【技术实现步骤摘要】
本说明书实施例涉及对中纠偏，特别涉及一种对目标涂层进行对中纠偏的方法。
技术介绍
1、在锂电分切机系统中，一般采用双传感器对中纠偏模式，分别在材料的两个边沿安装两个光电传感器，以材料涂层的中心为纠偏中心点，无论材料幅宽是否变化，始终保证材料涂层的中心在一条直线上。上层的两个光电传感器通过控制器采集信号并进行处理。在锂电行业检测极片图层边沿时，由于上一道工序不能保证极片上下涂层是完全对齐的，有时会出现上层和下层的涂层出现错位。
2、因此，如何在传输过程中保证上下涂层保持对齐，具有十分重要的意义。
技术实现思路
1、有鉴于此，本说明书实施例提供了对目标涂层进行对中纠偏的方法。本说明书一个或者多个实施例同时涉及对目标涂层进行对中纠偏的系统，一种计算设备，一种计算机可读存储介质以及一种计算机程序，以解决现有技术中存在的技术缺陷。
2、根据本说明书实施例的第一方面，提供了一种对目标涂层进行对中纠偏的方法，所述目标涂层包括上层涂层以及下层涂层，所述上层涂层以及所述下层涂层的两侧边缘设置有两个光电传感器，所述下层涂层对应的下层光电传感器与副控制器连接，所述上层涂层对应的上层光电传感器与主控制器连接，所述方法包括：
3、主控制器接收所述下层光电传感器的第一位置信息以及所述上层光电传感器的第二位置信息；
4、根据所述第一位置信息以及所述第二位置信息计算所述目标涂层的纠偏中心位置信息；
5、根据所述纠偏中心位置信息判断所述目标涂层是否需要进行
6、在确定需要进行对中纠偏的情况下，根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏。
7、在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
8、所述副控制器被配置为获取所述下层涂层对应的下层光电传感器的第一位置信息，并将所述第一位置信息传输至所述主控制器。
9、在一种可能得实现方式中，所述根据所述第一位置信息以及所述上层涂层对应的上层光电传感器的第二位置信息计算所述目标涂层的纠偏中心位置信息，包括：
10、所述主控制器获取所述上层光电传感器的第二位置信息；
11、根据所述第一位置信息以及所述第二位置信息进行平均值滤波处理，计算所述目标涂层的纠偏中心位置信息。
12、在一种可能的实现方式中，所述根据所述纠偏中心位置信息判断所述目标涂层是否需要进行对中纠偏，包括：
13、根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息以及预设纠偏中心位置信息计算差值；
14、在所述差值大于预设纠偏中心位置阈值的情况下，确定所述目标涂层需要进行对中纠偏；或者，
15、在所述差值小于预设纠偏中心位置阈值的情况下，确定所述目标涂层不需要进行对中纠偏。
16、在一种可能的实现方式中，所述方法还包括视觉传感器位于所述上层涂层的边缘位置，所述方法还包括：
17、所述视觉传感器获取所述上层涂层对应极片的位置信息，并将所述极片的位置信息传输至所述主控制器；
18、相应的，所述根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏，包括：
19、所述主控制器根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息以及所述极片的位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏。
20、根据本说明书实施例的第二方面，提供了一种对目标涂层进行对中纠偏的系统，所述目标涂层包括上层涂层以及下层涂层，所述上层涂层以及所述下层涂层两侧边缘设置有两个光电传感器，所述下层涂层对应的下层光电传感器与副控制器连接，所述上层涂层对应的上层光电传感器与主控制器连接，所述系统包括光电传感器、副控制器、主控制器以及驱动器，所述主控制器被配置为：
21、接收所述副控制器传输的所述下层涂层对应的下层光电传感器的第一位置信息；
22、根据所述第一位置信息以及所述上层涂层对应的上层光电传感器的第二位置信息计算所述目标涂层的纠偏中心位置信息；
23、根据所述纠偏中心位置信息判断所述目标涂层是否需要进行对中纠偏；
24、在确定需要进行对中纠偏的情况下，根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏。
25、在一种可能的实现方式中，所述系统还包括视觉传感器，位于所述上层涂层的边缘位置，所述视觉传感器被配置为：
26、获取所述上层涂层对应极片的位置信息，并将所述极片的位置信息传输至所述主控制器；
27、在一种可能的实现方式中，所述根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏，包括：
28、根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息以及所述极片的位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏。
29、在一种可能的实现方式中，所述系统还包括逻辑控制器，所述逻辑控制被配置为：
