高光谱图像特征表示方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:40188002 阅读:24 留言:0更新日期:2024-01-26 23:51
本发明专利技术提供一种高光谱图像特征表示方法、装置、电子设备及存储介质,涉及图像处理技术领域,方法包括:获取高光谱图像的多视角信息,多视角信息包括高光谱图像在空间维度的第一视角信息,和高光谱图像在光谱维度的第二视角信息;对多视角信息进行图像增强处理,获得图像增强处理之后的多视角信息,图像增强处理包括对第一视角信息进行随机裁剪操作,对第二视角信息进行随机抽样操作;将图像增强处理之后的多视角信息输入预先构建的多视角对比学习深度特征表示模型,获得多视角对比学习深度特征表示模型输出的深度特征表示。本发明专利技术实现了将高光谱图像特有的不同视角之间的互信息最大化,极大地提高了高光谱图像特征表示的性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像处理,尤其涉及一种高光谱图像特征表示方法、装置、电子设备及存储介质


技术介绍

1、高光谱图像特征表示是高光谱图像处理领域的关键技术之一,其主要是从高光谱图像中提取或选择具有判别性信息的特征,为相关决策(例如分类与识别)提供依据。

2、目前对比学习方法是实现图像特征表示的主流方法。现有的对比学习方法通常对数据样本进行数据增强构建正样本对,通过个体判别任务,即将每个样本实例看成是一个类别,目标是学习一种特征能把每一个样本都区分开来。通过学习一个编码器和多层感知机映射头,使得训练数据通过两次非线性网络映射到某个投影空间,并在特征空间内拉近正样本的距离,推远负样本的距离。这种实例两两之间的推力,会使得特征均匀地分布在特征空间的超球面上,保留了尽可能多的有用信息。

3、然而,由于高光谱图像具有数据量大、冗余度高和空谱结构复杂的特点,现有的对比学习方法不能很好地应用于高光谱像素样本,最终得到的高光谱图像特征表示性能较差。


技术实现思路

1、针对现有技术存在的问题,本专利技术提供本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高光谱图像特征表示方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述获取高光谱图像的多视角信息,包括:

3.根据权利要求2所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述对所述第一视角信息进行随机裁剪操作,对所述第二视角信息进行随机抽样操作,包括:

4.根据权利要求1-3任一项所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述多视角对比学习深度特征表示模型包括两个网络,其中一个网络用于对所述高光谱图像的第一视角信息进行处理,另一个网络用于对所述高光谱图像的第二视角信息进行处理,所述两个网络中的每一个网络均包括编...

【技术特征摘要】

1.一种高光谱图像特征表示方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述获取高光谱图像的多视角信息,包括:

3.根据权利要求2所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述对所述第一视角信息进行随机裁剪操作,对所述第二视角信息进行随机抽样操作,包括:

4.根据权利要求1-3任一项所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述多视角对比学习深度特征表示模型包括两个网络,其中一个网络用于对所述高光谱图像的第一视角信息进行处理,另一个网络用于对所述高光谱图像的第二视角信息进行处理,所述两个网络中的每一个网络均包括编码器模块和映射头。

5.根据权利要求4所述的高光谱图像特征表示方法,其特征在于,所述两个网络中的每一个网络的编码器模块均包括线性投射层,所述线性投射层用于将所述高光谱图像的...

【专利技术属性】
技术研发人员:祖宝开曹通王宏远李亚芳句福娇
申请(专利权)人:北京工业大学
类型:发明
国别省市:

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