System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种发光二极管制造技术_技高网

一种发光二极管制造技术

技术编号:40119298 阅读:4 留言:0更新日期:2024-01-23 20:24
本发明专利技术涉及半导体技术领域,具体而言,涉及一种发光二极管。该发光二极管包括衬底、缓冲层、N型半导体层、应力释放层、多量子阱发光层和P型半导体层;应力释放层包括在N型半导体层上至少一个周期层叠设置的第一子层和第二子层;第一子层包括掺杂第一杂质的GaN层、未掺杂的GaN层和InGaN层中的至少两种;第二子层为AlGaN层。本发明专利技术通过设置AlGaN层,能提高应力释放层的禁带宽度,提高势垒,极大降低在大电流密度下空穴从V型坑底部穿透到应力释放层的概率;高势垒的存在使得电子进入多量子阱发光层时,电流分布更加均匀;且更高的势垒还增加了对位错屏蔽的效果,降低非辐射复合概率,提高光效。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及半导体,具体而言,涉及一种发光二极管


技术介绍

1、发光二极管((light emitting diode,简为led),可高效地将电能转化为光能,是一种发光器件,通过电子与空穴复合释放能量发光,其在照明、显示器等领域应用广泛。

2、外延片作为led的核心部分,近年来受到越来越多的关注和研究。目前常用的外延片的结构包括:衬底、n型gan半导体层、应力释放层、多量子阱多量子阱发光层和p型gan半导体层。

3、其中,在gan低温生长时ga原子的横向迁移能力较弱,从而容易引发穿透位错形成v型缺陷。v型凹坑作为空穴传输通道,有利于提高空穴电子复合效率。

4、但是,借助v型凹坑空穴传输的作用,在大电流密度下,空穴会从v型坑底部穿透到应力释放层,在应力释放层中与电子发生复合。应力释放层中的禁带宽度与多量子阱发光层的禁带宽度不同,导致此处的发光波长与多量子阱不一致,会导致器件发光集中性变差,发光光谱的半宽变大,光效下降。

5、有鉴于此,特提出本专利技术。


技术实现思路

1、本专利技术的第一目的在于提供一种发光二极管,通过在应力释放层中设置algan层,能够提高应力释放层的禁带宽度,提高势垒,极大的降低在大电流密度下空穴从v型坑底部穿透到应力释放层的概率;高势垒的存在使得电子进入多量子阱发光层时,电流分布更加均匀;同时,更高的势垒还增加了对位错屏蔽的效果,降低非辐射复合概率,提高光效。

2、为了实现本专利技术的上述目的,特采用以下技术方案:

3、本专利技术提供了一种发光二极管,包括衬底,以及在所述衬底表面依次层叠设置的缓冲层、n型半导体层、应力释放层、多量子阱发光层和p型半导体层;

4、其中,所述应力释放层包括在所述n型半导体层上至少一个周期层叠设置的第一子层和第二子层;

5、所述第一子层包括掺杂第一杂质的gan层、未掺杂的gan层和ingan层中的至少两种;

6、所述第二子层为algan层。

7、优选地,所述应力释放层包括在所述n型半导体层上2~5个周期层叠设置的第一子层和第二子层。

8、优选地,所述应力释放层包括依次层叠设置在所述n型半导体层上呈周期性交替生长的掺杂第一杂质的gan层、未掺杂的gan层、ingan层和algan层;

9、或者,所述应力释放层包括依次层叠设置在所述n型半导体层上呈周期性交替生长的掺杂第一杂质的gan层、ingan层和algan层;

10、或者,所述应力释放层包括依次层叠设置在所述n型半导体层上呈周期性交替生长的未掺杂的gan层、ingan层和algan层;

11、或者,所述应力释放层包括依次层叠设置在所述n型半导体层上呈周期性交替生长的掺杂第一杂质的gan层、未掺杂的gan层和algan层。

12、优选地,所述掺杂第一杂质的gan层的厚度为

13、和/或,所述未掺杂的gan层的厚度为

14、和/或,所述ingan层的厚度为

15、和/或,所述algan层的厚度为

16、优选地,所述掺杂第一杂质的gan层中的所述第一杂质包括碳和/或硅;

17、优选地,所述碳的掺杂浓度为1×1017~5×1017atoms/cm3;

18、优选地,所述硅的掺杂浓度为1×1018~5×1018atoms/cm3。

19、优选地,所述第一子层为周期性结构,所述第一子层包括2~5个周期交替层叠设置的掺杂第一杂质的gan层和未掺杂gan层;

