【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路测试，具体涉及一种数据采集方法、装置及系统。
技术介绍
1、电子信息产业的高速发展促进了模数转换器的迅速更新迭代，其中高速模数转换器的应用越加广泛。高速模数转换器的数据最佳采样点和内部采样时钟之间的对齐问题对其性能影响很大。当数据最佳采样点和内部采样时钟不对齐时，fpga数据采集卡得到的数据会产生相位失真。因此，数据最佳采样点和内部采样时钟之间的相位差对高速模数转换器的各项性能指标有很大的影响。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术提供一种数据采集方法、装置及系统，以解决上述技术问题。
2、本专利技术提供的一种数据采集方法，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：
3、响应数据采样指令，对模数转换器输出的差分信号进行采样得到采样数据；
4、对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐，得到第二内部采样时钟，所述第二内部采样时钟为与数据最佳采样点对齐的内部采样时钟；
5、基于所述第二内部采样时钟进行数据采集。
6、于本专利技术一实施例中，所述采样数据包括多组采样数据，每一组所述采样数据包括对所述差分信号进行第一采样得到的第一采样数据和对所述差分信号进行第二采样得到的第二采样数据；所述对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐的步骤包括：
7、循环执行以下步骤，直至结果标记满足预设条件，以完成数据最佳采样点与所述第一内部采样时
8、获取采样数据的累积相位差，所述累积相位差为每一组采样数据中的第一采样数据与第二采样数据之间的相位差的和；
9、将所述累积相位差与相位差范围进行比较得到比较结果；
10、基于所述比较结果生成结果标记，并基于所述比较结果调整所述第一采样的延迟时间。
11、于本专利技术一实施例中，在所述第二采样比所述第一采样少半个数据周期时，若采样数据s[k]与采样数据m[k]相同，且与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为+1；若采样数据s[k]与采样数据m[k+1]相同，且与采样数据m[k]不相同，则所述相位差为-1；其中，m[k]表示第一采样数据，s[k]表示第二采样数据，k的取值范围为1到l-1，l为并行数据的宽度。
12、于本专利技术一实施例中，在所述第二采样比所述第一采样多半个数据周期时，若采样数据s[k+1]与采样数据m[k]相同，与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为-1；若采样数据s[k+1]与采样数据m[k+1]相同，与采样数据m[k]不相同，则所述相位差为-1；其中，m[k]表示第一采样数据，s[k]表示第二采样数据，k的取值范围为1到l-1，l为并行数据的宽度。
13、于本专利技术一实施例中，所述方法还包括：对所述结果标记按顺序进行存储得到标记序列，其中，当累积相位差达到相位差范围的上限时，结果标记为1，当累积相位差达到相位差范围的下限时，结果标记为0；当标记序列为(10101010)2、(01111111)2或(10000000)2时，第一采样和第二采样达到数据最佳采样点，其中，(…)2代表二进制数。
14、于本专利技术一实施例中，当累积相位差达到相位差范围的上限时，增加第一采样的延迟，同时设置第二采样的延迟使之比第一采样的延迟少半个比特数据周期或多半个比特数据周期。
15、于本专利技术一实施例中，当累积相位差达到相位差范围的下限时，减少第一采样的延迟，同时设置第二采样的延迟使之比第一采样的延迟少半个比特数据周期或多半个比特数据周期。
16、本专利技术提供的一种数据采集装置，所述采集装置包括：
17、数据采样模块，用于响应数据采样指令，对模数转换器输出的差分信号进行采样得到采样数据；
18、时钟对齐模块，用于对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐，得到第二内部采样时钟，所述第二内部采样时钟为与数据最佳采样点对齐的内部采样时钟；
19、数据采集模块，用于基于所述第二内部采样时钟进行数据采集。
20、本专利技术提供的一种数据采集系统，所述采集系统包括：
21、采集控制端，用于向数据采集端发送数据采集指令，所述数据采集指令指示所述数据采集端对模数转换器输出的差分信号进行采样；
22、数据采集端，用于响应所述数据采样指令，对模数转换器输出的差分信号进行采样得到采样数据，对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐，得到第二内部采样时钟，所述第二内部采样时钟为与数据最佳采样点对齐的内部采样时钟；以及基于所述第二内部采样时钟进行数据采集。
23、本专利技术的有益效果：
