本申请涉及一种检测对位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。其方法通过目标相机识别目标对象的第一特征点，获取第一特征点的第一三维信息，根据第一三维信息确定第一空间平面，并使第一空间平面与预设的第一平面垂直，然后识别目标对象的第二特征点，获取第二特征点的第二三维信息，根据第二三维信息确定第二空间平面，并使第二空间平面与预设的第二平面垂直，再次识别目标对象的第三特征点，获取第三特征点的第三三维信息，进而将目标特征点的高度调整为预设高度，以对齐目标相机的图像中心点与目标对象的光学中心点，从而确保相机图像中心与目标对象光学中心两个点的高度差在很小的范围，实现三维高精度地对齐。
【技术实现步骤摘要】
本申请涉及视觉检测，特别是涉及一种针对空间目标点的检测对位方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
1、随着视觉检测技术的进步，基于空间目标点的检测对位也从二维高精度向三维高精度发展，而当前针对空间目标点的检测对位技术无法在高度上精准地对齐。
2、例如，以ar(augment reality，增强现实)设备的光学性能检测为例，通常需要提前将相机图像中心与ar设备光学中心点对齐，且需要保持相机图像中心与ar设备光学中心两个点的高度差在很小的范围，而当前的技术无法在高度上精准地对齐，从而影响了测试结果的准确性。
3、因此，目前亟需一种能够实现三维高精度的针对空间目标点的检测对位方式，使其能够高度上精准对齐。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够实现三维高精度的针对空间目标点的检测对位方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
2、第一方面，本申请提供了一种检测对位方法，所述方法包括：
>3、通过目标相机识本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种检测对位方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一三维信息确定第一空间平面，调整所述第一空间平面，以使所述第一空间平面与预设的第一平面垂直，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一空间平面与所述第一平面的第一夹角，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一夹角的第一偏移方向，包括：
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二三维信息确定第二空间平面，调整所述第二空间平面，以使所述第二空间平面与预设的第二平面垂...
【技术特征摘要】
1.一种检测对位方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一三维信息确定第一空间平面，调整所述第一空间平面，以使所述第一空间平面与预设的第一平面垂直，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一空间平面与所述第一平面的第一夹角，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述第一夹角的第一偏移方向，包括：
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二三维信息确定第二空间平面，调整所述第二空间平面，以使所述第二空间平面与预设的第二平面垂直，包括：
6.根据权利要求1至4任一项所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：任将，李宇杰，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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