20、或者,所述第一子层包括交替层叠设置的掺杂第一杂质的gan层和ingan层;

21、或者,所述第一子层包括交替层叠设置的未掺杂的gan层和ingan层;

22、或者,所述第一子层包括交替层叠设置的掺杂第一杂质的gan层、未掺杂的gan层和ingan层。

23、优选地,所述应力释放层包括第一子层和第二子层,其中,所述第一子层为周期性结构,所述第二子层为单层结构,所述第二子层设置在所述第一子层和所述多量子阱发光层之间。

24、优选地,所述algan层中还掺杂有硅;

25、优选地,所述硅的掺杂浓度为1×1018~5×1018atoms/cm3。

26、优选地,所述n型半导体层包括非掺杂gan层和/或掺杂第二杂质的n型gan层;

27、优选地,所述第二杂质包括si;

28、优选地,所述第二杂质的掺杂浓度为1×1019~5×1019atoms/cm3。

29、优选地,所述p型半导体层包括掺杂第三杂质的p型gan层;

30、优选地,所述第三杂质包括mg;

31、优选地,所述第三杂质的掺杂浓度为1×1019~1×1021atoms/cm3。

32、与现有技术相比,本专利技术的有益效果为:

33、(1)本专利技术所提供的发光二极管,通过在应力释放层中设置algan层,增加了应力释放层处的禁带宽度,提高了势垒,极大地降低了在大电流密度下空穴从v型坑底部穿透到应力释放层的概率,降低发光光谱半宽。高势垒的存在使得电子进入多量子阱发光层时,电流分布更加均匀;同时,更高的势垒还增加了对位错屏蔽的效果,降低了非辐射复合概率,提高了发光效率。

34、(2)本专利技术所提供的发光二极管,通过设置ingan层,该层中的in作为v-pits(v形坑)的起始点,有利于生成v-pits,增加v-pits密度。

35、(3)本专利技术所提供的发光二极管,通过设置掺杂第一杂质的gan层,能充分释放底层应力,为algan层的生长提供低应力的生长基础,提高algan层的长晶质量。

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【技术保护点】

1.一种发光二极管,其特征在于,包括衬底,以及在所述衬底表面依次层叠设置的缓冲层、N型半导体层、应力释放层、多量子阱发光层和P型半导体层;

2.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层的交替周期为2~5个周期。

3.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层包括掺杂第一杂质的GaN层、未掺杂的GaN层和InGaN层中的至少两种。

4.根据权利要求3所述的发光二极管,其特征在于,包含以下特征(1)至(3)中的至少一项:

5.根据权利要求3所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层包括呈周期性交替层叠设置的掺杂第一杂质的GaN层和未掺杂GaN层;

6.根据权利要求3所述的发光二极管,其特征在于,所述掺杂第一杂质的GaN层中的所述第一杂质包括碳和/或硅;

7.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述AlGaN层的厚度为

8.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述AlGaN层中还掺杂有硅;

9.根据权利要求1~8任一项所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层设置在所述N型半导体层上,所述第二子层设置在所述第一子层和所述多量子阱发光层之间。

10.根据权利要求1~8任一项所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层和所述第二子层呈周期性层叠设置;

11.根据权利要求10所述的发光二极管,其特征在于,所述应力释放层包括依次层叠设置在所述N型半导体层上呈周期性交替设置的掺杂第一杂质的GaN层、未掺杂的GaN层、InGaN层和AlGaN层;

12.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述N型半导体层包括非掺杂GaN层和/或掺杂第二杂质的N型GaN层;

13.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述P型半导体层包括掺杂第三杂质的P型GaN层;

...

【技术特征摘要】

1.一种发光二极管,其特征在于,包括衬底,以及在所述衬底表面依次层叠设置的缓冲层、n型半导体层、应力释放层、多量子阱发光层和p型半导体层;

2.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层的交替周期为2~5个周期。

3.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层包括掺杂第一杂质的gan层、未掺杂的gan层和ingan层中的至少两种。

4.根据权利要求3所述的发光二极管,其特征在于,包含以下特征(1)至(3)中的至少一项:

5.根据权利要求3所述的发光二极管,其特征在于,所述第一子层包括呈周期性交替层叠设置的掺杂第一杂质的gan层和未掺杂gan层;

6.根据权利要求3所述的发光二极管,其特征在于,所述掺杂第一杂质的gan层中的所述第一杂质包括碳和/或硅;

7.根据权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,所述algan层的厚...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱涛程志青芦玲
申请(专利权)人:淮安澳洋顺昌光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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