【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及采样芯片测试，尤其涉及一种采样芯片测试装置及方法。
技术介绍
1、在电路运行时，需要对电路中的参数进行采样，例如电流参数和压参数等。在采样时，一般用采样芯片进行采集。采样芯片包括模拟数字转换器(analog to digitalconverter，adc)芯片。
2、采样芯片的幅度增益是采样芯片的重要性能指标，容易受到制造工艺的影响，导致同批次生产的采样芯片的幅度增益是不同，而在一些含有多通道采样电路的设备中，比如雷达设备，对采样芯片的性能具有严格的要求，两路同样的模拟信号通过不同采样芯片采集通道后，如果幅度增益的一致性不好，那么无论对后级的相关处理还是波束合成处理都会造成更大的误差，从而降低了设备的可靠性。
3、但是现有的对采样芯片的测试，无法准确对多个不同采样芯片的一致性进行测试。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种采样芯片测试装置及方法，以解决无法准确对多个不同采样芯片的一致性进行测试的问题。
2、根据本专利技术的一方面，提供了一种采样芯片测试装置，采样芯片测试装置包括：信号发生模块、第一开关模块、多个第一功分模块、标准采样芯片和控制模块；
3、所述第一开关模块与所述信号发生模块连接，所述第一开关模块与多个所述第一功分模块的输入端连接，所述第一开关模块与所述控制模块连接，所述第一开关模块用于根据所述控制模块的控制信号，控制所述信号发生模块与选中第一功分模块连接；
4、所述第一功分模块的两个输出端分别
5、所述控制模块与所述信号发生模块连接，所述控制模块用于控制所述信号发生模块输出的测试信号的幅度；
6、所述控制模块与所述标准采样芯片和多个所述待测采样芯片连接，所述控制模块用于接收所述标准采样芯片采集的标准信号和所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片采集的多个待测信号，并根据所述标准信号和多个所述待测信号确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的一致性值，并根据多个所述一致性值确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的变化率。
7、可选地，所述测试装置还包括第二开关模块；
8、所述第二开关模块与多个所述第一功分模块的第一输出端连接，所述第二开关模块与所述标准采样芯片连接，所述第二开关模块与所述控制模块连接，所述第二开关模块用于根据所述控制模块的控制信号控制所述标准采样芯片与选中第一功分模块连接。
9、可选地，所述测试装置还包括时钟模块和第二功分模块；
10、所述第二功分模块与所述时钟模块连接，所述第二功分模块分别与所述标准采样芯片和多个所述待测采样芯片连接，所述时钟模块用于根据所述测试信号的频率输出预设频率的时钟信号，以使所述预设频率为所述测试信号的频率的整数倍。
11、可选地，所述第一功分模块包括一分二功分器；
12、所述一分二功分器的输入端与所述信号发生模块电连接，所述一分二功分器的第一输出端与所述标准采样芯片电连接，所述一分二功分器的第二输出端与所述待测采样芯片电连接。
13、可选地，所述第二功分模块包括一分多功分器；
14、所述一分多功分器的输入端与所述时钟模块电连接，所述一分多功分器第一输出端与所述标准采样芯片电连接，所述一分多功分器的第二输出端与多个所述待测采样芯片电连接。
15、可选地，所述第一开关模块包括多个第一开关；
16、所述第一开关的第一端与所述信号发生模块电连接，所述第一开关的第二端与所述第一功分模块电连接，所述第一开关的控制端与所述控制模块电连接；
17、所述第二开关模块包括多个第二开关；
18、所述第二开关的第一端与所述第一功分模块电连接，所述第二开关的第二端与所述标准采样芯片电连接，所述第二开关的控制端与所述控制模块电连接。
19、可选地，所述测试装置还包括屏蔽外壳，所述信号发生模块、所述第一开关模块、所述多个第一功分模块、所述标准采样芯片和所述控制模块位于所述屏蔽外壳内。
20、根据本专利技术的另一方面，提供了一种采样芯片测试方法，所述测试方法由本专利技术任一实施例所述的采样芯片测试装置实现，所述测试装置包括：信号发生模块、第一开关模块、多个第一功分模块、标准采样芯片和控制模块；所述第一开关模块与所述信号发生模块连接，所述第一开关模块与多个所述第一功分模块的输入端连接，所述第一开关模块与所述控制模块连接，所述第一功分模块的两个输出端分别与所述标准采样芯片和一待测采样芯片连接，所述控制模块与所述信号发生模块连接，所述控制模块与所述标准采样芯片与多个所述待测采样芯片连接；所述测试方法由所述测试装置执行；所述测试方法包括：
21、向所述第一开关模块发送包含选中功分模块信息的控制信号，以使所述第一开关模块根据所述控制模块的控制信号，控制所述信号发生模块与所述选中第一功分模块连接；
22、接收所述标准采样芯片采集的标准信号和所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片采集的多个待测信号，并根据所述标准信号和多个所述待测信号确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的一致性值，并根据多个所述一致性值确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的变化率。
23、可选地，根据所述标准信号和多个所述待测信号确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的一致性值，包括：
