片上系统的验证方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

公开了一种片上系统的验证方法、装置、存储介质及电子设备，其中，片上系统的验证方法包括：确定片上系统的待测试设计、验证需求和用于对待测试设计进行验证的测试用例；根据待测试设计和验证需求，确定待测试设计中多个测试子系统分别对应的待处理任务和各待处理任务的描述信息；基于测试用例和各待处理任务的描述信息，调度对应的测试子系统对各待处理任务进行处理，得到各待处理任务的处理结果；根据测试用例和各待处理任务的处理结果，确定片上系统的验证结果。如此实现对待测试设计的各子系统的调度和验证。该调度方式使得各待处理任务的执行过程模块化，在实现对SoC进行验证的基础上，能够提升验证代码的可读性和可维护性。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及芯片设计，尤其涉及一种片上系统的验证方法、装置、计算机可读存储介质及电子设备。

技术介绍

1、片上系统(system on chip，soc)是一个有专用目标的集成电路，其中包含完整系统并有嵌入软件的全部内容。整个soc芯片开发中，在芯片进入生产之前，需要保证其设计完全符合需求规格，解决所有潜在的风险，并修正所有的缺陷，这样可以避免在流片后发现无法修正的硬件故障，降低后期的问题风险。随着soc芯片规模和功能的复杂度增加，验证的难度也随之上升。soc上需要验证的大量模块及模块之间复杂的调度流程，给整个soc验证带来了巨大的挑战。

技术实现思路

1、为了解决上述技术问题，本公开提供了一种片上系统的验证方法、装置、存储介质及电子设备，以实现对片上系统进行模块化地验证。

2、本公开的第一个方面，提供了一种片上系统的验证方法，包括：

3、确定所述片上系统的待测试设计、验证需求和用于对所述待测试设计进行验证的测试用例；

4、根据所述待测试设计和所述验证需求，确定所述待测试设计本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种片上系统的验证方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述测试用例和所述各待处理任务的处理结果，确定所述片上系统的验证结果，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述待测试设计和所述验证需求，确定所述待测试设计中多个测试子系统分别对应的待处理任务和各待处理任务的描述信息，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述根据所述多个测试子系统和所述验证需求，确定各测试子系统分别对应的待处理任务和各待处理任务的描述信息，包括：

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，所述基于所述测试用例和所述各待...

【技术特征摘要】

1.一种片上系统的验证方法，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述测试用例和所述各待处理任务的处理结果，确定所述片上系统的验证结果，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述待测试设计和所述验证需求，确定所述待测试设计中多个测试子系统分别对应的待处理任务和各待处理任务的描述信息，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述根据所述多个测试子系统和所述验证需求，确定各测试子系统分别对应的待处理任务和各待处理任务的描述信息，包括：

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中，所述基于所述测试用例和所述各待处理任务的描述信息，调度对应的测试子系统对所述各待处理任务进行处理，得到所述各待处理任务的处理结果，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述基于所述测试数据的存储地址、所述各待处理任务的描述信息中的任务描述信息和消息描述信息，调度对应的测试子系统对所述各待处...

【专利技术属性】
技术研发人员：李正玉，
申请(专利权)人：北京地平线信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：