【技术实现步骤摘要】
本技术涉及存储芯片测试领域，特别是涉及一种存储芯片老化测试系统。
技术介绍
1、存储芯片在量产出货之前需要进行老化测试，以筛选出产品质量较差的芯片。存储芯片在老化测试过程中，通过人工监视led(light emitting diode，发光二极管)灯的测试状态来判断测试是否完成。现有技术中，通过设置充足的时间以进行一批次存储芯片的老化测试，然后集中进入下个测试站点进行老化测试结果的筛查。人工监视的方式容易出现误判的情况，导致未测试完成的存储芯片流入到下个测试站，降低了测试良率，影响生产效率。因此存在待改进之处。
技术实现思路
1、鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种存储芯片老化测试系统，以解决现有技术中老化测试的测试良率较低，生产效率低下的问题。
2、为实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种存储芯片老化测试系统，包括：
3、测试装置，其包括：
4、安装座，以安装待测芯片；
5、老化测试板，电性连接于所述待测芯片；以及>
6、高温箱体本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种存储芯片老化测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括温度监测界面单元，所述温度监测界面单元电性连接于所述检测装置。
3.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括电源输出监测单元，所述电源输出监测单元电性连接于所述检测装置。
4.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括控制操作单元，所述控制操作单元电性连接于所述控制装置。
5.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述老...
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片老化测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括温度监测界面单元，所述温度监测界面单元电性连接于所述检测装置。
3.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括电源输出监测单元，所述电源输出监测单元电性连接于所述检测装置。
4.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述显示装置还包括控制操作单元，所述控制操作单元电性连接于所述控制装置。
5.根据权利要求1所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，所述老化测试板上设有多个所述安装座，每个所述安装座用以安装一个所述待测芯片。
6.根据权利要求5所述的存储芯片老化测试系统，其特征在于，每个所述安装座电性连接于所述检...
【专利技术属性】
技术研发人员：张帆，许展榕，赖志铭，陈四平，周章菊，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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