【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种平均波长稳定性筛选检测装置，具体涉及一种超辐射发光二极管光源的平均波长稳定性筛选检测装置。
技术介绍
1、sld光源(超辐射发光二极管光源)是一种光子自发辐射单程受激放大的半导体光源，具有较高的输出功率、窄的光束发散角、宽输出光谱等特点，在光纤陀螺中得到了广泛应用。
2、sld光源的功率、光谱特性对光纤陀螺仪的性能指标有着较大影响，特别是平均波长稳定性，对光纤陀螺仪的标度因数性能影响较大。sld光源的平均波长稳定性一方面受驱动电路影响，一方面由个体器件的材料以及制造过程的差异性决定。光纤陀螺研制过程中，在sld光源装配前，通常采用光谱仪对sld光源的平均波长稳定性进行检测，但由于光谱仪对平均波长的评价与光纤陀螺仪实际应用中的平均波长概念存在差异，光谱仪的检测数据无法直观准确的反映其在光纤陀螺仪上的应用特性；且采用光谱仪测试时，每次只能对一只器件进行测试，且依赖人工，测试效率低。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于sld光源的平均波长稳定性筛选检...
【技术保护点】
1.一种用于SLD光源的平均波长稳定性筛选检测装置，其特征在于：包括光源驱动仪(2)、1×n光开关(5)、敏感环组件(6)、PIN-FET探测器(8)、信号检测电路(3)、转位机构(9)、第一温度控制装置(4)、第二温度控制装置(7)和上位机(1)，其中n为整数，n≥2；所述上位机(1)连接所述转位机构(9)，控制转位机构(9)逆时针转动；通过所述转位机构(9)带动所述光源驱动仪(2)、1×n光开关(5)、敏感环组件(6)、PIN-FET探测器(8)、信号检测电路(3)、第一温度控制装置(4)、第二温度控制装置(7)同步逆时针旋转完成平均波长稳定性筛选检测。
<...【技术特征摘要】
1.一种用于sld光源的平均波长稳定性筛选检测装置，其特征在于：包括光源驱动仪(2)、1×n光开关(5)、敏感环组件(6)、pin-fet探测器(8)、信号检测电路(3)、转位机构(9)、第一温度控制装置(4)、第二温度控制装置(7)和上位机(1)，其中n为整数，n≥2；所述上位机(1)连接所述转位机构(9)，控制转位机构(9)逆时针转动；通过所述转位机构(9)带动所述光源驱动仪(2)、1×n光开关(5)、敏感环组件(6)、pin-fet探测器(8)、信号检测电路(3)、第一温度控制装置(4)、第二温度控制装置(7)同步逆时针旋转完成平均波长稳定性筛选检测。
2.如权利要求1所述的一种用于sld光源的平均波长稳定性筛选检测装置，其特征在于：所述上位机(1)与所述信号检测电路(3)连接，控制所述信号检测电路(3)向所述敏感环组件(6)输出调制信号，同时采集所述pin-fet探测器(8)输出信号，进行解算处理后将结果回传到所述上位机(1)。
3.如权利要求2所述的一种用于sld光源的平均波长稳定性筛选检测装置，其特征在于：所述上位机(1)与1×n光开关(5)连接，控制所述1×n光开关(5)各个通道的通断。
4.如权利要求3所述的一种用于sld光源的平均波长稳定性筛选检测装置，其特征在于：所述上位机(1)与所述光源驱动仪(2)连接，控制所述光源驱动仪(2)输出电流，所述光源驱动仪(2)与待检测sld光源连接，为待检测sld光源提供驱动...
【专利技术属性】
技术研发人员：吕英进，陈和宇，李丽，
申请(专利权)人：北京计算机技术及应用研究所，
类型：发明
国别省市：
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