【技术实现步骤摘要】
本技术涉及调平控制装置，具体而言，涉及一种微波测试探针高精度调平平台。
技术介绍
1、目前，对无源器件的测试在微波射频行业很常见，测试方法多种多样，其中探针测试是最常用的一种。微波测试探针是一种高精度的接触针，其直径仅仅只有0.1mm左右，非常脆弱。如果测试时探针不能调平很容易损坏探针，但是目前测试探针的调平难度很大、无法通用和生产效率低下。
技术实现思路
1、本技术旨在提供一种微波测试探针高精度调平平台，以解决现有技术中测试探针的调平难度很大、无法通用和生产效率低下的问题。
2、本技术的实施例是这样实现的：
3、本技术实施例提供一种微波测试探针高精度调平平台，其包括x轴移动部、y轴移动部和z轴移动部；
4、上述y轴移动部可滑动的固定在上述x轴移动部上，上述z轴移动部可滑动的固定在上述y轴移动部上；
5、上述z轴移动部的侧面设于可旋转的杆件，上述杆件的轴向与上述x轴移动部的轴向相同，上述杆件的一端可旋转的连接在上述z轴移动部的侧面，上述杆件的另一端可拆卸的固定连接有高精旋转平台，上述高精旋转平台的外端可拆卸的固定连接有微波测试探针。
6、使用时，通过调节上述x轴移动部、上述y轴移动部和上述z轴移动部分别在x轴、y轴和z轴上移动，上述杆件控制上述高精旋转平台的旋转角度，进而实现对上述微波测试探针调平。
7、本实施方案公开的一种微波测试探针高精度调平平台由于设有上述x轴移动部、上述y轴移动部和上述z轴移动部和上述高
8、可选地：上述x轴移动部具有第一滑座，上述第一滑座的顶面设有可滑动的第一滑块，上述第一滑块沿上述第一滑座的纵向滑动，上述y轴移动部固定在上述第一滑块的顶面上。
9、如此设置，通过上述第一滑块在上述第一滑座上移动，便能够控制上述y轴移动部沿x轴移动调节。
10、可选地：上述第一滑座的顶部纵向两端分别设有第一限位块和第二限位块，上述第一限位块和上述第二限位块均固定在上述第一滑座的顶部纵向两端上；
11、上述第一限位块与上述第二限位块之间设有第一导向杆和第二导向杆，上述第一导向杆和上述第二导向杆相互平行，上述第一导向杆和上述第二导向杆的两端分别固定在上述第一限位块和上述第二限位块的内侧面上，上述第一滑块的侧面具有适配上述第一导向杆和上述第二导向杆的第一通孔，上述第一滑块通过上述第一通孔可滑动的套设在上述第一导向杆和上述第二导向杆上。
12、如此设置，上述第一限位块和上述第二限位块能够限制上述第一滑块的移动范围，同时为上述第一导向杆和上述第二导向杆的设置提供了支撑基础，上述第一导向杆和上述第二导向杆能够有效的对上述第一滑块进行导向，使得第一滑块始终沿着x轴移动，有效的提高了高精度调平平台的精确度。
13、可选地：上述第一限位块的外侧壁上开设有贯通的第一孔洞，上述第一孔洞内适配有第一调节杆，上述第一调节杆的一端固定连接有第一螺杆，上述第一调节杆的另一端固定连接有第一旋钮；
14、上述第一滑块对应上述第一限位块的外壁上开设有贯通上述第一滑块的第一螺纹孔，上述第一螺杆可旋转的适配在上述第一螺纹孔内，并且，上述第一螺杆的外端抵顶在上述第二限位块的内壁上。
15、如此设置，通过旋转上述第一旋钮，使得上述第一螺杆在上述第一螺纹孔内旋转，通过顺时针或逆时针旋转上述第一旋钮，使得上述第一滑块在上述第一导向杆和上述第二导向杆上实现移动，从而便于带动上述y轴移动部进行移动调节，具有控制精度高、控制简单和生产效率高的有益效果。
16、可选地：上述y轴移动部具有第二滑座，上述第二滑座的顶面设有可滑动的第二滑块，上述第二滑块沿上述第二滑座的纵向滑动，上述z轴移动部固定在上述第二滑块的顶面上。
17、如此设置，通过上述第二滑块在上述第二滑座上移动，便能够控制上述z轴移动部沿x轴移动调节。
18、可选地：上述第二滑座的顶部纵向两端分别设有第三限位块和第四限位块，上述第三限位块和上述第四限位块均固定在上述第二滑座的顶部纵向两端上；
19、上述第三限位块与上述第四限位块之间设有第三导向杆和第四导向杆，上述第三导向杆和上述第四导向杆相互平行，上述第三导向杆和上述第四导向杆的两端分别固定在上述第三限位块和上述第四限位块的内侧面上，上述第二滑块的侧面具有适配上述第三导向杆和上述第四导向杆的第二通孔，上述第二滑块通过上述第二通孔可滑动的套设在上述第三导向杆和上述第四导向杆上。
