【技术实现步骤摘要】
本申请涉及盘式导电滑环电接触检测，尤其涉及一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置和测试方法。
技术介绍
1、可靠、稳定的电接触是导电滑环正常工作中的最重要的性能要求。相关技术中，利用外接测量回路，对于导电滑环电接触的测试使用触头-滑环-触头的测试结构，即电流由一个触头流入，经滑环后从另一个触头流出，利用外接测量回路，现有的导电滑环触头-滑环-触头测试结构可以对电信号的异常进行感知，但因这种测试方法存在两个电接触界面，故两个触头的接触状态均会对导电滑环电信号产生影响，由此分析电信号的变化与电接触状态的对应关系变得十分困难，不利于进行精准的定量研究，与此同时，该测试方法与实际工况也存在一定差异，在实际工况中往往通过多触头并联的方式以提高导电滑环的可靠性，现有测试方法无法准确反映真实工况。由此，提供一种能够实现单触头-滑环测试以及多触头并联测试的滑环测试装置，以对滑环运行中的载流摩擦磨损情况进行测试和分析，从而改进导电滑环制造工艺，提升导电滑环使用寿命具有重要意义。
技术实现思路
1、本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
2、为此，本专利技术一方面的实施例提出一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，该盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置可以通过简单更改测试回路，实现对盘式导电滑环电接触检测的单触头-滑盘测试以及多触头-滑盘测试，既提高了该测试装置的适用范围，又能精准定量研究，并可与实际工况相对应对盘式导电滑环运行中的载流摩擦磨损情况进行
3、本专利技术另一方面的实施例提出了一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试方法。
4、根据本专利技术实施例的一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，包括基座、测量回路、触头和滑盘以及测试导电滑环。
5、其中，所述测量回路用于提供测量电流并采集电信号，所述测量回路包括第一端和第二端；
6、其中，所述触头与所述第一端电连接，所述滑盘绕所述滑盘的中轴线与所述基座可枢转地相连，所述滑盘相对所述基座枢转时，所述滑盘的滑道与所述触头抵接；
7、其中，所述测试导电滑环包括定子和转子，所述转子与所述滑盘电连接并能够同速转动，所述定子与所述基座相连，所述定子与所述第二端电连接。
8、根据本专利技术实施例的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，由触头和滑盘构成待测试的盘式导电滑环，而测试导电滑环取代现有测试技术中的另一触头，通过测量回路、触头、滑盘、测试导电滑环的定子和转子的配合形成测试结构，以在滑盘相对基座枢转时，使得触头抵接滑道，经测量回路为触头、滑盘、转子和定子提供测量电流，采集滑盘枢转过程中的电信号，实现对盘式导电滑环运行中的载流摩擦磨损情况的测试，相较于相关技术中采用触头-滑环-触头的测试结构，本申请中的测试结构仅有一个电接触界面，即触头和滑盘的滑道形成的电接触界面，从而可对应分析电信号的变化与电接触状态的关系，实现了精准的定量研究，为盘式导电滑环电接触质量检测与性能测试提供了实验基础，并可由此改进盘式导电滑环的制造工艺，提升其使用寿命。
9、在一些实施例中，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括自由度调节机构，所述自由度调节机构的输出端与所述触头相连；
10、所述触头具有初始位置和测试位置，所述触头在所述初始位置与所述滑盘间隔开，所述触头在所述测试位置与所述滑道抵接。
11、在一些实施例中，所述自由度调节机构为双自由度调节机构，所述双自由度调节机构包括移动组件和升降组件，所述移动组件的输出端可沿所述滑盘的径向移动并与所述升降组件的输入端相连，所述升降组件的输出端与所述触头相连并可沿所述滑盘的轴向移动。
12、在一些实施例中，所述自由度调节机构为三自由度调节机构，所述三自由度调节机构包括回转组件、移动组件和升降组件，所述回转组件与所述移动组件的输入端相连并用于回转所述移动组件，所述移动组件的输出端可沿所述滑盘的径向移动并与所述升降组件的输入端相连，所述升降组件的输出端与所述触头相连并可沿所述滑盘的轴向移动。
13、在一些实施例中，所述自由度调节机构为三自由度调节机构，所述三自由度调节机构包括横向组件、纵向组件和升降组件，所述横向组件的输出端与纵向组件的输入端相连，所述横向组件用于沿第二方向调节所述纵向组件与所述滑盘的相对位置，所述纵向组件的输出端与所述升降组件的输入端相连，所述纵向组件用于沿第三方向调节所述升降组件与所述滑盘的相对位置，所述滑盘的轴向为第一方向，所述第三方向、所述第二方向与所述第一方向间两两相垂直，所述升降组件的输出端与所述触头相连并可沿所述滑盘的轴向移动。
14、在一些实施例中，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括旋转平台，所述旋转平台的输入端安装于所述基座，所述旋转平台的输出端由下至上依次连接所述滑盘和所述转子，所述旋转平台用于旋转所述滑盘和所述转子，所述滑盘的上表面和所述转子的下表面间隔开。
15、在一些实施例中，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括限位组件，所述限位组件连接所述基座和所述定子。
16、在一些实施例中，所述触头设有一个，所述滑盘、所述测试导电滑环、所述测量回路和一个所述触头共同形成单触头-滑环测试结构；
17、或者，所述触头设有多个，所述滑盘、所述测试导电滑环、所述测量回路和多个所述触头共同形成多触头-滑环测试结构。
