孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统技术方案

技术编号:40399591 阅读:8 留言:0更新日期:2024-02-20 22:25
本技术涉及零件检测技术领域,尤其涉及孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统。其技术方案包括用于支撑设备的底板;安装在底板上用于组成孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统的进给机构、宽度检测机构和图像检测机构,所述进给机构上设置有待测零件,所述待测零件上设置有多个呈线性排列的贯穿孔。本技术通过进给机构、宽度检测机构和图像检测机构等结构的设计,同时测量则可以将所有孔的位置信息一次性获得,无需反复移动测量仪器,从而大大缩短了测量时间。对于批量生产中需要大量孔的零部件,同时测量可以快速获得所有孔的同心度信息,有助于及时调整生产参数、优化工艺流程,提高生产效率和产品质量。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及零件检测,尤其涉及孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统


技术介绍

1、直线电机待测零件等孔阵列待测零件,批量制造需要检测尺寸是否符合加工要求,主要有长、宽、孔径和孔间距尺寸,误差要求在0.05mm以下。现有办法主要采用卡尺测量长宽尺寸,用通止规测量孔的尺寸和间距,效率低,花费大量的人力。

2、图像检测具有非接触,速度快的特点,但是精度通常只有丝级。在先技术cn202310317234.8结合图像与机械方式,提高测量精度。但是当两边的孔不同心时,没法实现同时测量而降低了效率。而两边宽度可调加紧实现的宽度测量,只能测量宽度方向的最大尺寸,无法反应宽度随长度方向变化情况,来判别零件的加工质量。另外,检测过程中,机械部分产生磨损时,会导致测量误差。图像测量与机械测量互相校核必不可少。因此,边缘尺寸与孔中心的距离,需要采集零件边缘的图像进行检测,在先技术零件边缘被宽度调整机构接触,无法获得边缘特征。在先技术没有给出背光与同轴光复合的光照条件,无法实现沉孔内外孔径的高精度检测。


技术实现思路

1、本技术的目是针对
技术介绍
中存在的问题,提出孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统中现有直线电机磁板等孔阵列磁板零件主要采用卡尺测量长宽尺寸,用通止规测量孔的尺寸和间距,效率低,花费大量的人力的主题。

2、本技术的技术方案:孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,包括用于支撑设备的底板;

3、安装在底板上用于组成孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统的进给机构、宽度检测机构和图像检测机构,所述进给机构上设置有待测零件,所述待测零件上设置有多个呈线性排列的贯穿孔;

4、所述进给机构用于带动待测零件移动、以及进给机构的一侧设置有止回机构和位移检测元件,另一端设有零件到位检测传感器,止回机构和零件到位检测传感器测量待测零件长度,所述宽度检测机构用于测量待测零件的宽度,所述图像检测机构用于检测贯穿孔的孔径、孔中心坐标和孔中心到待测零件边线的距离,再将待测零件边线距离和孔间距之和与位移检测元件的测量结果进行校核,得到平面特征尺寸检测结果。

5、可选的,所述进给机构包括有直线模组、位移检测单元、辅助传动和支撑机构,所述直线模组包括有用于驱动负载在直线轨道上移动的直线电机。

6、可选的,所述宽度检测机构包括有导轨、以及用于抵住待测零件两侧的压轮和检测待测零件位移或位置变化的位移检测单元。

7、可选的,所述图像检测机构包括有背光源、同轴光源和工业相机,所述背光源、同轴光源和工业相机由下到上位于一条轴线上。

8、可选的,所述直线电机的平台上设置有用于支撑待测零件的支撑板,所述支撑板的一端设置有用于限制待测零件向一端滑动的止回机构。

9、可选的,所述支撑板底部设置与位移检测元件对应的读数头。

10、与现有技术相比,本技术具有如下有益的技术效果:

11、1、本技术通过进给机构、宽度检测机构和图像检测机构等结构的设计,同时测量则可以将所有孔的位置信息一次性获得,无需反复移动测量仪器,从而大大缩短了测量时间。对于批量生产中需要大量孔的零部件,同时测量可以快速获得所有孔的同心度信息,有助于及时调整生产参数、优化工艺流程,提高生产效率和产品质量;

12、2、通过测量零件两边的宽度,可以有效地检测加工过程中宽度是否均匀、对称,以及是否存在垂直或水平方向的变形或偏差。例如,在制造车身板金零件时,两边宽度的不一致可能表明存在内应力、压力不均等加工问题。如果存在不合格的加工质量,可以立即采取纠正措施,避免进一步的损失和延误;

13、3、由于直接接触边缘可以直接感知到边缘特征,因此可以实时获取反馈信号,及时调整宽度调整机构以确保加工质量。这种实时反馈有助于快速调整和纠正,提高生产效率并减少检测误差。

14、4、由于采用背光源、同轴光源复合照明,可以实现含有沉孔的螺钉孔的内外孔高精度检测,满足直线电机瓷板的测量需要。

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【技术保护点】

1.孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述进给机构包括有直线模组、位移检测单元、辅助传动和支撑机构,所述直线模组包括有用于驱动负载在直线轨道上移动的直线电机(2)。

3.根据权利要求1所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述宽度检测机构包括有导轨、以及用于抵住待测零件(11)两侧的压轮(6)和检测待测零件(11)位移或位置变化的位移检测单元。

4.根据权利要求1所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述图像检测机构包括有背光源(7)、同轴光源(8)和工业相机(9),所述背光源(7)、同轴光源(8)和工业相机(9)由下到上位于一条轴线上。

5.根据权利要求2所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述直线电机(2)的平台上设置有用于支撑待测零件(11)的支撑板(10),所述支撑板(10)的一端设置有用于限制待测零件(11)向一端滑动的止回机构(5)。

6.根据权利要求5所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述支撑板(10)底部设置与位移检测元件(3)对应的读数头(4)。

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【技术特征摘要】

1.孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述进给机构包括有直线模组、位移检测单元、辅助传动和支撑机构,所述直线模组包括有用于驱动负载在直线轨道上移动的直线电机(2)。

3.根据权利要求1所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系统,其特征在于,所述宽度检测机构包括有导轨、以及用于抵住待测零件(11)两侧的压轮(6)和检测待测零件(11)位移或位置变化的位移检测单元。

4.根据权利要求1所述的孔阵列平板零件平面特征尺寸检测系...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨志军唐标廖辉王沛森史本岩
申请(专利权)人:佛山市华道超精科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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