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本发明提供了一种存储器的故障测试系统，包括：多功能测试主板，被配置为与多个待测存储器通讯连接，其中，所述多功能测试主板上设有可编程处理器，所述可编程处理器用以进行相应的接口资源配置，以生成多通道通讯协议；主机端，用以将多个带有连续编号的不同...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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