、……

11、yn=a+b×tn+εn,

12、其中εi~n(0,σ2),各εi相互独立。

13、用最小二乘法求得a,b的估计值

14、

15、

16、

17、同时,可得到

18、σ2的无偏估计式中

19、直线斜率b的方差

20、

21、s3.假设检验y=a+b×t的直线斜率b是否等于0,若接受b=0,则样品稳定,反之,则样品不稳定,

22、结果采用f检验判定

23、检验的假设为:原假设:h0:b=0,备择假设:h1:b≠0,

24、syy为变量y的离差平方和,记

25、其中ssr称为回归平方和,sse为残差平方和,

26、由于式中χ2表示卡方分布、χ2(1)表示自由度为1的卡方分布、χ2(n-2)表示自由度为n-2的卡方分布,

27、因此构造f统计量

28、f(1,n-2)为自由度为1和n-2的f分布,

29、给出检验水平α,也即显著性水平,查出fα(1,n-2),表示在显著性水平α时,自由度为1和n-2的f分布值,该值可通过查找f分布临界值表得到,算出f统计量的值,

30、如果f≥fα(1,n-2),则拒绝h0,表明测试系统不稳定;如果f<fα(1,n-2),则接受h0,表明测试系统稳定。

31、本专利技术的有益效果在于:

32、1.本专利技术提供的方法突破以往通过设备校准、能力验证等外部质量管理方式只能在时间点上评价测试系统是否处于稳定状态的现状,该方法能随时评价一段时间内测试系统的持续稳定性,保障测试系统在某一整个时间段上持续地稳定。

33、2.本专利技术采用一元线性回归分析,是基于客观数据的科学数据分析方法,成本也较低,只要购置一个国家标准样品,且该国家标准样品可数年重复使用,本专利技术提供的方法不需要外部机构来实施,可以由实验室内部自行实施。

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【技术保护点】

1.一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于,包括步骤:

2.根据权利要求1所述的电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于,a,b的估计值分别为:

3.根据权利要求2所述的电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于:

4.根据权利要求3所述的电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于,所述步骤S3的结果采用F检验判定:

5.根据权利要求4所述的电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于:α=0.05。

【技术特征摘要】

1.一种电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于,包括步骤:

2.根据权利要求1所述的电磁兼容测试系统稳定性的评价方法,其特征在于,a,b的估计值分别为:

3.根据权利要求2所述的电磁兼容测试系统稳定性的评价...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈钧刘国荣曾博林道祺赖金泉
申请(专利权)人:威凯检测技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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