24、本专利技术中的一种数据采集方法，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：响应数据采样指令，对模数转换器输出的差分信号进行采样得到采样数据；对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐，得到第二内部采样时钟，所述第二内部采样时钟为与数据最佳采样点对齐的内部采样时钟；基于所述第二内部采样时钟进行数据采集。本专利技术所涉及的实现方法简单，可在数据采集卡上进行实现，所占用的额外资源较少，不影响数据采集卡对高速模数转换器的数据采集和后续pc主机对数据的处理；同时本专利技术所涉及的方法简单高效，不需要人工手动调试，不受高低温和pcb布局布线的影响，不会造成额外的数据采集卡的时序约束要求，极大地提高了采集数据最佳采样点和内部采样时钟对齐的效率，保证了采集的高速模数转换器数据的准确性。
25、应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
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1.一种数据采集方法，其特征在于，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：
2.根据权利要求1所述的数据采集方法，其特征在于，所述采样数据包括多组采样数据，每一组所述采样数据包括对所述差分信号进行第一采样得到的第一采样数据和对所述差分信号进行第二采样得到的第二采样数据；所述对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐的步骤包括：
3.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样少半个数据周期时，若采样数据s[k]与采样数据m[k]相同，且与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为+1；若采样数据s[k]与采样数据m[k+1]相同，且与采样数据m[k]不相同，则所述相位差为-1；其中，m[k]表示第一采样数据，s[k]表示第二采样数据，k的取值范围为1到L-1，L为并行数据的宽度。
4.根据权利要求2或3所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样多半个数据周期时，若采样数据s[k+1]与采样数据m[k]相同，与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为-1；若采样数据s[k
5.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，所述方法还包括：对所述结果标记按顺序进行存储得到标记序列，其中，当累积相位差达到相位差范围的上限时，结果标记为1，当累积相位差达到相位差范围的下限时，结果标记为0；当标记序列为(10101010)2、(01111111)2或(10000000)2时，第一采样和第二采样达到数据最佳采样点，其中，(…)2代表二进制数。
6.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，当累积相位差达到相位差范围的上限时，增加第一采样的延迟，同时设置第二采样的延迟使之比第一采样的延迟少半个比特数据周期或多半个比特数据周期。
7.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，当累积相位差达到相位差范围的下限时，减少第一采样的延迟，同时设置第二采样的延迟使之比第一采样的延迟少半个比特数据周期或多半个比特数据周期。
8.一种数据采集装置，其特征在于，所述采集装置包括：
9.一种数据采集系统，其特征在于，所述采集系统包括：
...【技术特征摘要】
1.一种数据采集方法，其特征在于，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：
2.根据权利要求1所述的数据采集方法，其特征在于，所述采样数据包括多组采样数据，每一组所述采样数据包括对所述差分信号进行第一采样得到的第一采样数据和对所述差分信号进行第二采样得到的第二采样数据；所述对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐的步骤包括：
3.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样少半个数据周期时，若采样数据s[k]与采样数据m[k]相同，且与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为+1；若采样数据s[k]与采样数据m[k+1]相同，且与采样数据m[k]不相同，则所述相位差为-1；其中，m[k]表示第一采样数据，s[k]表示第二采样数据，k的取值范围为1到l-1，l为并行数据的宽度。
4.根据权利要求2或3所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样多半个数据周期时，若采样数据s[k+1]与采样数据m[k]相同，与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为-1；若采样数据s[k+1]与采样数据m[k+1]相同，与采样数据m[k]不...
【专利技术属性】
技术研发人员：李林泽，敬天成，蒋飞宇，魏亚峰，陈超，俞宙，
申请(专利权)人：重庆吉芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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