基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法技术

本发明专利技术涉及机械检测技术领域，尤其涉及一种基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，通过引入基于历史告警数据的多过程域特征抽取和基于这些特征建模的知识图谱，实现隐藏因果关系发现和因果关系比重评估，在此基础上，构建告警知识图谱，融合专家经验知识图谱，得到参量定位知识图谱，针对实时告警数据，分析其数据特征并在对应传感器的知识图谱上定位节点，通过告警因果关系，获取根因定位结果以发现影响传感器精度不合格的参量。本技术方案实现了针对实时告警数据的告警根因定位，可依此加强对影响较大过程域的地面测试的把关，对保证试飞成功率具有重要的意义和价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械检测，尤其涉及一种基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法。

技术介绍

1、飞机任务传感器负责飞机上各个系统数据的采集汇总，这些数据可以被用于分析飞机的运行状态。在飞机试飞前的各个阶段中，均需要进行系统级的大量测试，通过任务传感器采集的数据会被用作下一阶段的研发依据，并对系统强度、可靠性和性能等进行测试。然而，在实际应用，受到传感器个体差异、环境变化、噪声干扰和老化程度等因素的影响，传感器的精度会发生变化。利用各个阶段的测试数据对试飞时各系统传感器精度是否达标进行预判，可以提高各系统的试飞合格率。各个阶段的测试数据也被称为多过程域数据，当飞机处于不同过程域时，其传感器精度也会因为所处环境与工况的不同而发生变化，从而严重影响测试精度，而目前对于各个过程域数据的影响问题，还没有一个统一可靠的判断方法，对此，也在一定程度上影响了飞机试飞成功率。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于针对飞机各过程域的任务传感器精度不同对最终测试精度产生较大影响的问题，提出一种基于知识图谱的传感器精度不合格影本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤S3中，构建经验知识图谱包括以下步骤：

3.如权利要求1所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤S3中，构建告警知识图谱包括以下步骤：

4.如权利要求3所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤S3中，构建告警知识图谱还包括步骤S32-5，即结合专家经验和因果关系比重对告警知识图谱进行修订。

5.如权利要求3所述基...

【技术特征摘要】

1.基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.如权利要求1所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤s3中，构建经验知识图谱包括以下步骤：

3.如权利要求1所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤s3中，构建告警知识图谱包括以下步骤：

4.如权利要求3所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤s3中，构建告警知识图谱还包括步骤s32-5，即结合专家经验和因果关系比重对告警知识图谱进行修订。

5.如权利要求3所述基于知识图谱的传感器精度不合格影响参量定位方法，其特征在于，所述步骤s3中...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾苏凡，迟鹏飞，陈波，彭宇，莫文静，沈龙文，王晓，尹琦，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：