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基于失效数据的产品可靠性评价方法、装置和计算机设备制造方法及图纸

技术编号:41064437 阅读:5 留言:0更新日期:2024-04-24 11:17
本申请涉及一种基于失效数据的产品可靠性评价方法、装置和计算机设备。所述方法包括:获取目标产品类型对应的样本产品集,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长;根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号;针对样本产品集中在检测出失效时长之前退出失效检测过程的退出产品,获取各退出产品的检测时长,根据检测时长和失效时长,对初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号;根据各失效产品的校正编号和失效时长,获取目标产品类型的失效间隔时长,根据失效间隔时长对目标产品进行产品可靠性评价。采用本方法能够解决传统可靠性评价方法的不足,比传统方法适用范围更广,评价精度更高。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及计算机,特别是涉及一种基于失效数据的产品可靠性评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。


技术介绍

1、可靠性评价是通过收集系统或单元产品在研制、试验、生产和使用中所产生的可靠性数据,并依据产品的功能或可靠性结构,利用概率统计方法,给出产品的可靠性指标的定量估计。可靠性评价在产品全寿命周期的可靠性工程中占有突出的重要地位,可靠性评价能验证与预测产品的可靠性指标是否满足规定要求,为产品的设计定型以及出厂交付提供重要支撑。

2、传统可靠性评价方法包括基于大失效样本的可靠性评价方法和基于中位秩或者近似中位秩的可靠性评价方法。

3、(1)基于大失效样本的可靠性评价方法

4、基于大失效样本的可靠性评价方法是通过收集所有产品总失效时间,将总失效时间除以总失效数,作为产品的平均故障间隔时间(mtbf),实现对产品可靠性的评价。这种只能适用于所有产品都失效情况,针对高可靠长寿命产品,在试验过程中,如果存在部分产品未失效的情况,即部分产品失效时间未知的情况,那么这种方法只能评价产品mtbf置信下限,即mtbf大于某个值,评价不了产品mtbf的精确值。因此,这种方法的适用范围有限。

5、(2)基于中位秩或者近似中位秩的可靠性评价方法

6、针对存在部分产品未失效的情况,采用基于中位秩或者近似中位秩的可靠性评价方法。这些方法按照时间顺序依次评价失效产品的失效时间对应的可靠度,并进行拟合分析,评价产品的可靠性。

7、目前的产品可靠性评价方法普遍存在适用范围有限,评价精度不高的问题。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高产品可靠性评价精度的基于失效数据的产品可靠性评价方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。

2、第一方面,本申请提供了一种产品可靠性评价方法,包括:

3、获取目标产品类型对应的样本产品集,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长;

4、根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号;

5、针对样本产品集中在检测出失效时长之前退出失效检测过程的退出产品,获取各退出产品的检测时长,根据检测时长和失效时长,对初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号;

6、根据各失效产品的校正编号和失效时长,获取目标产品类型的失效间隔时长,根据失效间隔时长对目标产品进行产品可靠性评价。

7、在其中一个实施例中,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长,包括:

8、获取多个检测时间段,根据多个检测时间段,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得各检测时间段包括的失效产品;

9、根据各检测时间段包括的失效产品的数量,获取各检测时间段包括的各失效产品的失效时长。

10、在其中一个实施例中,根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号,包括:

11、按照失效时长从小到大,对各失效产品进行排序;

12、采用连续正整数对排序结果中的各失效产品添加编号,得到各失效产品的初始编号。

13、在其中一个实施例中,获取各退出产品的检测时长,根据检测时长和失效时长,对初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号,包括:

14、获取各退出产品退出失效检测过程的退出时刻,根据退出时刻获取各退出产品的检测时长;

15、根据各退出产品的检测时长和各失效产品的失效时长之间的大小,对失效产品和退出产品进行排序,根据排序结果确定各产品的正向编号和逆向编号;

16、根据各产品的正向编号和逆向编号,以及样本产品集中的产品总数,获取各失效产品的校正编号。

17、在其中一个实施例中,根据各产品的正向编号和逆向编号,以及样本产品集中的产品总数,获取各失效产品的校正编号,包括:

18、根据各产品的正向编号,在失效产品中确定待校正产品;待校正产品是指失效时长大于最小检测时长的失效产品;

19、根据待校正产品的逆向编号、待校正产品的前一个产品的逆向编号、待校正产品的前一个产品的初始编号以及样本产品集中的产品总数,对待校正产品的初始编号进行校正,得到待校正产品的校正编号;

20、根据失效产品中待校正产品的校正编号,以及其余失效产品的初始编号,得到各失效产品的校正编号。

21、在其中一个实施例中,根据各失效产品的校正编号和失效时长,获取目标产品类型的失效间隔时长,包括:

22、根据预设的可靠度评估模型,以及各失效产品的校正编号,获取各失效产品的可靠度;可靠度评估模型用于表征校正编号与可靠度间的映射关系;

23、根据各失效产品的失效时长和可靠度,对预设的可靠度函数进行拟合,获取可靠度函数中的未知参数;可靠度函数用于表征可靠度、未知参数和失效时长间的函数关系;

24、将未知参数的倒数,作为目标产品类型的失效间隔时长。

25、第二方面,本申请还提供了一种产品可靠性评价装置,包括:

26、获取模块,用于获取目标产品类型对应的样本产品集,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长;

27、编号模块,用于根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号;

28、校正模块,用于针对样本产品集中在检测出失效时长之前退出失效检测过程的退出产品,获取各退出产品的检测时长,根据检测时长和失效时长,对初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号;

29、评价模块,用于根据各失效产品的校正编号和失效时长,获取目标产品类型的失效间隔时长,根据失效间隔时长对目标产品进行产品可靠性评价。

30、第三方面,本申请还提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:

31、获取目标产品类型对应的样本产品集,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长;

32、根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号;

33、针对样本产品集中在检测出失效时长之前退出失效检测过程的退出产品,获取各退出产品的检测时长,根据检测时长和失效时长,对初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号;

34、根据各失效产品的校正编号和失效时长,获取目标产品类型的失效间隔时长,根据失效间隔时长对目标产品进行产品可靠性评价。

35、第四方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:

36、获取目标产品类型对应的样本产品集,对样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长;

37、根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号;

38、针对样本产品集中本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种产品可靠性评价方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取各退出产品的检测时长,根据所述检测时长和所述失效时长,对所述初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据各产品的正向编号和逆向编号,以及所述样本产品集中的产品总数,获取各失效产品的校正编号,包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各失效产品的校正编号和失效时长,获取所述目标产品类型的失效间隔时长,包括:

7.一种产品可靠性评价装置,其特征在于,所述装置包括:

8.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

...

【技术特征摘要】

1.一种产品可靠性评价方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述样本产品集中的各产品进行失效检测,获得样本产品集中失效产品的失效时长,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据失效时长的大小,获取各失效产品的初始编号,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取各退出产品的检测时长,根据所述检测时长和所述失效时长,对所述初始编号进行校正,获得各失效产品的校正编号,包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据各产品的正向编号和逆向编号,以及所述样本产品集中的产品总数,获取各失效产品的校正编号,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:孙立军潘广泽陈勃琛李丹刘文威杨剑锋丁小健王远航纪春阳
申请(专利权)人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室
类型:发明
国别省市:

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