【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于轴承检测，具体涉及一种大型回转支承径向滚道检测装置及检测方法。
技术介绍
1、大型回转支承类零件的回转游隙和精度是轴承应用寿命的关键评价指标，传统检测方法为管尺和样圈。但受测量精度、人为因素和复杂温度影响，多年来行业上在滚动体单规值前提下一次产品合套率均低于65%，严重影响到产品的加工和合套装配质量、出产效率。
2、具体来说，大型回转支承滚道大体可分为球形、v形和直线形。传统的终检手段为直径测量，量具一般采用管尺（分为球头和直面测头）和样圈配合完成（参见附图一）。但因样圈变形、人为检测偏差和复杂温度变化等不利因素影响，单件综合检测误差会大于0.12mm，无法满足配套的公差要求，所以3米以上的回转支承类产品单规值的一次合套率只能做到65%左右，其余需二次、甚至三次返修重新配套，既会因累计偏差影响品质，又会导致出产效率下降。并存在：1、受三坐标（样块）测量范围限制，无法对超大样圈进行有效校对，应用现场存放困难；2、样圈自身变形导致的测量精度误差，约为0.05-0.09mm；3、样圈的室温存放，存在复杂温度变化，3米直径的变化值为0.045mm/℃；4、人工检测误差约为0.05mm。
3、以上列举的后3条累计综合误差一般大于0.12mm（单件），根本无法百分之百满足配套公差要求。只有规避掉温度带来的涨缩量、样圈形状偏差、人为检测误差和大型量具检测误差，才能谈大型工件在常温下的检测精度，才能确保轴承合套率。
技术实现思路
1、根据上述现有技术存在的缺陷
2、为实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案为：大型回转支承径向滚道检测装置，包括卡盘，所述卡盘上固定有轴承套圈和对应轴承套圈设置的测量基座，测量基座内可拆卸连接有基杆，所述基杆和轴承套圈之间设置测量表，所述测量表的测杆两端分别为定位测头和活动测头，所述定位测头和活动测头分别与基杆和轴承套圈滚道接触测量。
3、进一步地，所述测量表包括内径百分表和百分表/千分表，内径百分表的测杆通过定位测头和活动测头测量基杆测点和轴承套圈滚道测点之间的距离变化，所述百分表/千分表显示距离变化值。
4、进一步地，大型回转支承径向滚道检测装置还包括用于校准测量表的样圈，所述样圈的内径与基杆测点到轴承套圈滚道测点之间的距离相一致。
5、进一步地，所述轴承套圈滚道为球滚道或v型滚道，活动测头为直测头，定位测头为球测头，定位测头装配至球滚道或v型滚道内定位，活动测头与基杆接触测量。
6、进一步地，所述轴承套圈滚道为直面滚道，定位测头与活动测头均为直测头，定位测头与基杆接触定位，活动测头与直面滚道接触测量。
7、进一步地，所述基杆通过插槽插装连接在测量基座内，插槽为自上而下逐渐收缩的锥形结构，插槽底部设置有用于对基杆限位的顶丝；所述插槽上连通有止转槽，基杆上设置有与止转槽配合的止转块，止转块与止转槽配合对基杆进行周向定位。
8、进一步地，所述测量基座通过螺栓可拆卸连接在卡盘上。
9、进一步地，所述测量基座通过滑道滑动连接在卡盘上并通过螺栓固定。
10、进一步地，所述轴承套圈通过磁力座固定在卡盘上。
11、大型回转支承径向滚道检测装置的检测方法，在卡盘上固定轴承套圈和测量基座，旋转卡盘，加工轴承套圈滚道后，在测量基座内安装基杆，以基杆为检测基准，通过测量表的定位测头和活动测头对基杆测点到轴承套圈滚道测点之间距离进行检测，根据检测结果对轴承套圈滚道再次加工，直至测量表检测值达到预定范围。
12、进一步地，测量表使用前通过样圈对测量表进行校准，样圈的内径与基杆测点到轴承套圈滚道测点之间的距离相一致，使用测量表对样圈内径进行检测并使读数归零。
13、本专利技术的有益效果：本专利技术通过设置于卡盘上的测量基座和基杆作为轴承套圈滚道的测量基准，对加工中的轴承套圈滚道进行在线测量，避免了轴承套圈另行移动测量又重新加工的麻烦，同时能够规避加工与测量过程中温度变化的复杂影响，降低人为和检具等因素导致的测量误差、提高测量精度，简化测量步骤。
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1.大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：包括卡盘，所述卡盘上固定有轴承套圈和对应轴承套圈设置的测量基座，测量基座内可拆卸连接有基杆，所述基杆和轴承套圈之间设置测量表，所述测量表的测杆两端分别为定位测头和活动测头，所述定位测头和活动测头分别与基杆和轴承套圈滚道接触测量。
