【技术实现步骤摘要】
本专利技术一般涉及航天器冲击环境效应领域，具体涉及一种电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、当航天器在运行过程中遇到冲击载荷时，其内部电子器件会受到相应程度的损坏，而电子器件遭受损坏后的剩余寿命会直接影响到航天器性能。现有技术中，针对普通电子器件，一般会通过搭建真实场景或模拟试验评估电子器件的剩余寿命。
2、但由于航天器冲击环境的特殊性，无法开展大量试验对电子器件进行寿命评估，这就导致电子器件的寿命评估结果仍存在准确性不高的问题。
技术实现思路
1、鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质，能够利用应变模拟模型确定出电子器件的最大应力，并利用最大应力确定出电子器件在各个冲击下的寿命损伤结果，从而提高电子器件的寿命评估结果的准确性。
2、第一方面，提供了一种电子器件的寿命评估方法，该方法包括：
3、获取电子器件在不同应变率下的形变参数，并根据形变参数获取电子器件的应变模拟模型；形变参数...
【技术保护点】
1.一种电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述应变模拟模型用于表征所述电子器件的稳态蠕变阶段等效塑性应变率以及所述电子器件的初始蠕变阶段等效塑性应变率。
3.根据权利要求2所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述稳态蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：
4.根据权利要求2所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述初始蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：
5.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述方法还包括：>
6.根据权利...
【技术特征摘要】
1.一种电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述应变模拟模型用于表征所述电子器件的稳态蠕变阶段等效塑性应变率以及所述电子器件的初始蠕变阶段等效塑性应变率。
3.根据权利要求2所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述稳态蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：
4.根据权利要求2所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述初始蠕变阶段等效塑性应变率满足以下公式：
5.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求1所述的电子器件的寿命评估方法，其特征在于，所述基于所...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱建斌，杨艳静，李毅，朱云飞，晏廷飞，刘闯，路东东，沈志强，信奇，张君，高海洋，薛倩，刘振皓，齐正磐，
申请(专利权)人：北京卫星环境工程研究所，
类型：发明
国别省市：
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