【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体,尤其涉及一种基于高带宽互联技术的半导体器件。
技术介绍
1、半导体行业中,由于芯片成本的增大和晶体管数量的增多,芯片复杂度的提高正在放缓。当工艺普遍进入纳米级别后,摩尔定律已经不再适用。以英特尔cpu演化历史为例,每颗芯片上集成的晶体管数量尽管在持续增加,但时钟频率的提升已非常艰难,散热能力限制带来的功耗墙同样明显,此外,从商业维度看,随着先进制程芯片研发制造成本飙升,晶体管单位成本的下降也难以为继。为了克服上述问题,chiplet技术应运而生,chiplet技术是把单个大硅片“切”成多个再从封装级组装起来。单个硅片上的布线密度和信号传输质量远远高于chiplet之间,因此需要发展出高密度、大带宽布线的“先进封装技术”,以尽可能提升多个chiplet之间布线的数量并提升信号传输质量。在chiplet应用中,die to die的高速互联成为业界必须解决的一个环节。
2、图1为现有的die to die互联模式示意图。其中,rx指接收端,tx指发送端,die1指芯粒1,die2指芯粒2,module指模块,m
...【技术保护点】
1.一种基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,对于任一目标IO芯粒,所述目标IO芯粒还包括与微凸块成对设置的硅通孔。
3.根据权利要求2所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,对于任一主控单元,IO模块中的底层IO芯粒和扩展IO芯粒通过硅通孔和微凸块实现堆叠互联。
4.根据权利要求3所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,所述底层IO芯粒和扩展IO芯粒通过硅通孔和微凸块实现堆叠互联,具体包括:
5.根据权利要求1所述的基
...【技术特征摘要】
1.一种基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,对于任一目标io芯粒,所述目标io芯粒还包括与微凸块成对设置的硅通孔。
3.根据权利要求2所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,对于任一主控单元,io模块中的底层io芯粒和扩展io芯粒通过硅通孔和微凸块实现堆叠互联。
4.根据权利要求3所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,所述底层io芯粒和扩展io芯粒通过硅通孔和微凸块实现堆叠互联,具体包括:
5.根据权利要求1所述的基于高带宽互联技术的半导体器件,其特征在于,对于任一主控单元,soc芯粒包括对应的微凸块,soc芯粒的第一目标微凸块通过第一互连结构中的走线与底层io芯粒的对应微凸块连接。
6.根据权利要求5所述的基于高带宽互联技术的半导体器件...
【专利技术属性】
技术研发人员:王晓阳,刘付龙,何亚军,
申请(专利权)人:北京奎芯集成电路设计有限公司,
类型:发明
国别省市:
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