【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及质谱分析，具体涉及一种直接质谱离子源空间位置参数的测量装置及其方法。
技术介绍
1、质谱分析技术具有灵敏度高、特异性好和适用范围广的优势，在食品安全、环境监测、医疗卫生等领域具有不可替代的作用。在直接质谱分析技术中，离子源在无需样品复杂预处理的情况下即可对目标物分子进行电离，其一般工作于大气压环境中，易受到周围环境的干扰，因而离子源与质谱仪之间的空间位置关系严重影响着离子的产生和传输效率，是调控与优化的关键因素之一。然而，由于离子源的实际工作空间狭小（一般在100 mm3以内），且离子化与传输过程对化学反应微环境要求极为苛刻，千分尺测量、三坐标探针测量、激光测量、x射线扫描成像测量等测量手段难以适用。由于离子源的空间位置参数难以直接、实时测量，其空间位置参数的精确调控与优化一直无法满足要求。开发一种离子源空间位置参数的直接、实时测量方法与装置，既能为离子源空间位置参数的调控与优化提供测量手段，又不影响离子源的工作微环境，成为亟待解决的问题。
2、例如，公告号为cn115662872 a的专利技术专利公开了一种电...
【技术保护点】
1.一种直接质谱离子源空间位置参数的测量装置，包括第一离子源喷头、质谱进样口、第一摄像机、第二摄像机、计算机、接口、光源、支架以及连接套，其特征在于，所述质谱进样口水平放置，其轴线沿Z轴方向，所述第一摄像机竖直放置，其轴线与Y轴平行，所述第二摄像机水平放置，其轴线与X轴平行，所述第一摄像机和所述第二摄像机两者的轴线相互垂直；
2.根据权利要求1所述的一种直接质谱离子源空间位置参数的测量装置，其特征在于，所述支架整体结构上呈“L”字形，其两端布置有第一通孔和第二通孔，分别用于安装所述第一摄像机和所述第二摄像机，其中间布置有侧臂通孔，用于安装在所述接口上。p>
3.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种直接质谱离子源空间位置参数的测量装置，包括第一离子源喷头、质谱进样口、第一摄像机、第二摄像机、计算机、接口、光源、支架以及连接套，其特征在于，所述质谱进样口水平放置，其轴线沿z轴方向，所述第一摄像机竖直放置，其轴线与y轴平行，所述第二摄像机水平放置，其轴线与x轴平行，所述第一摄像机和所述第二摄像机两者的轴线相互垂直；
2.根据权利要求1所述的一种直接质谱离子源空间位置参数的测量装置，其特征在于，所述支架整体结构上呈“l”字形，其两端布置有第一通孔和第二通孔，分别用于安装所述第一摄像机和所述第二摄像机，其中间布置有侧臂通孔，用于安装在所述接口上。
3.根据权利要求1所述的一种直接质谱离子源空间位置参数的测量装置，其特征在于，所述连接套整体上为空心圆筒结构，侧面开直通口，中间段开半圆槽，内部布置的台阶用于所述第一摄像机或所述第二摄像机定位，其上端安装在所述支架的所述第一通孔或所述第二通孔中，并随其变形锁紧内部的摄像机，下端外围安装所述光源。
4.一种基于权利要求1所述的直接质谱离子源空间位置参数的测量装置的测量方法，其特征在于，所述第一摄像机的测量方法包括如下步骤：
5.根据权利要求1所述的一种直接质谱离子源空间位置参数的测量方法，其特征在于，所述第二摄像机的测量方法包括如下步骤：
6.根据权利要求4或5所述的一种直接质谱离子源空...
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