【技术实现步骤摘要】
本申请涉及产品测试，特别是涉及一种电连接器可靠性分析方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、电连接器是线束和线束之间电连接的基础元件，在电路内被阻断处或孤立不同的电路之间，架起沟通的桥梁，从而实现电流流通，使电路实现预定功能的一类元件。其基本结构主要包括两部分，固定端电连接器，即阴接触件（简称插座），与自由端电连接器，即阳接触件（简称插头）组成，通常插座结构设计成弹性结构或插座内设弹性簧片，弹性簧片主要作用为保证触点紧密接触。电连接器主要应用于工业自动化、电子信息、家用电器等领域。
2、电连接器的可靠性测试是电连接器在研发和使用过程中较为重要的一环，电连接器频发失效故障也是制约行业安全稳定的痛点问题，电连接器的失效模式主要包括电接触失效、绝缘失效、机械连接失效和其它失效，其中电接触失效为最常见的失效。电接触失效为连接器插座和插头之间接触不良，插座弹性结构或弹性簧片发生异常，导致接触电阻发生异常变化，异常发热，出现氧化、烧蚀，断路等现象，严重者损坏绝缘，造成短路着火。标准规定：电连接器两触头间接触电阻发生异常增大时，可认为电连接器失效，如在相关规定中规定接触件插配直径为1mm时，铜合金触头间接触电阻≤5mω，铁合金≤15mω。
3、目前针对电连接器的服役寿命的检测评估常用的方法，主要通过测试电连接器弹性材料试样级样品（弹性材料未加工成产品应用要求的结构尺寸）应力松弛性能规律，进而评估电连接器元件级样品（弹性材料已通过较复杂加工工艺处理制成可直接进行工程应用的结构）的使用可靠性和剩余
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种准确可靠的电连接器可靠性分析方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种电连接器可靠性分析方法。所述方法包括：
3、基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测试类型，测试类型对应于电连接器的使用参数对接触电阻的影响程度；
4、对于待测样品同批次的多个参考样品，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据；
5、根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定待测样品的接触电阻变化规律以及接触电阻最大值；
6、根据接触电阻变化规律和接触电阻最大值，分析待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命。
7、在其中一个实施例中，基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测试类型，包括：
8、在实际使用状态为插拔次数大于预设次数的情况下，确定测试类型为插拔次数测试；
9、在实际使用状态为接触时长大于预设时长的情况下，确定测试类型为接触时长测试；
10、在实际使用状态为插拔次数大于预设次数且接触时长大于预设时长的情况下，确定测试类型为接触时长-插拔次数综合测试。
11、在其中一个实施例中，测试类型为插拔次数测试；相应地，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据，包括：
12、对于任一参考样品，获取测试类型对应的第一预设测试时长；
13、控制任一参考样品处于插合状态并维持第一预设测试时长后，控制任一参考样品处于断开状态，获取任一参考样品在一次插拔后对应的接触电阻；
14、重复上述步骤以获取任一参考样品在每一次插拔后对应的接触电阻，直至任一参考样品处于插合状态时的电信号符合第一预设条件，结束测试。
15、在其中一个实施例中，测试类型为接触时长-插拔次数综合测试；相应地，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据，包括：
16、对于任一参考样品，获取测试类型对应的第二预设测试时长；
17、控制任一参考样品处于插合状态并维持第二预设测试时长后，控制任一参考样品处于断开状态，并获取任一参考样品在一次插拔后且接触时长为第二预设测试时长后对应的接触电阻；
18、基于预设变化规律，更新第二预设测试时长；
19、重复上述步骤以获取任一参考样品在每一次插拔后且接触时长为第二预设测试时长后对应的接触电阻，并在每次获取后更新第二预设测试时长，直至任一参考样品处于插合状态时的电信号符合第二预设条件，结束测试。
20、在其中一个实施例中，根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定待测样品的接触电阻变化规律，包括：
21、根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定每一参考样品的接触电阻与使用参数之间的关系；
22、根据每一参考样品的接触电阻与使用参数之间的关系，确定待测样品的接触电阻与使用参数之间的关系。
23、在其中一个实施例中，根据接触电阻变化规律和接触电阻最大值，分析待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命，包括：
24、获取待测样品的实际接触电阻；
25、在实际接触电阻不大于接触电阻最大值的情况下，确定待测样品的实际可靠性为可靠，并根据实际接触电阻和接触电阻变化规律，计算待测样品的剩余使用寿命。
26、第二方面，本申请还提供了一种电连接器可靠性分析装置。所述装置包括：
27、类型确定模块，用于基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测试类型，测试类型对应于电连接器的使用参数对接触电阻的影响程度；
28、数据获取模块，用于对于待测样品同批次的多个参考样品，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据；
29、规律确定模块，用于根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定待测样品的接触电阻变化规律以及接触电阻最大值；
30、结果分析模块，用于根据接触电阻变化规律和接触电阻最大值，分析待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命。
31、第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
32、基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测试类型，测试类型对应于电连接器的使用参数对接触电阻的影响程度；
33、对于待测样品同批次的多个参考样品，根据测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据；
34、根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定待测样品的接触电阻变化规律以及接触电阻最大值；
35、根据接触电阻变化规律和接触电阻最大值，分析待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命。
36、第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
37、基于待测样品的实际使用状态，确定待测样品的测本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电连接器可靠性分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于待测样品的实际使用状态，确定所述待测样品的测试类型，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试类型为插拔次数测试；相应地，所述根据所述测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试类型为接触时长-插拔次数综合测试；相应地，所述根据所述测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定所述待测样品的接触电阻变化规律，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述接触电阻变化规律和所述接触电阻最大值，分析所述待测样品的实际可靠性以及剩余使用寿命，包括：
7.一种电连接器可靠性分析装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种电连接器可靠性分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于待测样品的实际使用状态，确定所述待测样品的测试类型，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试类型为插拔次数测试；相应地，所述根据所述测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试类型为接触时长-插拔次数综合测试；相应地，所述根据所述测试类型，获取每一参考样品的接触电阻测试数据，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一参考样品的接触电阻测试数据，确定所述待测样品的接触电阻变化规律，包括：
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：张坤，赵环宇，李子阳，赵昊，朱刚，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：
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