System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种异形长PTH槽负片生产工艺制造技术_技高网

一种异形长PTH槽负片生产工艺制造技术

技术编号:40464580 阅读:4 留言:0更新日期:2024-02-22 23:18
本发明专利技术公开了一种异形长PTH槽负片生产工艺,包括以下步骤:S1、工程资料制作;S2、前处理;S3、一次压膜:采用贴膜机在PCB板面覆盖一层第一干膜;S4、一次曝光;S5、一次显影;S6、微蚀:在输送过程中对PCB板面进行微蚀处理,去除PCB板面一次显影后的氧化脏污;S7、二次压膜:采用贴膜机在PCB板面覆盖一层第二干膜;S8、二次曝光;S9、二次显影;S10、蚀刻;S11、退膜。本发明专利技术相较于现有技术,有效解决负片工艺中常规单层干膜的掩孔能力不足问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及pcb生产,尤其涉及一种异形长pth槽负片生产工艺。


技术介绍

1、pcb生产工艺分正片及负片工艺,负片和正片的最大差异就是,是否需要在图形转移中的“显影”之后再进行“图形电镀”。负片以干膜作为抗蚀阻剂,而正片以锡作为抗蚀阻剂。

2、负片工艺中难点是大孔及槽孔的掩膜,常规的38um干膜只能加工2.0mm以内的金属孔,掩孔能力不足,影响产品良率。为了保证大孔的掩膜效果,通常采用简单的增加干膜厚度的方式,如采用50um干膜,但50um厚干膜槽孔封孔能力为4.0*13mm,对于超长异形槽孔(3mm*112mm)依旧不能满足掩孔要求。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于:提供一种异形长pth槽负片生产工艺,有效解决负片工艺中常规单层干膜的掩孔能力不足问题。

2、为了实现上述目的,本专利技术采用了如下技术方案:一种异形长pth槽负片生产工艺,包括以下步骤:

3、s1、工程资料制作;

4、s2、前处理;

5、s3、一次压膜:采用贴膜机在pcb板面覆盖一层第一干膜,第一干膜的厚度为45-50um,第一干膜的厚度优选为50um;

6、s4、一次曝光:对于pcb板面的长pth槽孔处进行曝光;

7、s5、一次显影:将pcb板面上未曝光的第一干膜去掉,pcb板面的长pth槽孔位置处覆盖一层第一干膜,得到第一干膜封槽图形;

8、s6、微蚀:显影后的pcb板在水平线上进行输送,并在输送过程中对pcb板面进行微蚀处理,去除pcb板面一次显影后的氧化脏污,之后进行酸洗和烘干;

9、s7、二次压膜:采用贴膜机在pcb板面覆盖一层第二干膜,第二干膜的厚度为45-50um,第二干膜的厚度优选为50um;

10、s8、二次曝光:将pcb板送入di曝光机进行曝光;

11、s9、二次显影:pcb板面上未曝光的第二干膜去掉,露出线路图形;

12、s10、蚀刻:将露出的非线性铜箔蚀刻掉,形成所需的线路;

13、s11、退膜:采用强碱液将pcb板面上用于保护长pth槽孔的两层干膜进行去除。

14、作为上述技术方案的进一步描述:

15、在步骤s2中,前处理过程包括:在pcb板表面进行物理磨板,再依次进行水洗、微蚀、酸洗和烘干步骤进行处理。

16、作为上述技术方案的进一步描述:

17、在步骤s2中,磨板时磨痕宽度控制为12-18mm,烘干温度90±5℃。

18、综上所述,由于采用了上述技术方案,本专利技术的有益效果是:

19、1、本专利技术中,改变原有外层生产流程方式,一次曝光、显影将超长异形槽孔使用50um干膜封起,pcb其它位置均显影干净,经微蚀后二次压膜,人为加厚超长异形槽孔处干膜,厚度达到100um,pcb其它位置干膜厚度仍为50um,不影响其3mil间距的解析,保证了密集线路正常生产。

20、2、本专利技术中,长pth槽孔处进行局部双层干膜处理时,一次曝光、显影后进行微蚀处理,去除显影后板面的氧化,增加二次干膜的结合力,保证二次压膜的可靠性。且两次压膜的干膜厚度保持一致,减少因干膜厚度差导致的曝光不良。

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【技术保护点】

1.一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S2中,前处理过程包括:在PCB板表面进行物理磨板,再依次进行水洗、微蚀、酸洗和烘干步骤进行处理。

3.根据权利要求2所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S2中,磨板时磨痕宽度控制为12-18mm,烘干温度90±5℃。

4.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S5中,显影速度2.8-3.2m/min,显影温度30℃,显影上喷压1.2-1.4kg/cm2,显影下喷压1.0-1.2kg/cm2。

5.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S6中,微蚀H2O2浓度控制10-35ml/L,H2SO4浓度控制20-60ml/L,微蚀稳定剂浓度控制40-60ml/L,烘干温度90±5℃。

6.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S7中,压膜压力5±1kg/cm2,压膜速度控制在2.0±0.5m/min。

7.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S9中,显影速度2.8-3.2m/min,显影温度30℃,显影上喷压1.4±0.2kg/cm2,显影下喷压1.2±0.2kg/cm2。

8.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S10中,蚀刻压力控制2.0-3.0kg/cm2,蚀刻温度50±5℃,蚀刻后量测最小线宽为0.13mm。

9.根据权利要求1所述的一种异形长PTH槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤S11中,退膜压力控制1.0±0.2kg/cm2,退膜温度40-50℃,退膜速度2.5-3.0m/min。

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【技术特征摘要】

1.一种异形长pth槽负片生产工艺,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种异形长pth槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤s2中,前处理过程包括:在pcb板表面进行物理磨板,再依次进行水洗、微蚀、酸洗和烘干步骤进行处理。

3.根据权利要求2所述的一种异形长pth槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤s2中,磨板时磨痕宽度控制为12-18mm,烘干温度90±5℃。

4.根据权利要求1所述的一种异形长pth槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤s5中,显影速度2.8-3.2m/min,显影温度30℃,显影上喷压1.2-1.4kg/cm2,显影下喷压1.0-1.2kg/cm2。

5.根据权利要求1所述的一种异形长pth槽负片生产工艺,其特征在于,在所述步骤s6中,微蚀h2o2浓度控制10-35ml/l,h2so4浓度控制20-60ml/l,微蚀稳定剂浓度控制...

【专利技术属性】
技术研发人员:计富强张俊戚超
申请(专利权)人:昆山大洋电路板有限公司
类型:发明
国别省市:

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