【技术实现步骤摘要】
本专利技术有关于一种缺陷检测系统及其检测方法，特别是指一种可实现自动化检测光学模块的夹层缺陷检测系统及其检测方法。
技术介绍
1、随着扩增实境(augmented reality，ar)与虚拟现实(virtual reality，vr)技术的发展逐渐成熟，使得以往出现在科幻小说和电影中由虚拟与现实混合而成的数字世界，愈来愈有机会实现。扩增实境和虚拟现实之光学系统中包括有显示器以及光学模块，其中显示器做为光源可发出光线，光学模块通常由半反射层、相位延迟片、反射式偏振片、透镜及线性偏振片等光学组件所组成，让显示器输出的光线经过光学模块的多次反射和相位调整之后来导出至人眼，以藉由将原本较长的光线路径大幅缩短，使得光学系统的整体体积可以达到最小化。
2、将光学模块应用于产品，例如扩增实境/虚拟现实头戴显示设备，如何检测出在光学模块中的不良缺陷是一个备受关注的话题。由于光学模块是由上述提及的各种光学组件互相层迭在一起，光学组件之间必须以胶层来黏合，且光学组件表面可能要镀制各种各样的薄膜以实现特定的光学性能，以达到减少或增加光的反射、分束、分色、滤光、偏振等要求。因此，在光学模块的制造过程中不可避免地会在各个夹层出现颗粒、斑点、毛丝、气泡、刮痕、杂质等不良缺陷，而这些不良缺陷将会影响成像效果，使得产品良率下降。
3、为了保证成像效果，大部分厂商都对于光学模块的质量标准有着极高要求。然而，目前的光学模块中出现的夹层缺陷仅能仰赖人工目视检查的方式。如图1所示，先前技术的一种人工目视检查方式是使用单一白色背光，将光学模块2
4、有鉴于此，本专利技术针对上述先前技术的缺失及未来的需求，提出一种可实现自动检测的夹层缺陷检测系统及其检测方法，以有效克服传统人工目视检查方式所产生的各种问题。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种夹层缺陷检测系统及其检测方法，通过仿真光学模块于未来产品应用的三维成像画面，以达到自动化检测夹层缺陷，从而可改善先前技术中所提及的人工品检疏漏的风险，以提高品检精度，确保产品质量，有助于提高产业竞争力。
2、为达上述目的，本专利技术提供一种夹层缺陷检测系统，用以检测一光学模块的夹层结构，此夹层缺陷检测系统包括有一显示屏、一光学偏振单元、一检测治具与一影像撷取单元。其中，显示屏用以发出光线。光学偏振单元包括沿光线的路径同轴设置的下列组件：一线性偏振片，相对显示屏设置，接收来自显示屏的光线，将光线转换成一第一线偏振光；以及一相位延迟片，相对线性偏振片设置，接收第一线偏振光，将第一线偏振光转换成一圆偏振光。检测治具相对相位延迟片设置，用以配置光学模块，使光学模块接收圆偏振光后发出一第二线偏振光。而影像撷取单元相对检测治具设置，接收来自光学模块的第二线偏振光，以产生一三维影像。
3、根据本专利技术的实施例，上述的相位延迟片和线性偏振片相互贴附，且相位延迟片和线性偏振片的夹角小于或等于1度。
4、根据本专利技术的实施例，上述的相位延迟片为增加四分之一波长的相位延迟片。
5、根据本专利技术的实施例，上述的夹层缺陷检测系统更包含一处理单元，处理单元连接影像撷取单元，以接收三维影像，并根据三维影像产生一夹层缺陷分布结果，此夹层缺陷分布结果包括光学模块所存在的夹层缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
6、根据本专利技术的实施例，上述的夹层缺陷检测系统更包含一显示单元，显示单元连接处理单元，以接收夹层缺陷分布结果，并根据夹层缺陷分布结果显示对应信息。
7、根据本专利技术的实施例，上述的处理单元还根据三维影像产生一表面缺陷分布结果，此表面缺陷分布结果包括光学模块所存在的表面缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
8、根据本专利技术的实施例，上述的夹层缺陷检测系统更包含一显示单元，显示单元连接处理单元，以接收夹层缺陷分布结果和表面缺陷分布结果，并根据夹层缺陷分布结果和表面缺陷分布结果显示对应信息。
9、另外，本专利技术还提供一种夹层缺陷检测方法，用以检测一光学模块的夹层结构，此夹层缺陷检测方法包括下列步骤：首先，将光学模块配置于一检测治具上。然后，从一显示屏发出光线。接着，以一光学偏振单元接收来自显示屏的光线，并包括：以一线性偏振片将光线转换成一第一线偏振光；以及以一相位延迟片将第一线偏振光转换成一圆偏振光后导入光学模块，使光学模块发出一第二线偏振光。最后，以一影像撷取单元接收来自光学模块的第二线偏振光，以产成一三维影像。
10、根据本专利技术的实施例，上述的相位延迟片和线性偏振片相互贴附，且相位延迟片和线性偏振片的夹角小于或等于1度。
11、根据本专利技术的实施例，上述的相位延迟片为增加四分之一波长的相位延迟片。
12、根据本专利技术的实施例，上述的夹层缺陷检测方法更包含以一处理单元接收三维影像，并根据三维影像产生一夹层缺陷分布结果，此夹层缺陷分布结果包括光学模块所存在的夹层缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
13、根据本专利技术的实施例，上述的夹层缺陷检测方法更包含以一显示单元接收夹层缺陷分布结果，并根据夹层缺陷分布结果显示对应信息。
14、根据本专利技术的实施例，上述的处理单元还根据三维影像产生一表面缺陷分布结果，此表面缺陷分布结果包括光学模块所存在的表面缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
15、根据本专利技术的实施例，上述的夹层缺陷检测方法更包含以一显示单元接收夹层缺陷分布结果和表面缺陷分布结果，并根据夹层缺陷分布结果和表面缺陷分布结果显示对应信息。
16、与先前技术相比，本专利技术具有以下优势：
17、本专利技术所提供的夹层缺陷检测系统及其检测方法能够有效减少传统人工目视检查方式所需的人工成本，可以增加生产效率。
