一种X射线偏振度测量装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种X射线偏振度测量装置及方法，使偏振X射线以45度的入射角进入布拉格检偏晶体，之后进入探测器。使晶体和探测器所在电控转台转动，由于布拉格衍射强度受偏振度调制，最终探测器探测到的射线强度会随角度变化。拟合每个角度下探测器探测到的射线强度变化可以得到调制曲线，通过调制曲线的拟合参数得到偏振度。因此，使用无偏振测量能力的普通探测器，通过巧妙的设计实现偏振度的测量，可以避免康普顿散射探测器效率低和气体像素探测器数据获得困难的缺点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及偏振x射线的，特别是涉及一种x射线偏振度测量装置及方法。

技术介绍

1、偏振x射线的探测在x射线天文学领域越来越重要，探测偏振角能够更精确知道x射线的发射区域、发射机制、粒子加速和产生源的几何形状。偏振x射线探测是一个新兴的领域，常见的偏振x射线产生源是高能天体、同步辐射加速器和布拉格衍射装置。x射线的偏振与紫外线和可见光不同，因为x射线的波长太短，没办法制作适合的偏振片来检偏，因此需要一套不同的探测装置和探测方法。目前常用的x射线偏振探测器为气体像素探测器和康普顿散射探测器。

2、气体像素探测器的探测方法是在气体探测器的基础上，于探测器下方加入对电子灵敏的像素点阵。当带有偏振信息的光子入射到探测器时，光子在气体中会发射光电效应产生光电子，产生的光电子会受到光子偏振方向的影响进行移动。光电子在移动的过程中会被像素记录下径迹，使用算法重建光电子径迹之后就可以得到光子的偏振信息。这种方法在(2-8)kev能量范围内的偏振x射线非常实用，可以准确得到x射线的偏振信息，也有不错的能量分辨能力。但是气体像素探测器的制作，尤其是电子电路处理方本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种X射线偏振度测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的X射线偏振度测量装置，其特征在于，所述晶体支架具有调节所述布拉格检偏晶体左右倾斜角的第一调节单元和调节所述布拉格检偏晶体俯仰角的第二调节单元。

3.根据权利要求1所述的X射线偏振度测量装置，其特征在于，所述探测器安装于所述固定台上，所述固定台可滑动安装于所述电控转台上以调节所述探测器和所述布拉格检偏晶体的距离，所述固定台上设有调节所述探测器相对所述电控转台高度的旋钮。

4.根据权利要求1所述的X射线偏振度测量装置，其特征在于，根据所述偏振X光源的能量，在所述晶体支架上安装对应的所...

【技术特征摘要】

1.一种x射线偏振度测量装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的x射线偏振度测量装置，其特征在于，所述晶体支架具有调节所述布拉格检偏晶体左右倾斜角的第一调节单元和调节所述布拉格检偏晶体俯仰角的第二调节单元。

3.根据权利要求1所述的x射线偏振度测量装置，其特征在于，所述探测器安装于所述固定台上，所述固定台可滑动安装于所述电控转台上以调节所述探测器和所述布拉格检偏晶体的距离，所述固定台上设有调节所述探测器相对所述电控转台高度的旋钮。

4.根据权利要求1所述的x射线偏振度测量装置，其特征在于，根据所述偏振x光源的能量，在所述晶体支架上安装对应的所述布拉格检偏晶体。

5.一种x射线偏振度的测量方法，利用如权利要求1-4任意一项所述的x射线偏振度测量装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭思明，周幸，郄晓雨，樊丽鹏，舒子瑶，黄仕葵，余涛，郭锴悦，黄建微，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：