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一种基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪及其探测方法技术

技术编号:40454978 阅读:16 留言:0更新日期:2024-02-22 23:12
本发明专利技术涉及太赫兹探测时间分辨光谱仪技术领域,公开了一种基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪及其探测方法。其光谱仪包括:带有气密空腔的壳体,泵浦光发射调节部用于发射不同实验需求的飞秒激光,太赫兹波产生部根据泵浦光发射调节部发射的飞秒激光生成太赫兹波,并将产生的太赫兹波准直聚焦到样品上,太赫兹波探测部收集飞秒激光电离后的气相介质中由太赫兹电场加速自由电子在脉冲结束后形成的剩余电流,并进行解码以获取太赫兹波的时域信息,控制模块连接到各部,调节不同部分脉冲光的时间,延迟确保实验准确性和可重复性。通过各个模块的协同工作,能够实现多功能的光谱分析和材料研究,为研究实验提供了强大的工具。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及太赫兹探测时间分辨光谱仪,特别是涉及一种基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪及其探测方法


技术介绍

1、太赫兹波谱在远红外与亚毫米波之间,是介于宏观电子学和微观光子学之间的频段,在电磁波频谱中占有独特地位具备辐射能量低、高信噪比、宽频带等特点,其光学性质在检测和分析应用中具有独特的优势。

2、泵浦探测技术是使用两个具有时间延迟的飞秒脉冲,分别对样品进行激发和探测,其中能量高、时间较前的作为泵浦光,能量较低、时间延后的作为探测光。泵浦光激发样品到达激发态,经过时间延迟的探测光随后到达,探测样品受到激发后随时间的演化。

3、光泵浦太赫兹探测技术optp(optical-pump terahertz-probe)是在泵浦探测技术的基础上发展出来的一种新兴的应用前景良好的超快载流子动力学研究技术。相比于泵浦探测技术,将后者用于探测的飞秒探测脉冲替换为thz脉冲。由于thz波在透射半导体样品时,对半导体表面的载流子分布和变化以及半导体内部的声子相关的过程十分敏感、因此十分适合被用来探测半导体的载流子和声子的动力学演化。相比于常规本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述泵浦光发射调节部包括:

3.如权利要求2所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述电动位移台包括:

4.如权利要求2所述的基于气相介质的超宽带太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述第一反射镜组包括:

5.如权利要求3所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述太赫兹波产生部,包括:

6.如权利要求5所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述第二反射镜组...

【技术特征摘要】

1.一种基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述泵浦光发射调节部包括:

3.如权利要求2所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述电动位移台包括:

4.如权利要求2所述的基于气相介质的超宽带太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述第一反射镜组包括:

5.如权利要求3所述的基于气相介质电离的太赫兹时域光谱仪,其特征在于,所述太赫兹波产生...

【专利技术属性】
技术研发人员:张逸竹陆俊臣曲秋红何明霞张家宁
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:

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