18、本专利技术所提供的夹层缺陷检测系统及其检测方法能够有效避免传统人工目视检查方式所造成的容易误判或疏漏的问题，从而改善产品良率。
19、本专利技术所提供的夹层缺陷检测系统及其检测方法可以提高工厂直通率，从而提高产能利用率，降低生产成本。
20、本专利技术所提供的夹层缺陷检测系统及其检测方法可以减少客户端dppm(即每百万的不良数)，进而在客户端建立了良好的质量信誉。
21、底下藉由具体实施例详加说明，当更容易了解本专利技术之目的、
技术实现思路
、特点及其所达成之功效。
【技术保护点】
1.一种夹层缺陷检测系统，用以检测光学模块的夹层结构，其特征在于，所述夹层缺陷检测系统包括：
2.如权利要求1所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，其中所述相位延迟片和所述线性偏振片相互贴附，且所述相位延迟片和所述线性偏振片的夹角小于或等于1度。
3.如权利要求1所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，其中所述相位延迟片为增加四分之一波长的相位延迟片。
4.如权利要求1所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，还包含处理单元，所述处理单元连接所述影像撷取单元，以接收所述三维影像，并根据所述三维影像产生夹层缺陷分布结果，所述夹层缺陷分布结果包括所述光学模块所存在的夹层缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
5.如权利要求4所述的夹层缺陷检测系统，还包含显示单元，所述显示单元连接所述处理单元，以接收所述夹层缺陷分布结果，并根据所述夹层缺陷分布结果显示对应信息。
6.如权利要求4所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，其中所述处理单元还根据所述三维影像产生表面缺陷分布结果，所述表面缺陷分布结果包括所述光学模块所存在的表面缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
7.如权利要求6所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，还包含显示单元，所述显示单元连接所述处理单元，以接收所述夹层缺陷分布结果和所述表面缺陷分布结果，并根据所述夹层缺陷分布结果和所述表面缺陷分布结果显示对应信息。
8.一种夹层缺陷检测方法，用以检测光学模块的夹层结构，其特征在于，所述夹层缺陷检测方法包括下列步骤：
9.如权利要求8所述的夹层缺陷检测方法，其特征在于，其中所述相位延迟片和所述线性偏振片相互贴附，且所述相位延迟片和所述线性偏振片的夹角小于或等于1度。
10.如权利要求8所述的夹层缺陷检测方法，其特征在于，其中所述相位延迟片为增加四分之一波长的相位延迟片。
11.如权利要求8所述的夹层缺陷检测方法，其特征在于，还包含以处理单元接收所述三维影像，并根据所述三维影像产生夹层缺陷分布结果，所述夹层缺陷分布结果包括所述光学模块所存在的夹层缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
12.如权利要求11所述的夹层缺陷检测方法，其特征在于，还包含以显示单元接收所述夹层缺陷分布结果，并根据所述夹层缺陷分布结果显示对应信息。
13.如权利要求11所述的夹层缺陷检测方法，其特征在于，其中所述处理单元还根据所述三维影像产生表面缺陷分布结果，所述表面缺陷分布结果包括所述光学模块所存在的表面缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
14.如权利要求13所述的夹层缺陷检测方法，其特征在于，还包含以显示单元接收所述夹层缺陷分布结果和所述表面缺陷分布结果，并根据所述夹层缺陷分布结果和所述表面缺陷分布结果显示对应信息。
...【技术特征摘要】
1.一种夹层缺陷检测系统，用以检测光学模块的夹层结构，其特征在于，所述夹层缺陷检测系统包括：
2.如权利要求1所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，其中所述相位延迟片和所述线性偏振片相互贴附，且所述相位延迟片和所述线性偏振片的夹角小于或等于1度。
3.如权利要求1所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，其中所述相位延迟片为增加四分之一波长的相位延迟片。
4.如权利要求1所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，还包含处理单元，所述处理单元连接所述影像撷取单元，以接收所述三维影像，并根据所述三维影像产生夹层缺陷分布结果，所述夹层缺陷分布结果包括所述光学模块所存在的夹层缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
5.如权利要求4所述的夹层缺陷检测系统，还包含显示单元，所述显示单元连接所述处理单元，以接收所述夹层缺陷分布结果，并根据所述夹层缺陷分布结果显示对应信息。
6.如权利要求4所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，其中所述处理单元还根据所述三维影像产生表面缺陷分布结果，所述表面缺陷分布结果包括所述光学模块所存在的表面缺陷的种类、尺寸、数量和比例。
7.如权利要求6所述的夹层缺陷检测系统，其特征在于，还包含显示单元，所述显示单元连接所述处理单元，以接收所述夹层缺陷分布结果和所述表面缺陷分布结果，并根据所述夹层缺陷分布结果和所述表面缺...
【专利技术属性】
技术研发人员：宣崇伟，廖广富，周婷，
申请(专利权)人：业成科技成都有限公司，
类型：发明
国别省市：
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