【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及功率管老化测试,尤其是涉及一种功率管批量动态老化测试系统。
技术介绍
1、随着国家不断加大半导体器件自主生产的投入,用于半导体生产过程中的各种测试设备的需求也不断增加,特别是功率管生产厂家,其需要一种可以同时实现大批量功率管动态老化以及测试的系统,在老化测试过程中对功率管的各个重要参数进行监控,帅选出残次品,大大增加生产效率,传统功率管老化系统使用较为不方便,需要手动设置每路的电源参数,输入功率参数,而且无法同时对所有路的功率管老化状态(如输入功率,输出功率,动态电流,以及工作温度)进行实时监测,同时需要耗费大量人力进行巡查,查找残次品。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种功率管批量动态老化测试系统,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、一种功率管批量动态老化测试系统,包括:
3、功放单元;
4、温度监测及散热单元,所述功放单元的输出端与温度监测及散热单元的输入端连接;
5、待测功率管偏置供电单元
...【技术保护点】
1.一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于:所述功放单元包括信号源组件、威尔金森功率分配器和32个功放模块,所述信号源组件通过485通讯总线与上位机单元信号连接,所述威尔金森功率分配器为1:32的功分器,所述威尔金森功率分配器的输出端与32个所述功放模块的输入端连接。
3.根据权利要求2所述的一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于:所述功放模块由数控衰减器、PA、耦合器和隔离器组成,所述数控衰减器的输入端与威尔金森功率分配器的输出端连接,所述PA的输入端与数控衰
...【技术特征摘要】
1.一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于:所述功放单元包括信号源组件、威尔金森功率分配器和32个功放模块,所述信号源组件通过485通讯总线与上位机单元信号连接,所述威尔金森功率分配器为1:32的功分器,所述威尔金森功率分配器的输出端与32个所述功放模块的输入端连接。
3.根据权利要求2所述的一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于:所述功放模块由数控衰减器、pa、耦合器和隔离器组成,所述数控衰减器的输入端与威尔金森功率分配器的输出端连接,所述pa的输入端与数控衰减器的输出端连接,所述耦合器的输入端与pa的输出端连接,所述隔离器的输入端与耦合器的输出端连接。
4.根据权利要求3所述的一种功率管批量动态老化测试系统,其特征在于:所述功放模块的输出端连接有待测功率管,所述待测功率管的输出端连接有衰减器,所述温度监测及散热单元包括散热器和温度传感器,所述散热器安装在待测功率管的一侧并用于待测功率管的散热,所述温度传感器...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴利国,朱宁宁,徐晖,徐晶,
申请(专利权)人:南京华凯电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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