正交轴系统的调校方法及坐标测量装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种正交轴系统的调校方法及坐标测量装置，调校方法包括：利用与第一旋转轴的轴线间隔第二预设距离的第二截面截取第二旋转轴以获得第三虚拟截面；旋转第一旋转轴以使第二旋转轴旋转第一预设角度，利用第二截面截取第二旋转轴以获得第四虚拟截面；基于第三虚拟截面的几何中心和第四虚拟截面的几何中心计算用于反映第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的轴线之间的距离的异面误差；若异面误差不小于第二预设值，基于异面误差调整第一旋转轴的轴线和第二旋转轴的轴线的相对位置以降低异面误差。由此，能够降低正交轴系统的异面误差。

【技术实现步骤摘要】

本公开大体涉及一种智能制造装备产业，具体涉及一种正交轴系统的调校方法及坐标测量装置。

技术介绍

1、在精密工业以及测量领域，人们在对大型机器进行装配的时候，经常需要通过精密仪器(例如激光测量仪器)对组装的目标物进行测试以提高装配精度，同时在完成机器的组装后，也需要对机器进行校准，且在装配过程中，除了对目标物或者目标物上的某个目标点进行三维坐标测量，还需要对目标物品或目标点的运动情况进行测量，也即，对它们的姿态进行检测，因此需要一种可以在三维坐标基础上，还能完成六个自由度测量的仪器。由此就出现了通过坐标测量仪器对目标物或者目标点进行姿态测量的测量方式。坐标测量仪器的测量精度主要取决于角度和距离的测量精度，为了提高坐标测量仪器的测量精度，需要保证坐标测量仪器中的正交轴系统(至少包括水平轴和俯仰轴)的异面误差和垂直误差。由此，针对坐标测量仪器的正交轴系统的异面误差和垂直误差的测量方法和调校方法显得非常重要。

2、专利文献(cn106705821a)中公开了一种回转轴系正交性测量方法及装置，该装置将两个标准球分别安装在俯仰旋转轴两端，通过调整标准球的球本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种正交轴系统的调校方法，其特征在于，所述正交轴系统包括第一旋转轴和可围绕所述第一旋转轴旋转的第二旋转轴，所述调校方法包括：利用与所述第一旋转轴的轴线间隔第二预设距离的第二截面截取所述第二旋转轴以获得第三虚拟截面；旋转所述第一旋转轴以使所述第二旋转轴旋转第一预设角度，利用所述第二截面截取所述第二旋转轴以获得第四虚拟截面；基于所述第三虚拟截面的几何中心和所述第四虚拟截面的几何中心计算用于反映所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的距离的异面误差；若所述异面误差不小于第二预设值，基于所述异面误差调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线的相对位置以降低所述异面误差。

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【技术特征摘要】

1.一种正交轴系统的调校方法，其特征在于，所述正交轴系统包括第一旋转轴和可围绕所述第一旋转轴旋转的第二旋转轴，所述调校方法包括：利用与所述第一旋转轴的轴线间隔第二预设距离的第二截面截取所述第二旋转轴以获得第三虚拟截面；旋转所述第一旋转轴以使所述第二旋转轴旋转第一预设角度，利用所述第二截面截取所述第二旋转轴以获得第四虚拟截面；基于所述第三虚拟截面的几何中心和所述第四虚拟截面的几何中心计算用于反映所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线之间的距离的异面误差；若所述异面误差不小于第二预设值，基于所述异面误差调整所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线的相对位置以降低所述异面误差。

2.根据权利要求1所述的正交轴系统的调校方法，其特征在于：

3.根据权利要求1所述的正交轴系统的调...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈源，张和君，廖学文，章智伟，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：