24、计算所述标准信号的第一幅值与多个所述待测信号的第二幅值，根据所述第一幅值和多个所述第二幅值得到多个所述一致性值；
25、根据多个所述一致性值确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的变化率，包括：
26、计算所有所述一致性值的平均值；
27、将每一所述一致性值与所述平均值的差值作为所述待测采样芯片的变化量，并根据多个所述变化量得到所述变化率。
28、可选地，在根据所述标准信号和多个所述待测信号确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的一致性值，并根据多个所述一致性值确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的变化率之后，还包括：
29、在所述一致性值处于第一预设范围内、且所述变化率处于第二预设范围内时，确定对应的待测采样芯片正常。
30、本专利技术实施例的技术方案，采样芯片测试装置包括：信号发生模块、第一开关模块、多个第一功分模块、标准采样芯片和控制模块，第一功分模块可以将一路测试信号分为两路输出，两路测试信号分别传输至标准采样芯片和待测采样芯片，使得输入至标准采样芯片和待测采样芯片的测试信号相同，有利于提升测试的准确度。控制模块通过控制第一开关模块的导通状态，可以控制信号发生模块与不同的第一功分模块连接，实现对不同待测采样芯片的测试，进而实现对多个待测采样芯片进行性能测试。控制模块可以接收标准采样芯片采集的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种采样芯片测试装置，其特征在于，包括：信号发生模块、第一开关模块、多个第一功分模块、标准采样芯片和控制模块；
2.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括第二开关模块；
3.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括时钟模块和第二功分模块；
4.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述第一功分模块包括一分二功分器；
5.根据权利要求3所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述第二功分模块包括一分多功分器；
6.根据权利要求2所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述第一开关模块包括多个第一开关；
7.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括屏蔽外壳，所述信号发生模块、所述第一开关模块、所述多个第一功分模块、所述标准采样芯片和所述控制模块位于所述屏蔽外壳内。
8.一种采样芯片测试方法，其特征在于，所述测试方法由权利要求1-7任一项所述的采样芯片测试装置实现，所述测试装置包括：信号发生模块、第一开关模块、
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据所述标准信号和多个所述待测信号确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的一致性值，包括：
10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，在根据所述标准信号和多个所述待测信号确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的一致性值，并根据多个所述一致性值确定所述选中第一功分模块对应的待测采样芯片的变化率之后，还包括：
...【技术特征摘要】
1.一种采样芯片测试装置，其特征在于，包括：信号发生模块、第一开关模块、多个第一功分模块、标准采样芯片和控制模块；
2.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括第二开关模块；
3.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括时钟模块和第二功分模块；
4.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述第一功分模块包括一分二功分器；
5.根据权利要求3所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述第二功分模块包括一分多功分器；
6.根据权利要求2所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述第一开关模块包括多个第一开关；
7.根据权利要求1所述的采样芯片测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括屏蔽外壳，所述信号发生模块、所述第一开关模块、所述多个第一功分模块、所述标准采样芯片和所述控制模块位于所述屏蔽外壳内。
8.一种采样芯片测试方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：关志华，陈军健，张巧惠，邓清唐，陶伟，王泽宇，
申请(专利权)人：南方电网数字电网研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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