【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电容耦合测试，具体涉及一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法。
技术介绍
1、电容耦合系数(k值)和对地电容耦合不平衡(e值)是表征对称通信电缆抗干扰能力的主要参数，是电缆出厂的必检项目。对称通信电缆一般由两个线芯组成一个线对，两个线对组成一个四线组。线芯与线芯之间都存在着部分电容，对线之间的电容称为通信电缆的工作电容。电容耦合系数是用来表征不同线对之间的电容耦合情况。例如k1定义为四线组第一对实路与第二对实路间的电容耦合，即k1＝c13+c24-c23-c14；对地电容不平衡用来表示各芯线对地着部分电容不平衡的程度。例如，e1定义为第一对实路对地电容不平衡，即e1＝c10-c20。其中c13、c24、c23、c14、c10、c20均表示各线芯之间的部分电容。电容耦合测试仪是用来测试对称通信电缆四线组电容耦合系数和对地电容不平衡的一种专用仪器。常见的仪器有电桥式电容耦合测试仪、数字式电容耦合测试仪以及智能型电容耦合测试仪等。其中数字式和智能型电容耦合测试仪还可以检测对称电缆的工作电容(c值)。测量时被测四线组按照线序a、b、c、d及其地线同时接入仪器指定端口，根据需要选择不同的参数档位，从仪器读取对应的数值。
2、对称通信电缆的c值在几十纳法左右，k值和e值大小一般在几十皮法到几百皮法之间。电容耦合测试仪作为一种精密测量仪器，为保证测量结果的准确性，需要对其进行经常校验。目前校验方法参照jjg138《精密电容测量仪检定规程》进行，主要是将一已知电容值的电容器连接到仪器相应端口，从仪器端读取测量值，以确定
3、针对上述现有的电容耦合测试仪的校验方法存在的操作复杂、校验结果不能满足实际需要的技术问题，急需找到一种新的电容耦合测试仪校验装置及其校验方法，来简化操作步骤，缩短校验时间，反映测量线路在实际负载下的示值情况。
技术实现思路
1、为了克服上述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种电容耦合测试仪校验装置及其校验方法，以解决原校验方法操作复杂、校验结果不能满足实际需要的技术问题。
2、为了达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案予以实现：
3、本专利技术公开了一种电容耦合测试仪校验装置，
4、包括端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子，高值电容器c1和高值电容器c2，以及低值电容器c3、低值电容器c4和低值电容器c5；
5、高值电容器c1连接在端子1与端子2之间，高值电容器c2连接在端子3与端子4之间；低值电容器c3连接在端子2与端子3之间；低值电容器c4连接在端子1与接地端子之间，低值电容器c5连接在端子4与接地端子之间；
6、高值电容器c1由n1个10nf的标准电容器并联连接，n1＝1～10；
7、高值电容器c2由n2个10nf的标准电容器并联连接，n2＝1～10；
8、低值电容器c3由n3个100pf的标准电容器并联连接，n3＝1～10；
9、低值电容器c4由n4个100pf的标准电容器并联连接，n4＝1～10；
10、低值电容器c5由n5个100pf的标准电容器并联连接，n5＝1～10。
11、优选地，高值电容器c1和高值电容器c2，以及低值电容器c3、低值电容器c4和低值电容器c5封装在屏蔽盒内。
12、进一步优选地，高值电容器c1和高值电容器c2，以及低值电容器c3、低值电容器c4和低值电容器c5采用搭棚焊接的方式封装在金属屏蔽盒内。
13、优选地，端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子均为免剥线卡具。
14、进一步优选地，免剥线卡具为不锈钢钣金制成的弹簧卡。
15、进一步优选地，免剥线卡具一端开设有安装槽，另一端开设有卡口。
16、更进一步优选地，安装槽为u型安装槽。
17、更进一步优选地，卡口的开叉处向两侧折弯。
18、本专利技术还公开了上述电容耦合测试仪校验装置的校验方法，包括：
19、将电容耦合测试仪校验装置的端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子分别与待校验仪器的端口a、端口b、端口c、端口d和端口地依次进行正序连接；
20、(1)选择c1测量档，读取待校验仪器示值作为c1校验值；此时校验装置标称值为
21、+(n1×10)nf；
22、(2)选择c2测量档，读取待校验仪器示值作为c2校验值；此时校验装置标称值为
23、+(n2×10)nf；
24、(3)选择k1测量档，读取待校验仪器示值作为k1校验值；此时校验装置标称值为
25、+(n3×100)pf；
26、(4)选择e1测量档，读取待校验仪器示值作为e1校验值；此时校验装置标称值为
27、+(n4×100)pf；
28、(5)选择e2测量档，读取待校验仪器示值作为e2校验值；此时校验装置标称值为
29、-(n5×100)pf；
30、将各个校验值与电容耦合测试仪校验装置电容值进行比较，判定是否符合要求。
31、优选地，还包括：将电容耦合测试仪校验装置的端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子分别与仪器端口d、端口c、端口b、端口a和端口地依次进行逆序连接；
32、(1)选择c1测量档，读取待校验仪器示值作为c1校验值；此时校验装置标称值为
33、+(n2×10)nf；
34、(2)选择c2测量档，读取待校验仪器示值作为c2校验值；此时校验装置标称值为
35、+(n1×10)nf；
36、(3)选择k1测量档，读取待校验仪器示值作为本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，包括端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子，高值电容器C1和高值电容器C2，以及低值电容器C3、低值电容器C4和低值电容器C5；
2.根据权利要求1所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述高值电容器C1和高值电容器C2，以及低值电容器C3、低值电容器C4和低值电容器C5封装在屏蔽盒内。
3.根据权利要求2所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述高值电容器C1和高值电容器C2，以及低值电容器C3、低值电容器C4和低值电容器C5采用搭棚焊接的方式封装在金属屏蔽盒内。
4.根据权利要求1所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子均为免剥线卡具。
5.根据权利要求4所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述免剥线卡具为不锈钢钣金制成的弹簧卡。
6.根据权利要求4所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述免剥线卡具一端开设有安装槽，另一端开设有卡口。
7.根据权利要求6所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，
8.根据权利要求6所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述卡口的开叉处向两侧折弯。
9.权利要求1～8任意一项所述电容耦合测试仪校验装置的校验方法，其特征在于，包括：
10.根据权利要求9所述电容耦合测试仪校验装置的校验方法，其特征在于，还包括：将电容耦合测试仪校验装置的端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子分别与仪器端口d、端口c、端口b、端口a和端口地依次进行逆序连接；
...【技术特征摘要】
1.一种电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，包括端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子，高值电容器c1和高值电容器c2，以及低值电容器c3、低值电容器c4和低值电容器c5；
2.根据权利要求1所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述高值电容器c1和高值电容器c2，以及低值电容器c3、低值电容器c4和低值电容器c5封装在屏蔽盒内。
3.根据权利要求2所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述高值电容器c1和高值电容器c2，以及低值电容器c3、低值电容器c4和低值电容器c5采用搭棚焊接的方式封装在金属屏蔽盒内。
4.根据权利要求1所述的电容耦合测试仪校验装置，其特征在于，所述端子1、端子2、端子3、端子4和接地端子均为免剥线卡具。
5.根据权利要求4所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：第五俊峰，刘春喜，孙芳婷，曹潘，王兴文，
申请(专利权)人：西安西电光电缆有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。