【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种元器件外观检测装置，属于器件外观检测。
技术介绍
1、随着现代制造业的快速发展，制造业各个领域对元器件的外观质量提出了越来越高的要求。元器件外观缺陷检测设备主要通过机械、电子、光学成像、图像处理等技术手段，对元器件表面的凹陷、划痕、腐蚀、缺损等缺陷进行检测，筛选出合格的元器件，确保元器件的质量和可靠性。
2、目前，元器件外观检测设备主要是通过相机对元器件的六面进行拍照来完成检测。具体的，待检测件通过进料振动盘散落在玻璃环上，玻璃环匀速绕着中心旋转。玻璃环为透明玻璃，玻璃环外围分布三台相机，用于检测元器件左、右、前侧三表面外观。玻璃环内环分布一台相机，用于检测元器件后侧表面外观。垂直玻璃环上侧分布一台相机，用于检测元器件上表面。隔着玻璃下侧分布一台相机，用于检测元器件下表面。
3、然而上述元器件外观检测设备通常存在以下问题：(1)工位之间干扰大，特别是反光影响大，无法做元器件表面划痕检测；(2)元器件散落在玻璃环上，因为没有定位装置，因而待检测件方向不固定，各个工位相机的成像面画面变化跳动很大，难以做到精确识别。(3)对相机要求很高，特别是后侧相机；因为设置在玻璃环内部，其空间有限，需要精密镜头才能适应。(4)出料困难；出料需要使用气杆将待检测件从玻璃环上推出。在这个过程中，因为不可避免的会和玻璃表面摩擦，从而导致玻璃环磨损。(5)由于圆环运动，左右侧相机是难以捕捉合适的位置的。由于工位相机拍照需要传感器触发，而传感器触发到相机拍摄存在一定的时间误差，因而难以保证相机能在合适的时间捕捉到检
技术实现思路
1、本专利技术提供了一种元器件外观检测装置，能够解决现有检测装置成像质量差，从而影响检测效果的问题。
2、本专利技术提供了一种元器件外观检测装置，所述装置包括：
3、传输模块，包括基座和设置在所述基座上的传输带；
4、多个检测台，成排设置在所述传输带上，所述检测台用于承载待检测的元器件；所述传输带用于带动多个所述检测台移动；
5、上料模块，设置在所述传输模块的上料区的一侧，用于向移动到所述上料区的检测台提供待检测的元器件；
6、检测模块，设置在基座上，用于对检测台上的元器件进行六面检测。
7、可选的，所述检测台包括：
8、支架单元，设置在所述传输带上；
9、承载单元，连接在所述支架单元上，用于承载待检测的元器件，所述承载单元的承载面与水平面呈预设夹角。
10、可选的，所述支架单元包括：
11、角度调节器，设置在所述传输带上；
12、支撑杆，连接在所述角度调节器上，所述角度调节器用于调节所述支撑杆的倾斜角度。
13、可选的，所述承载单元包括：
14、托盘，连接在所述支撑杆远离所述角度调节器的一端；所述托盘的倾斜角度与所述支撑杆的倾斜角度一致；
15、挡板，连接在所述托盘远离所述角度调节器的一端，用于对所述托盘上的元器件进行限位。
16、可选的，所述挡板包括底壁和连接在所述底壁相对两边缘上的两个侧壁；所述侧壁与所述底壁的夹角为钝角；所述底壁的宽度与所述元器件的尺寸相适配。
17、可选的，每个所述检测台上均设置有触发件；所述检测模块包括：
18、多个图像采集件，均分布在所述基座上，用于采集检测台上的元器件的六面图像；
19、多个传感件，设置在所述基座上；所述传感件与所述图像采集件一一对应；所述触发件用于触发所述传感件，以使所述传感件向与其对应的图像采集件发送采集控制信息。
20、可选的，所述装置还包括：
21、下料模块，设置在所述传输模块的下料区的一侧，用于对移动到所述下料区的检测台上的元器件进行分类回收。
22、可选的，所述装置还包括：
23、控制模块，与所述检测模块和所述下料模块均连接，用于根据所述检测模块的检测结果，控制所述下料模块对元器件进行分类回收。
24、可选的，所述下料模块包括：
25、分类单元，设置在所述传输模块的下料区的下方；
26、三个收集料斗，并排设置在所述分类单元的下方，用于分别收集不同检测结果的元器件；
27、所述控制模块用于根据所述检测模块的检测结果，向所述分类单元发送分类控制信息，以控制所述分类单元将移动到所述下料区的检测台上的元器件分类至对应的收集料斗中。
28、可选的，所述分类单元包括：
29、分类导轨，设置在所述传输模块的下料区的下方，用于承接移动到所述下料区的检测台上的元器件；
30、驱动电机，与所述分类导轨连接，用于根据所述分类控制信息驱动所述分类导轨倾斜转动，以使所述分类导轨上的元器件掉落到对应的收集料斗中。
31、可选的，所述传输带为链板输送带。
32、可选的，所述触发件为磁铁，所述传感件为霍尔传感器。
33、本专利技术能产生的有益效果包括：
34、(1)本专利技术提供的元器件外观检测装置，通过在传输带上成排设置多个检测台，利用传输带带动检测台移动，以便检测模块对检测台上的元器件进行六面检测。本专利技术使用线性工位布置，因而理论上工位个数不受空间限制，可以超过6个工位以上；并且相对于环形布置而言，不会因为弧度运动导致相机图像采集不及时而变形失真；同时由于各工位之间存在间隔，因而相对环形结构可以避免因为补光灯相互干扰引发成像干扰，并且由于拥有更充足的作业区间，对于图像采集件(如相机)摆放拥有更大的自由度，因而对于图像采集件的焦距、最小工作距离等要求更低。
35、(2)本专利技术提供的元器件外观检测装置，通过使用带倾角的透明托盘承载元器件，可以对元器件定位后进行六个方向检测。由于采用自定位方式只进行一次元器件定位，之后所有的工位操作均在这一次定位的基础上进行，因此定位精度很高，在进行图像采集的时候，不会因为定位误差导致识别误差的产生，保证了成像质量。并且由于在上料过程中只进行了一次自定位操作，因而在运行过程中可以实行不减速运行，速度极快。
36、(3)本专利技术提供的元器件外观检测装置，结构简单，设备加工容易，因而整机设备制造成本低。由于没有引入机械手，气缸等自动化设备，因而能耗低，设备磨损成本低，很适合小成本的元器件缺陷检测。
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1.一种元器件外观检测装置，其特征在于，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测台包括：
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述支架单元包括：
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述承载单元包括：
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述挡板包括底壁和连接在所述底壁相对两边缘上的两个侧壁；所述侧壁与所述底壁的夹角为钝角；所述底壁的宽度与所述元器件的尺寸相适配。
6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，每个所述检测台上均设置有触发件；所述检测模块包括：
7.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述下料模块包括：
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述分类单元包括：
【技术特征摘要】
1.一种元器件外观检测装置，其特征在于，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述检测台包括：
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述支架单元包括：
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述承载单元包括：
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述挡板包括底壁和连接在所述底壁相对两边缘上的两个侧壁；所述侧壁与所述底壁的夹角为钝角；所述底壁的宽...
【专利技术属性】
技术研发人员：张泽，臧春和，谢尚策，秦昆文，
申请(专利权)人：光子集成温州创新研究院，
类型：发明
国别省市：
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