18、在一些实施例中，所述测量回路包括测量电路、电流源、电压采集卡和电流采集卡，所述测量电路具有所述第一端和所述第二端，所述电压采集卡的两端分别与所述第一端和所述第二端电连接，所述电流源的两端分别与所述第一端和所述电流采集卡的一端电连接，所述电流采集卡的另一端与所述第二端电连接。
19、根据本专利技术实施例的一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试方法，基于如上所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，包括以下步骤：
20、将测量回路的第一端与触头电连接，测量回路的第二端与测试导电滑环的定子电连接，所述测试导电滑环的转子与滑盘电连接；
21、控制所述触头压抵所述滑盘的滑道，控制所述滑盘和所述转子相对基座同速转动；
22、接通所述测量回路，由所述测量回路采集电信号。
23、根据本专利技术实施例的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试方法的技术优势与上述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置的技术优势相同，此处不再赘述。
24、在一些实施例中，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括自由度调节机构和旋转平台，所述控制所述触头压抵所述滑盘的滑道，控制所述滑盘和所述转子相对基座同速转动的具体步骤为：
25、自由度调节机构调整所述触头与所述滑盘的滑道的相对位置，将所述触头压抵于所述滑道上，保持所述触头处于测试位置；
26、旋转平台带动所述滑盘和所述转子以设定速度旋转设定时本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括自由度调节机构，所述自由度调节机构的输出端与所述触头相连；
3.根据权利要求2所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述自由度调节机构为双自由度调节机构，所述双自由度调节机构包括移动组件和升降组件，所述移动组件的输出端可沿所述滑盘的径向移动并与所述升降组件的输入端相连，所述升降组件的输出端与所述触头相连并可沿所述滑盘的轴向移动。
4.根据权利要求1所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括旋转平台，所述旋转平台的输入端安装于所述基座，所述旋转平台的输出端由下至上依次连接所述滑盘和所述转子，所述旋转平台用于旋转所述滑盘和所述转子，所述滑盘的上表面和所述转子的下表面间隔开。
5.根据权利要求4所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所
6.根据权利要求1-5中任一项所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述触头设有一个，所述滑盘、所述测试导电滑环、所述测量回路和一个所述触头共同形成单触头-滑环测试结构；
7.根据权利要求1所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述测量回路包括测量电路、电流源、电压采集卡和电流采集卡，所述测量电路具有所述第一端和所述第二端，所述电压采集卡的两端分别与所述第一端和所述第二端电连接，所述电流源的两端分别与所述第一端和所述电流采集卡的一端电连接，所述电流采集卡的另一端与所述第二端电连接。
8.一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试方法，基于如权利要求1-7任一项所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，包括以下步骤：
9.根据权利要求8所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试方法，其特征在于，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括自由度调节机构和旋转平台，所述控制所述触头压抵所述滑盘的滑道，控制所述滑盘和所述转子相对基座同速转动的具体步骤为：
10.根据权利要求8所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试方法，其特征在于，所述触头有一个；
...【技术特征摘要】
1.一种盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括自由度调节机构，所述自由度调节机构的输出端与所述触头相连；
3.根据权利要求2所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述自由度调节机构为双自由度调节机构，所述双自由度调节机构包括移动组件和升降组件，所述移动组件的输出端可沿所述滑盘的径向移动并与所述升降组件的输入端相连，所述升降组件的输出端与所述触头相连并可沿所述滑盘的轴向移动。
4.根据权利要求1所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括旋转平台，所述旋转平台的输入端安装于所述基座，所述旋转平台的输出端由下至上依次连接所述滑盘和所述转子，所述旋转平台用于旋转所述滑盘和所述转子，所述滑盘的上表面和所述转子的下表面间隔开。
5.根据权利要求4所述的盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置，其特征在于，所述盘式导电滑环电接触检测的可变回路测试装置还包括限位组件，所述限位组件连接所述基座和所述定子。...
【专利技术属性】
技术研发人员：田煜，李京洋，高冰鉴，经贵如，李飞，白鹏鹏，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：
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