20、如此设置，上述第三限位块和上述第四限位块能够限制上述第二滑块的移动范围，同时为上述第三导向杆和上述第四导向杆的设置提供了支撑基础，上述第三导向杆和上述第四导向杆能够有效的对上述第二滑块进行导向，使得第二滑块始终沿着y轴移动，有效的提高了高精度调平平台的精确度。
21、可选地：上述第三限位块的外侧壁上开设有贯通的第二孔洞，上述第二孔洞内适配有第二调节杆，上述第二调节杆的一端固定连接有第二螺杆，上述第二调节杆的另一端固定连接有第二旋钮；
22、上述第二滑块对应上述第三限位块的外壁上开设有贯通上述第二滑块的第二螺纹孔，上述第二螺杆可旋转的适配在上述第二螺纹孔内，并且，上述第二螺杆的外端抵顶在上述第四限位块的内壁上。
23、如此设置，通过旋转上述第二旋钮，使得上述第二螺杆在上述第二螺纹孔内旋转，通过顺时针或逆时针旋转上述第二旋钮，使得上述第二滑块在上述第三导向杆和上述第四导向杆上实现移动，从而便于带动上述z轴移动部进行移动调节，具有控制精度高、控制简单和生产效率高的有益效果。
24、可选地：上述z轴移动部具有底座，上述底座固定连接在上述第二滑块上，上述底座平面垂直于上述x轴移动部移动轴向，上述底座的一侧固定连接有控制件，上述控制件的外侧连接有竖向移动的第三滑块，上述控制件还连接有用于控制上述第三滑块竖向移动的第一控制杆。
25、如此设置，通过顺时针或逆时针旋转上述第一控制杆，便能够使得上述第三滑块在上述控制件的x轴向上移动。
26、可选地：上述第三滑块的外侧面连接上述杆件，上述第三滑块上设有用于控制上述杆件旋转的第二控制杆。
27、如此设置，通过顺时针或逆时针旋转上述第二控制杆，便能够使得上述杆件在x轴向上转动，进而便于控制上述高精旋转平台的角度。
28、可选地：上述高精旋转平台具有l形连接件，上述l形连接件的短边与上述杆件垂直固定连接，上述l形连接件的长边外端可拆卸的连接有夹具，上述微波测试探针可拆卸的固定夹持在上述夹具上。
29、如此设置，可拆卸的上述l形连接件和上述夹具均是为了便于拆装，同时除了具有固定上述微波测试探针的效果外，还方便换装不同大小型号的微波测试探针，扩大了高精度调平平本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
6.根据权利要求5所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
7.根据权利要求6所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
8.根据权利要求5所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
9.根据权利要求8所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
10.根据权利要求8所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
【技术特征摘要】
1.一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
2.根据权利要求1所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
3.根据权利要求2所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的一种微波测试探针高精度调平平台，其特征在于：
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【专利技术属性】
技术研发人员：赵志海，
申请(专利权)人：成都中科四点零科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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