【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种元器件表面缺陷自动检测系统，属于元器件检测。
技术介绍
1、随着现代制造业的快速发展，制造业各个领域对电子元器件的外观质量提出了越来越高的要求，电子元器件外观缺陷检测设备成为电子制造业中不可或缺的重要工具。电子元器件外观缺陷检测设备主要通过机械、电子、光学成像、图像处理等技术手段，对电子元器件表面的凹陷、划痕、腐蚀、缺损等缺陷进行检测，筛选出合格的元器件，确保元器件的质量和可靠性。
2、目前，电子元器件外观检测设备的上料方式主要为振动盘上料、机械臂上料以及托盘装载元器件上料。其中，振动盘上料存在易对精密元器件造成非必要的额外损伤的缺陷；机械臂上料存在成本昂贵的缺陷；托盘上料存在需要人工收集、转运托盘，自动化程度低，易造成因人工收集、转运托盘不及时而导致设备故障等缺陷。
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种元器件表面缺陷自动检测系统，能够解决现有技术的电子元器件外观检测设备无法实现托盘在上料模块和下料模块之间被自动转运，导致浪费人力、容易造成人为故障的问题。
2、本专利技术提供了一种元器件表面缺陷自动检测系统，包括：
3、检测模块，用于检测元器件的表面缺陷；
4、上料模块，设于所述检测模块的一侧，所述上料模块包括上料托盘和上料机构，所述上料机构用于将所述上料托盘中的元器件运送至所述检测模块；
5、下料模块，设于所述检测模块的另一侧，所述下料模块包括下料托盘和下料机构，所述下料机构用于将所述检测模块检测合格
6、托盘运输模块，设于所述上料机构和所述下料机构之间，用于将卸载完元器件的上料托盘作为下料托盘运送至所述下料机构处。
7、可选地，所述元器件表面缺陷自动检测系统还包括机架，所述机架设于地面上，所述检测模块、上料模块、下料模块和托盘运输模块均设于所述机架上；
8、可选地，所述托盘运输模块包括：
9、导向机构，设于机架上，且位于所述上料机构和所述下料机构之间；
10、驱动机构，滑动设于所述导向机构上，用于驱动卸载完元器件的上料托盘沿所述导向机构移动至所述下料机构处。
11、可选地，所述导向机构包括：
12、托盘中转架，设于机架上，且位于所述上料模块和所述下料模块之间；
13、第一导轨，设于所述上料机构和所述托盘中转架之间；
14、第二导轨，设于所述下料机构和所述托盘中转架之间；
15、所述驱动机构设于所述第一导轨和所述第二导轨上，用于驱动卸载完元器件的上料托盘沿所述第一导轨移动至所述托盘中转架上，并驱动所述托盘中转架中的托盘沿所述第二导轨移动至所述下料机构处。
16、可选地，所述驱动机构包括两个驱动组件，两个所述驱动组件分别滑动设于所述第一导轨和所述第二导轨上；
17、所述驱动组件包括：
18、水平驱动件，分别滑动设于所述第一导轨和所述第二导轨上，用于驱动所述托盘水平移动；
19、竖直驱动件，设于所述水平驱动件上，用于驱动所述托盘竖直移动。
20、可选地，所述元器件表面缺陷自动检测系统还包括：
21、托盘取放模块，设于所述机架上、且位于所述上料机构和/或所述下料机构的一侧，用于堆叠放置多个托盘，并依次从堆叠放置的托盘中取出托盘或向堆叠放置的托盘中加入托盘；所述托盘为所述上料托盘或所述下料托盘。
22、可选地，所述托盘取放模块包括：
23、托盘架，设于所述机架上，用于堆叠放置多个托盘；
24、取放组件，设于所述机架上，用于将位于所述托盘架中最下层的托盘从堆叠放置的托盘中依次分离出来，或向堆叠放置的托盘下方依次加入托盘。
25、可选地，所述托盘侧面设有卡槽；
26、所述取放组件包括：
27、卡扣，其一端与所述卡槽卡接；
28、弹簧，其一端固设于所述机架上，另一端与所述卡扣远离所述卡槽的一端连接，所述弹簧保持压缩状态；
29、所述驱动机构驱动所述托盘向上运动对堆叠放置的托盘施加向上的力以顶开所述卡扣，并使所述托盘的卡槽与所述卡扣卡接。
30、可选地，当所述取放组件位于所述上料机构的一侧时，所述取放组件还包括：
31、顶柱，竖直设于所述卡扣的下方，其顶端与所述卡扣靠近所述卡槽的一端对准；
32、驱动设备，其固定端设于所述机架上，其活动端与所述顶柱的底端连接，用于带动所述顶柱向上运动，以将所述卡扣从所述卡槽中顶出；或带动所述顶柱向下运动，以使所述卡扣与所述卡槽卡接。
33、可选地，所述上料机构和所述下料机构均包括：