2.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述测量表包括内径百分表和百分表/千分表，内径百分表的测杆通过定位测头和活动测头测量基杆测点和轴承套圈滚道测点之间的距离变化，所述百分表/千分表显示距离变化值。
3.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：还包括用于校准测量表的样圈，所述样圈的内径与基杆测点到轴承套圈滚道测点之间的距离相一致。
4.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述轴承套圈滚道为球滚道或V型滚道，活动测头为直测头，定位测头为球测头，定位测头装配至球滚道或V型滚道内定位，活动测头与基杆接触测量。
5.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述轴承套圈滚道为
6.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述基杆通过插槽插装连接在测量基座内，插槽为自上而下逐渐收缩的锥形结构，插槽底部设置有用于对基杆限位的顶丝；所述插槽上连通有止转槽，基杆上设置有与止转槽配合的止转块，止转块与止转槽配合对基杆进行周向定位。
7.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述测量基座通过螺栓可拆卸连接在卡盘上或测量基座通过滑道滑动连接在卡盘上并固定。
8.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述轴承套圈通过磁力座固定在卡盘上。
9.如权利要求1-8中任意一项所述的大型回转支承径向滚道检测装置的检测方法，其特征在于：在卡盘上固定轴承套圈和测量基座，旋转卡盘，加工轴承套圈滚道后，在测量基座内安装基杆，以基杆为检测基准，通过测量表的定位测头和活动测头对基杆测点到轴承套圈滚道测点之间距离进行检测，根据检测结果对轴承套圈滚道再次加工，直至测量表检测值达到预定范围。
10.根据权利要求9所述的大型回转支承径向滚道检测装置的检测方法，其特征在于：测量表使用前通过样圈对测量表进行校准，样圈的内径与基杆测点到轴承套圈滚道测点之间的距离相一致，使用测量表对样圈内径进行检测并使读数归零。
...【技术特征摘要】
1.大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：包括卡盘，所述卡盘上固定有轴承套圈和对应轴承套圈设置的测量基座，测量基座内可拆卸连接有基杆，所述基杆和轴承套圈之间设置测量表，所述测量表的测杆两端分别为定位测头和活动测头，所述定位测头和活动测头分别与基杆和轴承套圈滚道接触测量。
2.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述测量表包括内径百分表和百分表/千分表，内径百分表的测杆通过定位测头和活动测头测量基杆测点和轴承套圈滚道测点之间的距离变化，所述百分表/千分表显示距离变化值。
3.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：还包括用于校准测量表的样圈，所述样圈的内径与基杆测点到轴承套圈滚道测点之间的距离相一致。
4.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述轴承套圈滚道为球滚道或v型滚道，活动测头为直测头，定位测头为球测头，定位测头装配至球滚道或v型滚道内定位，活动测头与基杆接触测量。
5.根据权利要求1所述的大型回转支承径向滚道检测装置，其特征在于：所述轴承套圈滚道为直面滚道，定位测头与活动测头均为直测头，定位测头与基杆接触定位，活动测头与直面滚道接触测量。
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：于永刚，张树堃，翟立勇，张鑫磊，牛耀辉，赵玉林，陈文正，张胜余，刘学，张放，吴欢，高秀娥，闫蕊，
申请(专利权)人：瓦房店轴承集团国家轴承工程技术研究中心有限公司，
类型：发明
国别省市：
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