一种改良Type-C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置制造方法及图纸

技术编号:40172903 阅读:24 留言:0更新日期:2024-01-26 23:42
本发明专利技术公开了一种改良Type‑C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,包括以下步骤:步骤一:将熔化的塑料注入金属胎膜中,然后快速冷却成型得到加长后塞及护套;步骤二:将片材放入冲压机中冲压成型得到端子;步骤三:将成型后的端子利用端子检测装置对其进行抽检;步骤四:将端子进行电镀处理;步骤五:最近进行各部件的组装,本发明专利技术通过将后塞的结构重新设计,加长后塞包住端子的尺寸,稳定端子,端子与护套对插后无干涉,降低生产不良率,同时利用检测装置对成型后的端子进行检测,利用简单解决了端子外形难以检测提高组装效率,进一步降低了不良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于type-c,具体涉及一种改良type-c端子下陷不良生产工艺及端子检测装置。


技术介绍

1、usb type-c,简称usb-c,是一种通用串行总线(usb)的硬件接口规范。新版接口的亮点在于更加纤薄的设计、更快的传输速度(最高10gbps)以及更强悍的电力传输(最高100w)。type-c双面可插接口最大的特点是支持usb接口双面插入,正式解决了“usb永远插不准”的世界性难题,正反面随便插。同时与它配套使用的usb数据线也必须更细和更轻便。

2、在传统type-c中,由于端子尾端距离后塞距离太长,端子与护套对插后产生干涉,导致端子下陷不良,不良率有40%,同时由于端子自身结构,在冲压成型后,对其结构检验起来较为繁琐,不符合要求的端子对后续组装带来影响。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种改良type-c端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种改良type-c端子下陷不良生产本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种改良Type-C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种改良Type-C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,其特征在于:所述端子检测装置包括检测台(100),所述检测台(100)上部右侧连接锁体(200),所述设有四条通道一(210),所述通道一(210)设有弹簧一(220),所述弹簧一(220)上部连接锁体(200)下部连接驱动销(230),所述锁体(200)中间设有圆形锁芯(300),所述锁芯(300)中间设有通道二(350),所述通道二(350)左侧截面为半圆形,所述通道一(210)穿过锁芯(300)上部,所述...

【技术特征摘要】

1.一种改良type-c端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,其特征在于:包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种改良type-c端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,其特征在于:所述端子检测装置包括检测台(100),所述检测台(100)上部右侧连接锁体(200),所述设有四条通道一(210),所述通道一(210)设有弹簧一(220),所述弹簧一(220)上部连接锁体(200)下部连接驱动销(230),所述锁体(200)中间设有圆形锁芯(300),所述锁芯(300)中间设有通道二(350),所述通道二(350)左侧截面为半圆形,所述通道一(210)穿过锁芯(300)上部,所述驱动销(230)从右往左下方分别设置检测杆一(310)、检测杆二(320)、检测杆三(330)、检测杆四(340)。

3.根据权利要求2所述的一种改良type-c端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,其特征在于:所述检测台(100)上部左侧设有伸缩杆一(400),所述伸缩杆一(400)连接支撑座(410),所述支撑座(410)连接电机(420),所述电机(420)连接螺杆(430),所述螺杆(430)连接连接座(44...

【专利技术属性】
技术研发人员:王少璞黄明尹文亮
申请(专利权)人:协讯电子吉安有限公司
类型:发明
国别省市:

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