34、取放件，设于所述检测模块的一侧，用于取放所述托盘和所述检测模块上的所述元器件；
35、移动组件，设于所述机架上、且与所述取放件连接，用于带动所述取放件在所述托盘和所述检测模块之间移动。
36、可选地，所述移动组件包括：
37、竖直升降部，与所述取放件连接，用于带动所述取放件竖直移动；
38、水平移动部，设于机架上、且与所述竖直升降部连接，用于带动所述竖直升降部水平移动。
39、可选地，所述取放件为吸嘴。
40、可选地，所述检测模块包括：
41、检测台，可旋转地设于所述机架上，用于放置待检测的元器件；
42、视觉检测仪器，设于所述检测台的边缘，用于检测所述元器件的表面缺陷。
43、可选地，所述视觉检测仪器包括：
44、ccd相机，设于所述检测台的边缘，用于检测所述元器件的表面缺陷；
45、光源，设于所述ccd相机的一侧，用于为所述ccd相机提供光源；
46、相机位移组件，设于所述机架上、且与所述ccd相机连接，用于调节所述ccd相机的检测位置。
47、可选地，所述元器件表面缺陷自动检测系统还包括：
48、控制模块，分别与所述检测模块、所述上料模块、所述下料模块和所述托盘运输模块均连接，用于控制所述检测模块、所述上料模块、所述下料模块和所述托盘运输模块工作。
49、本专利技术能产生的有益效果包括：
50、本专利技术通过在上料模块和下料模块之间设置托盘运输模块，实现了自动将卸载完元器件的上料托盘从上料模块运送处至下料模块处供下料模块使用，无需人工收集和转运空置托盘，降低了对人力消耗和人为故障的发生率，提高了检测的自动化程度。
51、本专利技术通过在上料模块和下料模块一侧设置托盘取放模块，实现了多个托盘堆叠起来集中上下料，增加了一次上下料的托盘数量，进一步节省了人力，提高了检测工作效率和检测自动化程度。
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1.一种元器件表面缺陷自动检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括机架，所述机架设于地面上，所述托盘运输模块设于所述机架上；
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述导向机构包括：
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述驱动机构包括两个驱动组件，两个所述驱动组件分别滑动设于所述第一导轨和所述第二导轨上；
5.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，还包括：
6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述托盘取放模块包括：
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述托盘侧面设有卡槽；
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，当所述取放组件位于所述上料机构的一侧时，所述取放组件还包括：
9.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述检测模块包括：
10.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：
【技术特征摘要】
1.一种元器件表面缺陷自动检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括机架，所述机架设于地面上，所述托盘运输模块设于所述机架上；
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述导向机构包括：
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述驱动机构包括两个驱动组件，两个所述驱动组件分别滑动设于所述第一导轨和所述第二导轨上；
5.根据权利要求2所述的系统...
【专利技术属性】
技术研发人员：谢汶浚，赵振宇，刘如意，谢尚策，柏苑，何天琦，张洁华，王亦庶，
申请(专利权)人：光子集成温州创新研究院，
类型：发明
国别省市：
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