一种参考模型生成方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:40331627 阅读:22 留言:0更新日期:2024-02-09 14:23
本发明专利技术公开了一种参考模型生成方法、装置、设备及存储介质,涉及芯片验证技术领域,包括:基于功能覆盖点建立寄存器传输级内部变量与激励内部变量之间的目标映射关系;根据获取到的目标寄存器传输级内部变量读取出目标寄存器传输级文件,对目标寄存器传输级文件进行分析以确定目标寄存器传输级内部变量所参与的目标运算逻辑算法;根据目标映射关系确定获取到的目标激励内部变量与目标运算逻辑算法之间的联系;根据外部输入的目标信息和上述联系生成验证平台所需的目标参考模型。本发明专利技术通过激励内部变量与寄存器传输级内部变量的映射,生成参考模型,从而节省模块级验证时编写参考模型所需的时间和人力成本,提高了芯片验证的效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及芯片验证,特别涉及一种参考模型生成方法、装置、设备及存储介质


技术介绍

1、芯片验证主要是针对芯片设计出来的rtl(register transfer level,寄存器传输级)代码进行功能验证,来确保设计出的代码的可靠性与实用性。

2、随着近年来芯片的应用愈加广泛,对于芯片的性能要求和复杂程度也越来越高,在实际的项目研发过程中,芯片的需求并不是一成不变的,随着客户的需求变化,芯片的功能需求增加,芯片的设计和验证都需要针对增加的功能点增加相应的代码,对于芯片验证来说,需求的增加意味着需要验证的功能点增加,为了保证芯片验证的充分性与完备性,相对应验证平台发出的激励的种类就要进行相应的修改,即增加之前的激励中的变量和约束。

3、对于芯片验证平台而言,产生的激励需要通过传输至参考模型进行高级软件语言的逻辑运算,在计分板中将运算得到的结果与实际的rtl产生的值进行比较,从而判断芯片设计的功能是否正确和完善。在芯片的设计规范不断迭代完善的过程中,验证人员需要同步的对搭建好的验证平台的相关逻辑进行修改或补充,尤其是参考模型组件,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种参考模型生成方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述基于待验证芯片的功能覆盖点建立寄存器传输级内部变量与激励内部变量之间的目标映射关系之前,还包括:

3.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述获取对所述待验证芯片进行模块级验证时所需的目标寄存器传输级内部变量和目标激励内部变量,包括:

4.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述对所述目标寄存器传输级文件进行分析以确定所述目标寄存器传输级内部变量所参与的目标运算逻辑算法,包括:

5.根据权利要求1所述的参考模型...

【技术特征摘要】

1.一种参考模型生成方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述基于待验证芯片的功能覆盖点建立寄存器传输级内部变量与激励内部变量之间的目标映射关系之前,还包括:

3.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述获取对所述待验证芯片进行模块级验证时所需的目标寄存器传输级内部变量和目标激励内部变量,包括:

4.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述对所述目标寄存器传输级文件进行分析以确定所述目标寄存器传输级内部变量所参与的目标运算逻辑算法,包括:

5.根据权利要求1所述的参考模型生成方法,其特征在于,所述对所述目标寄存器传输级文件进...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔德智博姚香君夏丽煖刘世伟刘胜军覃耀张楠王雷孟阳
申请(专利权)人:山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
类型:发明
国别省市:

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