比特错误阈值和重映射存储装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了比特错误阈值和重映射存储装置，涉及对存储装置的重映射。

【技术实现步骤摘要】

所公开的本专利技术主题涉及对存储装置的重映射。
技术介绍
存储装置用于多种电子设备，例如计算机、蜂窝电话、PDA、数据记录器和导航设 备，这里只给出一些示例。在这种电子设备中，可以采用多种类型的非易失性存储装置，例 如NAND或NOR闪存、SRAM、DRAM和相变存储器，这里只给出一些示例。一般而言，可以使用 写入或编程处理在这种存储装置中存储信息，并可以使用读取处理来获取存储的信息。这种非易失性存储装置可以包括存储单元，存储单元随时间慢慢劣化，导致在对 这种存储单元进行存取时可能发生读取和/或写入错误的可能性增大。虽然随后可以在存 储装置内校正此类错误，但是随着例如错误数目的增长，这种错误校正可能变得很困难或 不可能了。
技术实现思路
在实施例中，存储装置可以包括随时间缓慢劣化的存储单元，这可能导致在对该 存储装置进行读取时出现一个或多个错误的可能性增大。从系统的角度来看，可以确定是 否继续使用这种易于出错的单元。该确定可以至少部分基于错误数量与错误阈值的比较， 该阈值可以例如在存储装置的设计期间确定。如果不继续使用特定存储单元，则可以以保 持整个存储装置容量的方式选择替代存储单元。例如，实现该实施例的方法可以包括确定比特错误率和/或比特错误数目，所述 比特错误率和/或比特错误数目与从存储器的特定部分读取的表示信息的信号相关联；将 所述比特错误率和/或比特错误数目与错误阈值进行比较；以及至少部分地根据所述比较 来确定是否停用所述存储器的所述特定部分。附图说明参照以下附图，描述非限制性和非穷尽实施例，在附图中，相似参考数字指代相似 部分，除非有特别说明。图1是根据实施例的存储器配置的示意图；图2是根据实施例的存储器读取处理的流程图；图3是根据实施例的矢量重映射表的示意图；图4是根据实施例的存储系统的示意框图；图5是根据实施例的计算系统和存储装置的示意框图。具体实施例方式在本说明书中，对“一个实施例”或“实施例”的引述意味着，结合该实施例描述的 具体特征、结构或特点包括在所要求保护的主题的至少一个实施例中。因此，在本说明书中4多处出现的短语“在一个实施例中”或“在实施例中”不一定全部是指同一实施例。此外， 具体特征、结构或特点可以结合在一个或更多实施例中。在实施例中，存储装置可以包括存储单元，存储单元随时间慢慢劣化，导致在对这 种存储装置进行读取时可能发生一个或多个错误的可能性增大。例如，可以使用纠错码 (ECC)或其他此类算法，在计算系统内的若干区域内纠正这种错误。从系统角度来看，可 以确定是否要继续使用这种易出错的单元。如下要详细说明的，这种确定可以至少部分地 基于此类错误的数目与错误阈值的比较，其中错误阈值可以在例如存储装置的设计阶段定 义。如果要中断对特定的存储单元的使用，则可以按照保持存储装置总容量的方式来选择 替代的存储单元。因此，在一个实施例中，保持存储装置的大小容量的处理包括将易出错的存储位 置重映射到正常工作的存储位置，而不损失总的系统存储空间(例如，存储装置容量)。这 种重映射可以至少部分地基于与因从易出错的存储位置进行读取而发生错误的量和/或 频率有关的信息。这里，存储位置是指例如可以使用标识这种存储位置和/或部分的地址， 经由读取和/或写入处理来访问的存储装置的一部分。如下要详细说明的，例如，ECC解码 器可以用于确定与读取存储器特定部分相关联的比特错误率和/或比特错误数目。随后， 可以将比特错误率和/或比特错误数目与错误阈值相比较，例如该错误阈值可以包括到对 接受错误数目的实质性限制。根据这种比较的结果，可以决定是否停用产生错误的存储器 的特定部分，例如中断对其的使用。在特定实施例中，停用存储装置的一部分的处理可以包括将代表存储在存储装 置的要停用的一部分中的数据的信号传送到存储装置的另一部分。