【技术实现步骤摘要】
本技术涉及翻转装置，尤其涉及一种半导体检测用翻转装置。
技术介绍
1、在半导体器件的生产过程中，从半导体单晶片到制成最终成品，须经历数十甚至上百道工序。为了确保产品性能合格、稳定可靠，并有高的成品率，根据各种产品的生产情况,对所有工艺步骤都要有严格的具体要求。所以,在半导体的生产过程中必须建立相应的系统和精确的监控措施，这些措施首先要从半导体工艺检测着手，在半导体的检测过程中需要用到翻转装置，以此来帮助半导体完成检测。
2、现有的半导体检测用翻转装置多为直接对半导体进行夹持进行检测，但是在检测后需要对装置进行一系列操作，再手动将半导体材料从装置上取下，费时费力，针对上述问题，提出一种半导体检测用翻转装置。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决上述
技术介绍
中所提到现有的半导体检测用翻转装置多为直接对半导体进行夹持进行检测，但是在检测后需要对装置进行一系列操作，再手动将半导体材料从装置上取下，费时费力的问题，而提出的一种半导体检测用翻转装置的技术。
2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体检测用翻转装置，包括移出结构，所述移出结构的顶部安装有支撑结构，所述支撑结构的一侧插设有限位结构，所述限位结构的一侧螺纹连接有固定结构，所述支撑结构的一侧插设有卡位结构；
3、所述移出结构包括支撑底座，所述支撑底座的顶部连接有移出盒，所述移出盒的顶部开设有落料槽，所述支撑底座的内壁底部开设有斜槽，所述支撑底座的一侧连接有出料底座，所述出料底座的
4、优选的，所述限位结构包括转杆，所述转杆的一端固定连接有限位柱，所述转杆的外表壁插设有手拉块，所述限位柱的一端固定连接有限位板，所述限位板的一侧开设有槽孔。
5、优选的，所述固定结构包括转动杆，所述转动杆的一端固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆的一端卡接有第一卡位块，所述第一卡位块的一端卡接有连接环，所述连接环设置在槽孔的内壁，所述螺纹杆在转杆的内部螺纹连接，所述转动杆的外表壁插设有手拉杆。
6、优选的，所述卡位结构包括不动柱，所述不动柱的一端插设有第二卡位块，所述第二卡位块的一端卡接有转动块，所述转动块的一端插设有竖杆，所述竖杆的一端固定连接有连接套环，所述连接套环的内壁设置有连接杆。
7、优选的，所述连接杆的一端连接有左卡位块，所述连接杆的另一端连接有右卡位块，所述右卡位块和左卡位块之间插设有伸缩杆，所述伸缩杆的外表壁套设有弹簧。
8、优选的，所述支撑结构包括支撑底板，所述支撑底板的顶部开设有漏料槽，所述支撑底板的底部与移出盒的顶部相连接，所述支撑底板的顶部固定连接有限位支撑板，所述限位支撑板的一侧开设有限位孔，所述限位柱设置在限位孔的内部，所述支撑底板的顶部固定连接有卡位支撑板，所述卡位支撑板的一侧开设有卡位孔，所述转动块设置在卡位孔的内部。
9、与现有技术相比，本技术的优点和积极效果在于，
10、1、本技术中，通过物料从落料槽落下，在斜槽的作用下通过出料口向出料盒滑落，可以起到将不用的物料方便取下的作用。
11、2、本技术中，通过将手拉杆围绕转动杆在转杆内部进行旋转，可以起到连接环对物料进行限位的作用。
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1.一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：包括移出结构(1)，所述移出结构(1)的顶部安装有支撑结构(5)，所述支撑结构(5)的一侧插设有限位结构(3)，所述限位结构(3)的一侧螺纹连接有固定结构(2)，所述支撑结构(5)的一侧插设有卡位结构(4)；
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述限位结构(3)包括转杆(301)，所述转杆(301)的一端固定连接有限位柱(303)，所述转杆(301)的外表壁插设有手拉块(302)，所述限位柱(303)的一端固定连接有限位板(304)，所述限位板(304)的一侧开设有槽孔(305)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述固定结构(2)包括转动杆(201)，所述转动杆(201)的一端固定连接有螺纹杆(202)，所述螺纹杆(202)的一端卡接有第一卡位块(204)，所述第一卡位块(204)的一端卡接有连接环(205)，所述连接环(205)设置在槽孔(305)的内壁，所述螺纹杆(202)在转杆(301)的内部螺纹连接，所述转动杆(201)的外表壁插设有手拉杆(203
4.根据权利要求3所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述卡位结构(4)包括不动柱(401)，所述不动柱(401)的一端插设有第二卡位块(402)，所述第二卡位块(402)的一端卡接有转动块(403)，所述转动块(403)的一端插设有竖杆(404)，所述竖杆(404)的一端固定连接有连接套环(410)，所述连接套环(410)的内壁设置有连接杆(409)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述连接杆(409)的一端连接有左卡位块(405)，所述连接杆(409)的另一端连接有右卡位块(406)，所述右卡位块(406)和左卡位块(405)之间插设有伸缩杆(407)，所述伸缩杆(407)的外表壁套设有弹簧(408)。
6.根据权利要求4所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述支撑结构(5)包括支撑底板(501)，所述支撑底板(501)的顶部开设有漏料槽(506)，所述支撑底板(501)的底部与移出盒(101)的顶部相连接，所述支撑底板(501)的顶部固定连接有限位支撑板(504)，所述限位支撑板(504)的一侧开设有限位孔(505)，所述限位柱(303)设置在限位孔(505)的内部，所述支撑底板(501)的顶部固定连接有卡位支撑板(502)，所述卡位支撑板(502)的一侧开设有卡位孔(503)，所述转动块(403)设置在卡位孔(503)的内部。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：包括移出结构(1)，所述移出结构(1)的顶部安装有支撑结构(5)，所述支撑结构(5)的一侧插设有限位结构(3)，所述限位结构(3)的一侧螺纹连接有固定结构(2)，所述支撑结构(5)的一侧插设有卡位结构(4)；
2.根据权利要求1所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述限位结构(3)包括转杆(301)，所述转杆(301)的一端固定连接有限位柱(303)，所述转杆(301)的外表壁插设有手拉块(302)，所述限位柱(303)的一端固定连接有限位板(304)，所述限位板(304)的一侧开设有槽孔(305)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述固定结构(2)包括转动杆(201)，所述转动杆(201)的一端固定连接有螺纹杆(202)，所述螺纹杆(202)的一端卡接有第一卡位块(204)，所述第一卡位块(204)的一端卡接有连接环(205)，所述连接环(205)设置在槽孔(305)的内壁，所述螺纹杆(202)在转杆(301)的内部螺纹连接，所述转动杆(201)的外表壁插设有手拉杆(203)。
4.根据权利要求3所述的一种半导体检测用翻转装置，其特征在于：所述卡位结构(4)包括不动柱(401)，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张方，
申请(专利权)人：无锡罗易特科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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