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【技术实现步骤摘要】
本申请涉及存储装置测试,特别是涉及存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、存储装置在制作完成后,需要进行相关的测试,以检测存储装置的性能。其中,数据保持能力是衡量存储装置的重要指标。
2、因此,如何解决测试存储装置的保持数据能力是一个亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本申请提供了存储装置的测试方法、测试装置及计算机可读存储介质,能够实现对存储装置的数据保持能力评估,进而能够筛选出数据保持能力不合格的存储装置,提升存储装置的品质。
2、第一方面,本申请提供一种存储装置的测试方法,该方法包括:在当前环境温度到达预设温度时,向存储装置进行写操作,以写入第一目标数据;在第一目标数据写入完成后,向存储装置发送关闭刷新指令,以使存储装置关闭数据刷新功能;在到达预设时长后,读取第一目标数据,得到第二目标数据;基于第一目标数据和第二目标数据进行比较,得到比较结果;基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估,得到存储装置对应的评估结果。
3、其中,在得到存储装置对应的评估结果之后,调节预设温度;并再次执行在当前环境温度到达预设温度时,向存储装置进行写操作,以写入第一目标数据的步骤。
4、其中,多次调节预设温度,并在每次调节预设温度后,得到调节后的预设温度对应的评估结果;基于多个评估结果确定出最佳温度。
5、其中,在得到存储装置对应的评估结果之后,调节预设时长,并再次执行向存储装置进行写操作,以写入第一目
6、其中,调节预设时长包括:确定初始预设时长;若预设时长大于初始预设时长,则增加预设时长;若预设时长小于初始预设时长,则减少预设时长。
7、其中,多次调节预设时长,并在每次调节预设时长后,得到调节后的预设时长对应的评估结果;基于多个评估结果确定出当前环境温度下的最佳预设时长。
8、其中,存储装置包括第一存储装置和第二存储装置,第一存储装置为良品,第二存储装置为不良品;基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估,得到存储装置对应的评估结果,包括:基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估,分别得到第一存储装置和第二存储装置对应的评估结果。
9、第二方面,本申请提供一种测试装置,该测试装置用于测试存储装置,测试装置包括:温度检测组件,用于检测当前环境温度;通信接口,用于与存储装置连接;控制器,分别与温度检测组件和通信接口连接,用于接收当前环境温度,以及在当前环境温度到达预设温度时,通过通信接口向存储装置进行写操作,以写入第一目标数据;在第一目标数据写入完成后,向存储装置发送关闭刷新指令,以使存储装置关闭数据刷新功能;在到达预设时长后,读取第一目标数据,得到第二目标数据;基于第一目标数据和第二目标数据进行校对,得到校对结果;基于预设温度、预设时长和校对结果进行数据保持能力评估,得到存储装置对应的评估结果。
10、其中,控制器包括寄存器,寄存器用于存储关闭刷新指令。
11、第三方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,计算机程序在被处理器执行时,实现如第一方面提供的方法。
12、本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请提供的存储装置的测试方法,该方法通过在当前环境温度到达预设温度时,向存储装置进行写操作,以写入第一目标数据;在第一目标数据写入完成后,向存储装置发送关闭刷新指令,以使存储装置关闭数据刷新功能;在到达预设时长后,读取第一目标数据,得到第二目标数据;基于第一目标数据和第二目标数据进行比较,得到比较结果;基于预设温度、预设时长和比较结果进行数据保持能力评估,得到存储装置对应的评估结果的方式,能够在关闭存储装置的数据刷新功能的情况下,实现对存储装置的数据保持能力评估,进而能够筛选出数据保持能力不合格的存储装置,提升存储装置的品质。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种存储装置的测试方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在得到所述存储装置对应的评估结果之后,调节所述预设温度;并再次执行所述在当前环境温度到达预设温度时,向所述存储装置进行写操作,以写入第一目标数据的步骤。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,多次调节所述预设温度,并在每次调节所述预设温度后,得到调节后的所述预设温度对应的评估结果;
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在得到所述存储装置对应的评估结果之后,调节所述预设时长,并再次执行所述向所述存储装置进行写操作,以写入第一目标数据的步骤;
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述调节所述预设时长包括:
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,多次调节所述预设时长,并在每次调节所述预设时长后,得到调节后的所述预设时长对应的评估结果;
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述存储装置包括第一存储装置和第二存储装置,所述第一存储装置为良品,所述第二存储装置为不良品;所述基于所述预设温度、所述预设
8.一种测试装置,其特征在于,所述测试装置用于测试存储装置,所述测试装置包括:
9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于,所述控制器包括寄存器,所述寄存器用于存储所述关闭刷新指令。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序在被处理器执行时,实现如权利要求1-7任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种存储装置的测试方法,其特征在于,所述方法包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在得到所述存储装置对应的评估结果之后,调节所述预设温度;并再次执行所述在当前环境温度到达预设温度时,向所述存储装置进行写操作,以写入第一目标数据的步骤。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,多次调节所述预设温度,并在每次调节所述预设温度后,得到调节后的所述预设温度对应的评估结果;
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在得到所述存储装置对应的评估结果之后,调节所述预设时长,并再次执行所述向所述存储装置进行写操作,以写入第一目标数据的步骤;
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述调节所述预设时长包括:
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄健华,刘小龙,
申请(专利权)人:中山市江波龙电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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