【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及仿真模拟试验，更进一步涉及一种流体激励改善分析方法。
技术介绍
1、光学仪器的振动水平会对其成像质量等性能产生影响，低频振动的影响格外明显，因此低频振动的抑制问题是重要研究方向。涡团脱落是低频激励的一个重要来源，当气体流速较高时，会形成湍流，湍流在内壁处产生压力脉动。
2、在流道的任意位置都会有湍流脉动，湍流脉动的剧烈程度和流速、涡量等均有关系。由于湍流激励的相关因素多，且实际行为复杂，难以获得解析解，因此通常使用有限元分析方法，然而即使有限元通常也仅能揭示湍流激励或流致振动的大致分布规律，精度较为受限。
3、内部存在流道、需要通气或通水冷却的光学仪器在工作过程中将会受到流体激励，由于流体在流动过程中往往伴随着湍流等复杂行为，因此其激励情况较为复杂，单纯依赖有限元分析会存在较大的误差，而试验测量则受结构限制难以布置测点。
4、通过试验也可以获得流致振动响应，在不考虑测量仪器误差的情况下可以获得精确的数据，但是对于结构狭小的区域，无法布置接触式运动传感器，而对于刚度较高的区域，非接触式运动...
【技术保护点】
1.一种流体激励改善分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的流体激励改善分析方法，其特征在于，所述根据所述检测点对所述预测点的权重，通过所述检测点力谱修正系数得到所述预测点的预测点力谱修正系数，包括：
3.根据权利要求1所述的流体激励改善分析方法，其特征在于，通过仿真得到预测点压力脉动激励对于预测点振动位移的预测点传递函数，预测点等效压力脉动激励谱乘以预测点传递函数，得到预测点在试验工况下的振动响应。
4.根据权利要求1所述的流体激励改善分析方法，其特征在于，所述根据所述检测点功率谱和所述检测点传递函数，得到检测点等效...
【技术特征摘要】
1.一种流体激励改善分析方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的流体激励改善分析方法，其特征在于，所述根据所述检测点对所述预测点的权重，通过所述检测点力谱修正系数得到所述预测点的预测点力谱修正系数，包括：
3.根据权利要求1所述的流体激励改善分析方法，其特征在于，通过仿真得到预测点压力脉动激励对于预测点振动位移的预测点传递函数，预测点等效压力脉动激励谱乘以预测点传递函数，得到预测点在试验工况下的振动响应。
4.根据权利要求1所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴云鹏，孙翀，李澧，周连生，倪明阳，隋永新，杨怀江，
申请(专利权)人：长春国科精密光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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