一种用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法及系统技术方案

技术编号:40512534 阅读:27 留言:0更新日期:2024-03-01 13:28
本发明专利技术公开了一种用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法及系统,包括以下步骤:将核定重量的硅料加入坩埚后,通过炉台工控机获取硅料的总剩料量;根据硅料的总剩料量,得到硅液在坩埚R角上方的高度;根据硅液在坩埚R角上方的高度,得到加完核定重量的硅料后硅液总高度;获取炉台的发热区高度,并通过炉台工控机获取坩埚的位置;根据发热区高度、坩埚的位置以及硅液总高度,得到坩埚内硅液与炉体的相对位置。本发明专利技术用于解决现有技术由于无法准确获取到硅料在炉体内的位置情况,导致工艺参数设定不准确的技术问题,从而达到通过准确设定工艺参数,延长坩埚使用寿命的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及硅料加工,具体涉及一种用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法及系统


技术介绍

1、直拉法是熔体法制备单晶硅的主要方法,它使用籽晶将单晶硅从熔体中提拉出来,这种方法是由波兰化学家czochralski提出,因此也叫czochralski法或简称为cz法。单晶炉是直拉法生产晶体的重要设备,它的示意图如图1所示。

2、单晶炉是直拉法制备晶体的核心设备,一套完整的单晶炉包括炉体、坩埚、提升和转动装置、加热冷却以及温控系统等设备。目前用于生产的单晶炉设备已经发展的相当完善,一般都配备有包含计算机在内的自动温控系统和晶体直径监控系统。在晶体生长过程中,籽晶杆与籽晶紧密连接在一起,籽晶杆上的循环水冷将热量通过晶体从熔体的固液界面上带走,从而保证固液界面有足够的温度梯度以达到晶体形成的条件。因此,保持这条热量传输通道的稳定就是保证晶体生长的关键,籽晶杆中的冷却水流量的波动都会引起热量波动,从而影响生长晶体的质量。此外,所用坩埚的质量也会影响最终生产出的晶体质量,因此,一般会采用熔点比生长晶体熔点高200℃以上的耐高温坩埚,且不会与熔体发生反应,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在得到硅液在坩埚R角上方的高度时,包括:

3.根据权利要求2所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在得到硅液在坩埚R角上方的高度时,还包括:

4.根据权利要求1所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在得到硅液总高度时,包括:

5.根据权利要求1所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在获取炉台的发热区高度时,包括:

6.根...

【技术特征摘要】

1.一种用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在得到硅液在坩埚r角上方的高度时,包括:

3.根据权利要求2所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在得到硅液在坩埚r角上方的高度时,还包括:

4.根据权利要求1所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在得到硅液总高度时,包括:

5.根据权利要求1所述的用于获取坩埚内硅液与炉台相对位置的方法,其特征在于,在获取炉台的发热区高度时,包括:

6.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:税宇乔乐汪奇武辉
申请(专利权)人:四川高景太阳能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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