【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学检测领域，具体涉及一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置及其测量方法。
技术介绍
1、角度测量光学系统主要方法是利用光学自准直法，检测原理是光学上使物体和像分别位于共轭平面上，当物体发生转动时，物体在像面上的像也随之发生移动，通过测量像点的移动量，可以求出物体的转动角度，实现对角度的精密测量。但是，这种技术测量所得的角度为空间角，只有当待测角度的两边分别与旋转轴严格平行时，旋转轴的旋转角度才精确等于待测角度。所以，为了使所测得的空间角能够精确转化为待测角度，需要先确定旋转轴与光轴之间的相对位置，即确定测量基准旋转轴的姿态。
技术实现思路
1、为了解决上述问题，本专利技术提出了一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置及其测量方法，可以建立起一个测量系统，测量并量化出基准旋转轴的姿态，以利于后续加工、检测、装配等使用。
2、为了实现上述目的，一方面本专利技术提出了以下技术方案：
3、一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置，所述装置包括：基准棱镜，自准直仪，旋转台，支撑台，隔振台和显示控制器；
4、其中，所述旋转台和支撑台位于所述隔振台上方，所述基准棱镜位于所述旋转台上方中心位置，所述自准直仪位于所述支撑台上方且与所述显示控制器相连，所述显示控制器用于显示并保存自准直仪发出的光经基准棱镜a/b表面反射回自准直仪的光与自准直仪发射光束之间的俯仰方向的倾斜角度；
5、所述旋转台旋转时带动所述基准棱镜同步旋转；
6、所述装置被配置
7、另一方面，本专利技术还提出了一种基于上述一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置的测量方法，该方法包括以下步骤：
8、步骤(1)、把基准棱镜放置在旋转台台面的中心位置，放置并调整自准直仪光轴对准基准棱镜a表面中心；
9、步骤(2)、调整自准直仪的位置，使基准棱镜a表面的反射光束能够进入所述自准直仪；
10、步骤(3)、转动旋转台的旋转轴，在视场范围内进行自准直仪的扫平操作；
11、步骤(4)、完成以上操作后，调整自准直仪发出的光束落在基准棱镜的a表面上，且a表面的反射光束进入自准直仪中心，调整其方位读数为0，使用显示控制器记录自准直仪的俯仰方向角度读数α；
12、步骤(5)、将旋转台旋转°，使自准直仪发出的光束落在基准棱镜的b表面上，且b表面的反射光束进入自准直仪中心，调整其方位读数为0，使用显示控制器记录自准直仪的俯仰方向角度读数β；
13、步骤(6)、采用步骤(4)和步骤(5)的测量结果，计算自准直仪的两次俯仰方向角度读数即为旋转台测量基准旋转轴的姿态与自准直仪光轴的相对位置关系量化结果。此结果可根据需要应用于加工、检测、装配等过程。
14、本专利技术与现有技术相比的优点在于：
15、(1)、精密测角方面：现有技术在棱镜等工件加工过程中，受设备精度、选用材料、环境、人员等影响，导致直接检测工件时带入很大的测量误差；本专利技术在建立测量基准旋转轴的过程中，使用基准棱镜作为基准转化的媒介，保证了基准转化过程中，角度测量的精度仅受到旋转台和基准棱镜加工精度的影响，保证了角度测量的高精度性。
16、(2)、批量化角度检测：现有技术在棱镜等工件加工过程中，单件调整检测，效率低：本专利技术在找到并量化确定旋转台中心和自准直仪光轴的位置关系并固化后，即可进行批量检测，实现了保证高精度测量的前提下，提高了角度测量的效率。
17、(3)、基准旋转轴姿态量化方面：现有技术在旋转台中心插入芯轴，后通过拿平面镜靠芯轴的方法，把旋转台旋转中心的姿态寻找并量化出来，这种现有方法是通过接触式和非接触式方法转化完成测量，精度受芯轴圆度等机械加工影响，精度低(1″)；本专利技术通过基准转化，建立了新的测量基准旋转轴，并用自准直仪把旋转台的旋转轴姿态量化出来，可大量应用于加工、检测、装配等过程中。
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1.一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置，其特征在于，所述装置包括：基准棱镜(101)，自准直仪(102)，旋转台(103)，支撑台(104)，隔振台(105)和显示控制器(106)；
2.一种基于权利要求1所述的一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置的测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，
【技术特征摘要】
1.一种确定测量基准旋转轴的姿态的装置，其特征在于，所述装置包括：基准棱镜(101)，自准直仪(102)，旋转台(103)，支撑台(104)，隔振台(105)和显示控制器(106)；...
【专利技术属性】
技术研发人员：张海妮，李东阳，
申请(专利权)人：中国科学院光电技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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