基于芯片功能覆盖率多级控制方法、电子设备和介质技术

本发明专利技术涉及芯片技术领域，尤其涉及一种基于芯片功能覆盖率多级控制方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、获取芯片功能特征列表和芯片组成模块列表；步骤S2、将每一F<subgt;n</subgt;拆分为多个子功能特征，将每一芯片功能特征的多个子功能特征分散设置在多个芯片组成模块中；步骤S3、基于所有F<subgt;n</subgt;的子功能特征分别构建整个芯片以及每一M<subgt;k</subgt;对应的多级控制表；步骤S4、基于所述整个芯片以及每一M<subgt;k</subgt;对应的多级控制表生成芯片功能覆盖率验证代码。本发明专利技术提高了芯片功能覆盖率验证效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片，尤其涉及一种基于芯片功能覆盖率多级控制方法、电子设备和介质。

技术介绍

1、在芯片开发过程中，在开发出一个芯片产品后，通常需要迅速迭代衍生出一系列并行开发的芯片产品，衍生的芯片产品通常只是基于原始开发的芯片产品的功能特征做局部的更改，芯片验证过程也只需要对部分验证芯片功能覆盖率的芯片代码做局部调整。但是，现有芯片规模庞大，功能特征(feature)数量多，现有技术并不能直接基于原始开发的芯片产品的验证芯片功能覆盖率的芯片代码做局部调整。通常需要花费大量的时间，基于衍生产品的功能特征列表重新编写验证芯片功能覆盖率编写相关代码，实现衍生产品的芯片功能覆盖率验证，导致芯片功能覆盖率验证效率低，进行使得芯片开发周期长，开发效率低，成本高。

技术实现思路

1、本专利技术目的在于，提供一种基于芯片功能覆盖率多级控制方法、电子设备和介质，提高了芯片功能覆盖率验证效率。

2、根据本专利技术第一方面，提供一种基于芯片功能覆盖率多级控制方法，包括：

3、步骤s1、获取芯片功能特征列表{本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于芯片功能覆盖率多级控制方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

8.一种电子设备，其特征在于，包括：

9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行前述权利要求1-7中任一项所述的方法。...

【技术特征摘要】

1.一种基于芯片功能覆盖率多级控制方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

【专利技术属性】
技术研发人员：王定，请求不公布姓名，请求不公布姓名，
申请(专利权)人：沐曦集成电路上海有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载 我是这个专利的主人