【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子存储，特别是涉及一种存储器的故障测试系统以及方法。
技术介绍
1、内嵌式存储器（embedded multi media card，emmc）与通用闪存存储（universalflash storage，ufs）在电视机、机顶盒、平板电脑、手机等电子产品中被广泛应用。emmc存储器是由arm cpu作为控制器再加上nand flash构成，其中arm cpu会运行控制器软件，通常称为固件(firmware)。
2、由于emmc存储器内包括多个存储颗粒，且存储器在出厂前需要对其进行故障测试，以筛选出有差异性的存储颗粒，从而对存储器的故障类型进行分类。然而，现有的测试系统对存储器的故障类型的分类精度较低，且测试效率低下，因此，存在待改进之处。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种存储器的故障测试系统以及方法，改善了现有测试系统的测试效率较低问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：
3、本专利技术提供一种存储器的故障测试系统，包括：
4、多功能测试主板，被配置为与多个待测存储器通讯连接，其中，所述多功能测试主板上设有可编程处理器，所述可编程处理器用以根据所述待测存储器的类型，进行相应的接口资源配置，以生成多通道通讯协议；以及
5、主机端，通讯连接于所述可编程处理器，用以将多个带有连续编号的不同的测试文件通过所述多通道通讯协议下发至对应的所述待测存
6、其中，所述待测存储器用以根据对应的所述测试文件进行测试，以生成相应的测试结果；
7、所述可编程处理器还用以根据测试结果生成测试日志；
8、所述主机端还用以对所述测试日志进行分析统计处理，生成故障测试报表。
9、在本专利技术一实施例中，当所述可编程处理器确定所述待测存储器测试通过时，所述可编程处理器生成测试成功日志，将其上传至所述主机端，并继续进行下一个测试文件的测试。
10、在本专利技术一实施例中，所述可编程处理器还用以确定其他测试文件是否全部测试完成；
11、若所述其他测试文件全部测试完成，则将对应生成的所有测试成功日志上传至所述主机端，并重新选择其他待测存储器进行测试；
12、若所述其他测试文件未全部测试完成，则继续进行测试，并重复进行判断，直至所述其他测试文件全部测试完成。
13、在本专利技术一实施例中，当所述可编程处理器确定所述待测存储器未测试通过时，所述可编程处理器生成测试失败日志，并将其上传至所述主机端。
14、在本专利技术一实施例中，所述主机端还用以对所述测试日志进行分析归类处理，生成故障汇总清单。
15、在本专利技术一实施例中，所述主机端还用以对所述故障汇总清单进行概率分布统计，生成故障测试报表。
16、本专利技术还提供一种存储器的故障测试方法，包括：
17、根据待测存储器的类型，对可编程处理器进行相应的接口资源配置，以生成多通道通讯协议；
18、主机端将多个带有连续编号的不同的测试文件通过所述多通道通讯协议下发至对应的所述待测存储器中；
19、所述待测存储器根据对应的所述测试文件进行测试，生成相应的测试结果；
20、所述可编程处理器根据所述测试结果生成测试日志；以及
21、所述主机端对所述测试日志进行分析统计处理，生成故障测试报表。
22、在本专利技术一实施例中，所述可编程处理器根据所述测试结果生成测试日志的步骤包括：
23、当所述可编程处理器确定所述待测存储器测试通过时，所述可编程处理器生成测试成功日志，将其上传至所述主机端，并继续进行下一个测试文件的测试；
24、当所述可编程处理器确定所述待测存储器未测试通过时，所述可编程处理器生成测试失败日志，并将其上传至所述主机端。
25、在本专利技术一实施例中，当所述可编程处理器确定所述待测存储器测试通过时，所述可编程处理器生成测试成功日志，将其上传至所述主机端，并继续进行下一个测试文件的测试的步骤包括：
26、判断其他测试文件是否全部测试完成；
27、若所述其他测试文件全部测试完成，则将对应生成的所有测试成功日志上传至所述主机端，并重新选择其他待测存储器进行测试；
28、若所述其他测试文件未全部测试完成，则继续进行测试，并重复进行判断，直至所述其他测试文件全部测试完成。
29、在本专利技术一实施例中，所述主机端对所述测试日志进行分析统计处理，生成故障测试报表的步骤包括：
30、对所述测试日志进行分析归类处理，生成故障汇总清单；
31、对所述故障汇总清单进行概率分布统计，生成故障测试报表。
32、如上所述，本专利技术提供一种存储器的故障测试系统以及方法，能够快速全面筛查出异常故障的存储器或存储颗粒，提升存储器故障测试的分类精度，进而提升存储器的测试效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种存储器的故障测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，当所述可编程处理器确定所述待测存储器测试通过时，所述可编程处理器生成测试成功日志，将其上传至所述主机端，并继续进行下一个测试文件的测试。
3.根据权利要求2所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，所述可编程处理器还用以确定其他测试文件是否全部测试完成；
4.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，当所述可编程处理器确定所述待测存储器未测试通过时，所述可编程处理器生成测试失败日志，并将其上传至所述主机端。
5.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，所述主机端还用以对所述测试日志进行分析归类处理，生成故障汇总清单。
6.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，所述主机端还用以对所述故障汇总清单进行概率分布统计，生成故障测试报表。
7.一种存储器的故障测试方法，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的存储器的故障测试方法，其特征在于，所述可编程处理器
9.根据权利要求8所述的存储器的故障测试方法，其特征在于，当所述可编程处理器确定所述待测存储器测试通过时，所述可编程处理器生成测试成功日志，将其上传至所述主机端，并继续进行下一个测试文件的测试的步骤包括：
10.根据权利要求7所述的存储器的故障测试方法，其特征在于，所述主机端对所述测试日志进行分析统计处理，生成故障测试报表的步骤包括：
...【技术特征摘要】
1.一种存储器的故障测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，当所述可编程处理器确定所述待测存储器测试通过时，所述可编程处理器生成测试成功日志，将其上传至所述主机端，并继续进行下一个测试文件的测试。
3.根据权利要求2所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，所述可编程处理器还用以确定其他测试文件是否全部测试完成；
4.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，当所述可编程处理器确定所述待测存储器未测试通过时，所述可编程处理器生成测试失败日志，并将其上传至所述主机端。
5.根据权利要求1所述的存储器的故障测试系统，其特征在于，所述主机端还用以对所述测试日志进行分析归类处理，生成故障汇总清...
【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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