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本发明公开了一种元器件外观检测装置，属于器件外观检测技术领域，能够解决现有检测装置成像质量差，从而影响检测效果的问题。所述装置包括：传输模块，包括基座和设置在基座上的传输带；多个检测台，成排设置在传输带上，检测台用于承载待检测的元器件；传输...
该专利属于光子集成（温州）创新研究院所有，仅供学习研究参考，未经过光子集成（温州）创新研究院授权不得商用。

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