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电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:40295809
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本申请公开了一种电子器件的寿命评估方法、装置、设备及存储介质,该方法包括:获取电子器件在不同应变率下的形变参数,并根据形变参数获取电子器件的应变模拟模型;形变参数用于表征电子器件的形变程度;基于应变模拟模型,获得电子器件在不同应力下的应变响...
该专利属于北京卫星环境工程研究所所有,仅供学习研究参考,未经过北京卫星环境工程研究所授权不得商用。
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