30、向所述主控制器发送纠偏调整指令，其中，所述纠偏调整指令用于控制所述主控制器控制所述驱动器进行对中纠偏。
31、在一种可能的实现方式中，所述逻辑控制器进一步被配置为：
32、获取所述主控制器的控制信息，并展示所述控制信息，其中，所述控制信息包括所述目标涂层的纠偏中心位置信息、所述上层光电传感器与所述下层光电传感器的位置信息。
33、根据本说明书实施例的第三方面，提供了一种计算设备，包括：
34、存储器和处理器；
35、所述存储器用于存储计算机可执行指令，所述处理器用于执行所述计算机可执行指令，该计算机可执行指令被处理器执行时实现上述对目标涂层进行对中纠偏的方法的步骤。
36、根据本说明书实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其存储有计算机可执行指令，该指令被处理器执行时实现上述对目标涂层进行对中纠偏的方法的步骤。
37、根据本说明书实施例的第五方面，提供了一种计算机程序，其中，当所述计算机程序在计算机中执行时，令计算机执行上述对目标涂层进行对中纠偏的方法的步骤。
38、本说明书一个实施例提供的一种对目标涂层进行对中纠偏的方法，通过主控制器接收下层光电传感器的第一位置信息以及上层光电传感器的第二位置信息；根据第一位置信息以及第二位置信息计算目标涂层的纠偏中心位置信息；根据纠偏中心位置信息判断目标涂层是否需要进行对中纠偏；在确定需要进行对中纠偏的情况下，根据目标涂层的纠偏中心位置信息控制驱动器进行对中纠偏，也即，通过在上下层涂层设置光电传感器进而通过上下层光电传感器的位置信息实时检测目标涂层是否发生偏移，进而保证上下涂层保持对齐。
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1.一种对目标涂层进行对中纠偏的方法，其特征在于，所述目标涂层包括上层涂层以及下层涂层，所述上层涂层以及所述下层涂层的两侧边缘设置有两个光电传感器，所述下层涂层对应的下层光电传感器与副控制器连接，所述上层涂层对应的上层光电传感器与主控制器连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一位置信息以及所述上层涂层对应的上层光电传感器的第二位置信息计算所述目标涂层的纠偏中心位置信息，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述纠偏中心位置信息判断所述目标涂层是否需要进行对中纠偏，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括视觉传感器，所述视觉传感器位于所述上层涂层的边缘位置，所述方法还包括：
6.一种对目标涂层进行对中纠偏的系统，其特征在于，所述目标涂层包括上层涂层以及下层涂层，所述上层涂层以及所述下层涂层两侧边缘设置有两个光电传感器，所述下层涂层对应的下层光电传感器与副控制器连接，所述上层涂层对应
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括视觉传感器，位于所述上层涂层的边缘位置，所述视觉传感器被配置为：
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述根据所述目标涂层的纠偏中心位置信息控制所述驱动器进行对中纠偏，包括：
9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述系统还包括逻辑控制器，所述逻辑控制器被配置为：
10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述逻辑控制器进一步被配置为：
...【技术特征摘要】
1.一种对目标涂层进行对中纠偏的方法，其特征在于，所述目标涂层包括上层涂层以及下层涂层，所述上层涂层以及所述下层涂层的两侧边缘设置有两个光电传感器，所述下层涂层对应的下层光电传感器与副控制器连接，所述上层涂层对应的上层光电传感器与主控制器连接，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一位置信息以及所述上层涂层对应的上层光电传感器的第二位置信息计算所述目标涂层的纠偏中心位置信息，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述纠偏中心位置信息判断所述目标涂层是否需要进行对中纠偏，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括视觉传感器，所述视觉传感器位于所述上层涂层的边缘位置，所述方法还包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：杨牧，侯庆亮，马利伟，何佳程，
申请(专利权)人：钛玛科北京工业科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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