【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电路测试，具体涉及一种数据采集方法、装置及系统。
技术介绍
1、电子信息产业的高速发展促进了模数转换器的迅速更新迭代，其中高速模数转换器的应用越加广泛。高速模数转换器的数据最佳采样点和内部采样时钟之间的对齐问题对其性能影响很大。当数据最佳采样点和内部采样时钟不对齐时，fpga数据采集卡得到的数据会产生相位失真。因此，数据最佳采样点和内部采样时钟之间的相位差对高速模数转换器的各项性能指标有很大的影响。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术提供一种数据采集方法、装置及系统，以解决上述技术问题。
2、本专利技术提供的一种数据采集方法，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：
3、响应数据采样指令，对模数转换器输出的差分信号进行采样得到采样数据；
4、对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐，得到第二内部采样时钟，所述第二内部采样时钟为与数据最佳采样点对齐的内部采样时钟；
5、基于所述第二...
【技术保护点】
1.一种数据采集方法，其特征在于，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：
2.根据权利要求1所述的数据采集方法，其特征在于，所述采样数据包括多组采样数据，每一组所述采样数据包括对所述差分信号进行第一采样得到的第一采样数据和对所述差分信号进行第二采样得到的第二采样数据；所述对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐的步骤包括：
3.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样少半个数据周期时，若采样数据s[k]与采样数据m[k]相同，且与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为+1；若采...
【技术特征摘要】
1.一种数据采集方法，其特征在于，应用于数据采集装置，所述采集方法包括：
2.根据权利要求1所述的数据采集方法，其特征在于，所述采样数据包括多组采样数据，每一组所述采样数据包括对所述差分信号进行第一采样得到的第一采样数据和对所述差分信号进行第二采样得到的第二采样数据；所述对所述采样数据的数据最佳采样点与数据采集装置的第一内部采样时钟进行对齐的步骤包括：
3.根据权利要求2所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样少半个数据周期时，若采样数据s[k]与采样数据m[k]相同，且与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为+1；若采样数据s[k]与采样数据m[k+1]相同，且与采样数据m[k]不相同，则所述相位差为-1；其中，m[k]表示第一采样数据，s[k]表示第二采样数据，k的取值范围为1到l-1，l为并行数据的宽度。
4.根据权利要求2或3所述的数据采集方法，其特征在于，在所述第二采样比所述第一采样多半个数据周期时，若采样数据s[k+1]与采样数据m[k]相同，与采样数据m[k+1]不相同，则所述相位差为-1；若采样数据s[k+1]与采样数据m[k+1]相同，与采样数据m[k]不...
【专利技术属性】
技术研发人员：李林泽，敬天成，蒋飞宇，魏亚峰，陈超，俞宙，
申请(专利权)人：重庆吉芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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