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一种改良Type-C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置制造方法及图纸
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下载一种改良Type-C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置的技术资料
文档序号:40172903
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本发明公开了一种改良Type‑C端子下陷不良生产工艺及端子检测装置,包括以下步骤:步骤一:将熔化的塑料注入金属胎膜中,然后快速冷却成型得到加长后塞及护套;步骤二:将片材放入冲压机中冲压成型得到端子;步骤三:将成型后的端子利用端子检测装置对其...
该专利属于协讯电子(吉安)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过协讯电子(吉安)有限公司授权不得商用。
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