在一种实施方式中，可 以将代表从存储装置的停用部分重定位的数据的信号移动到存储装置的备用部分。例如， 这种存储器备用部分可以包括存储装置中初始没有被识别或考虑作为存储装置的整个容 量的一部分的物理位置，如下要详细说明的。停用存储装置的一部分的处理还可以包括将 存储装置的要停用部分的地址重映射成对应于存储装置的新的备用部分的地址。当然，这 些处理仅仅是示例，本专利技术要保护的主题不限于此。在一个实施例中，例如上述处理可以涉及包括相变存储(PCM)器件的存储装置。 因此，随着PCM老化，由PCM的部分产生的比特错误率和/或比特错误数目可能增大。在一 定程度上，可以使用例如ECC解码器和/或其他纠错算法来纠正这些错误。但是，错误数目 可能增大，超出了这些纠错技术的能力。因此，希望在指示这种存储器部分已经或正开始产 生过量错误时，就停用这种存储器部分。例如上述的实施例可以允许成功使用涉及到相对不可靠技术的存储装置，例如当 前被忽视的具有较低可靠测试结果的管芯(die)或PCM管芯。此外，这些实施例可以将存 储装置的寿命延长到其大多数存储单元的寿命，而不是其相对少量的存储单元的寿命。图1是根据实施例的存储器配置的示意图。存储装置100可以划分成主存储器 110和备用存储器120。存储装置100可以包括例如NAND或NOR闪存、SRAM、DRAM或PCM， 这里只给出一些示例。存储装置100可以包括具有这种主和备用存储器部分以及/或者一 个或多个其他存储器部分的用户可寻址存储空间，这些存储器部分可以是或不是彼此邻接 的，可以驻留或不驻留在单个装置中。主存储器Iio和备用存储器120可以包括可独立寻 址的空间，这些空间可通过例如读取、写入和/或擦除处理来访问。5根据实施例，存储装置100的一个或多个部分可以存储表示由存储装置100的特 定状态表达的数据和/或信息的信号。例如，可以通过影响或改变存储装置100的一部分 的状态，将数据和/或信息表示为二进制信息(例如，1和0)，来在存储装置100的该部分 中“存储”表示数据和/或信息的电子信号。这样，在特定实施方式中，改变存储器的一部 分的状态来存储表示数据和/或信息的信号，这构成了将存储装置100变换到不同的状态 或事物。存储装置100可以配置为初始包括与存储装置100的全部可用容量对应的主存储 器110。这种初始配置可以额外地包括备用存储器120，在确定存储装置容量时，不需要包 括备用存储器120。但是，如果主存储器的部分变得不可用或例如在读取/写入处理期间造 成过量的错误，则可以使用备用存储器120来替代主存储器110的部分。在一种实施方式 中，包括存储装置100的存储系统可以使处理器或存储装置100中存储的数据的其他外部 请求方从特定请求地址范围接收无错误的数据，即使这种地址范围的一部分包括被停用的 主存储器。在这种情况下，例如可以从主存储器和(代替被停用主存储器的)备用存储器 二者读取数据块，而无需请求方的知识。当然，这种存储器配置仅仅是示例，本专利技术要保护 的主题不限于此。图2是根据实施例的存储器读取处理200的流程图。在框205，例如可以通过系 统应用来发起读取处理以读取表示在存储装置的一部分中存储的信息的信号，所述系统应 用提供了一个或多个读取地址，以便分别标识要从中读取存储数据的一个或更多个存储位 置。例如利用奇偶校验读取数据，ECC本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方法，包括：确定比特错误率和／或比特错误数目，所述比特错误率和／或比特错误数目与从存储器的特定部分读取的表示信息的信号相关联；将所述比特错误率和／或比特错误数目与错误阈值进行比较；以及至少部分地根据所述比较来确定是否停用所述存储器的所述特定部分。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：斯蒂芬鲍尔斯，古尔吉拉特比林，
申请(专利权)人：恒忆有限责任公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]