一种集成电路老化板制造技术

本技术公开了一种集成电路老化板，包括:老化板本体，收集盒，所述收集盒设置于老化板本体的外壁，所述收集盒的外壁安装有合页，所述合页的外壁安装有盖板，所述收集盒的外壁安装有电机，所述电机的输出端安装有破碎轴，所述收集盒的外壁安装有电路箱，所述电路箱的外壁安装有控制面板。本技术通过安装有收集盒，使得盖板不对收集盒进行密封，将检测完成后失效的产品放入收集盒中收纳，当收集盒中的失效产品较多时无法进行继续放置，盖板对收集盒进行密封，电机工作带动破碎轴转动，对收集盒中的失效产品进行破碎，使得收集盒中可继续放置更多的失效产品，进而方便对失效产品通过收集盒进行收集，无需工作人员后期对失效产品进行收集。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及老化板，具体为一种集成电路老化板。

技术介绍

1、老化实验是对产品进行老化测试，而老化测试就是在高温下，长时间用高于操作电源电压的高电压加到存储器晶体管的控制极上，使器件中每个单元承受过度的负荷，尽早地暴露出器件中的缺陷，从而检测出有缺陷的器件，而在老化测试中需要使用到老化板，且该老化板为集成电路，集成电路是电路小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

2、专利文件cn216848043u公开了一种老化测试板，保护的权项“包括：支撑板，所述支撑板沿厚度方向设置有至少一个通孔，所述通孔包括第一端和第二端，所述通孔的内壁上设置有第一锁扣部；至少一个测试线，所述测试线包括连接部本体、第二锁扣部以及测试接口，所述测试接口从所述连接部本体的一端向外延伸，所述第二锁扣部设置在所述连接部本体的侧面，当所述连接部本体所述测试接口所在的一端从所述第一端插入所述通孔时，所述第二锁扣部与所述第一锁扣部可拆卸本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种集成电路老化板，其特征在于，包括:

2.根据权利要求1所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述测试座(2)的外壁设有多组测试槽(3)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述测试座(2)的外壁设有两组孔洞(11)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述孔洞(11)的内壁安装有第一磁铁(12)。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述第一磁铁(12)的外壁安装有第二磁铁(13)，所述第二磁铁(13)的外壁安装有柱体(14)，所述柱体(14)的外壁安装有挡板(15)。...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路老化板，其特征在于，包括:

2.根据权利要求1所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述测试座(2)的外壁设有多组测试槽(3)。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述测试座(2)的外壁设有两组孔洞(11)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路老化板，其特征在于：所述孔洞(11)的内壁安装有第一磁铁(12)。

5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：周际梁，谭红英，
申请(专利权)人：深圳市众鸣电子有限公司，
类型：新型
国别省市：